一种GaN基发光二极管外延结构的生长方法技术

技术编号:8981424 阅读:172 留言:0更新日期:2013-07-31 23:29
本发明专利技术公开一种GaN基发光二极管外延结构的生长方法,该外延结构从下向上的顺序依次为:衬底、低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、N型GaN层、浅量子阱层、发光量子阱层、低温P型GaN层、PAlGaN电流阻挡层、高温P型GaN层和P型接触层,所述浅量子阱层包括多个依次交叠的量子阱结构,所述量子阱结构由InxGa1-xN势阱层,其中0

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及GaN基发光二极管(LED)材料制备
,特别涉及一种GaN基发光二极管浅量子阱层的外延生长方法。_
技术介绍
氮化镓基InGaN/GaN多量子阱发光二极管外延层生长过程中,由于晶格失配及外延层薄膜沉积缺陷等原因,GaN基发光二极管材料在生长过程中会产生应力。有源层中的内应力会影响到外延片的内量子效率及外延片的亮度,同时还会影响到抗静电能力。典型的外延层结构中,浅阱层介于N型氮化镓层与发光量子阱层之间,该层在外延生长中有很大作用。对于浅阱层,不同的生长方法会起到不同的作用,最重要的作用如释放结晶过程中的应力,改善晶体质量等
技术实现思路
·本专利技术针对上述现有技术中存在的问题,提供,更好的改善晶体质量,改进发光效率,提高亮度。本专利通过在外延浅阱层中,采用渐变式生长速率进行外延生长浅阱层,主要方法为选择不同的镓源及选择使用不同的摩尔量。该生长方法可以改善多量子阱表面形貌,减少V型缺陷,改善晶体质量,减小漏电,改善Vz ;同时该生长方法可以缓解外延生长过程中由于晶格失配产生的应力,大幅度提高外延片的亮度,改进LED发光效率。鉴于以上,本专利特别提供一种氮化镓基发光二极本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种GaN基发光二极管外延结构的生长方法,该外延结构从下向上的顺序依次为:衬底、低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、N型GaN层、浅量子阱层、发光量子阱层、低温P型GaN层、PAlGaN电流阻挡层、高温P型GaN层和P型接触层,其特征在于,所述浅量子阱层包括多个依次交叠的量子阱结构,所述量子阱结构由InxGa1?xN势阱层,其中0

【技术特征摘要】
1.一种GaN基发光二极管外延结构的生长方法,该外延结构从下向上的顺序依次为:衬底、低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、N型GaN层、浅量子阱层、发光量子阱层、低温P型GaN层、PAlGaN电流阻挡层、高温P型GaN层和P型接触层,其特征在于,所述浅量子阱层包括多个依次交叠的量子阱结构,所述量子阱结构由InxGahN势阱层,其中0〈χ〈1和GaN势垒层依次生长而成,所述GaN势垒层采用渐变式生长速率进行生长,Ga源使用TMGa或TEGa进行外延生长。2.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管外延结构的生长方法,其特征在于,所述GaN势垒层采用渐变式生长速率进行生长的方法是:在生长浅量子阱层的前面一个GaN势垒层A及后面一个GaN势垒层B,均采用较高生长速率进行生长,中间的GaN势垒层采用低于GaN势垒层A或GaN势垒层B的生长速率的2%-10%进行生长。3.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管外延结构的生长方法,其特征在于,所述GaN势垒层采用渐变式生长速率进行生长的方法是:在生长浅量子阱层的前面一个GaN势垒层A及后面一个GaN势垒层B,均采用较高生长速率进行生长,中间的GaN势垒层采用高于GaN势垒层A或GaN势垒层B的生长速率的2%_6%进行生长,GaN势...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭丽彬刘仁锁蒋利民李刚
申请(专利权)人:合肥彩虹蓝光科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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