导电性膜形成用银合金溅射靶及其制造方法技术

技术编号:9147350 阅读:167 留言:0更新日期:2013-09-12 09:21
本发明专利技术提供一种导电性膜形成用银合金溅射靶及其制造方法,本发明专利技术的溅射靶的一种形态具有包含0.1~1.5质量%的In且剩余部分由Ag及不可避免杂质构成的成分组成,并且合金晶粒的平均粒径在30μm以上且小于150μm,所述晶粒的粒径的偏差在平均粒径的20%以下。本发明专利技术的溅射靶的制造方法的一种形态为在具有所述成分组成的熔炼铸锭上依次实施热轧工序、冷却工序及机械加工工序,在所述热轧工序中,以每1道次的压下率为20~50%、应变速度为3~15/sec、及道次后的温度为400~650℃的条件进行1道次以上的精热轧,在所述冷却工序中,以200~1000℃/min的冷却速度进行淬冷。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:小见山昌三船木真一小池慎也奥田圣
申请(专利权)人:三菱综合材料株式会社
类型:
国别省市:

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