本发明专利技术公开了一种高频频率器件多通道测试装置，其包括有一计算机、一频率计及至少一层测试架，每层测试架上设有一器件测试板及一测试控制板，所述器件测试板包括有多个器件座，所述测试控制板包括有一4514译码器及多个分频选通器，所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端，4514译码器的多个输出端分别连接于多个分频选通器的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个分频选通器的输入端，多个分频选通器的输出端分别通过半钢线相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机。本发明专利技术避免了失真、衰减和串扰的情况出现，且测试结果具有较高的准确性，同时，还具有省时、省力生产效率高的优势。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及频率器件测试设备
，尤其涉及。
技术介绍
频率器件在生产过程中，需要将频率器件的振荡信号通过SMA射频线传输至频率计而进行采样测试，对于频率超过100MHZ的高频频率信号而言，信号的传输受阻抗匹配、电磁干扰、传输介质等因素影响，容易出现失真、衰减或者串扰的情况，所以在测试过程中，一般用缩短射频线长度的方法来实现对高频频率器件的测试，实际上，尽管缩短了信号的传输距离，但是受射频线材质等因素的影响，信号在传输过程中依然存在易失真、易衰减、抗干扰能力弱的缺陷，导致测试结果的准确性差。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，提供，使得高频频率信号在传输过程中不受传输线材质的影响，避免失真、衰减和串扰的情况出现，且测试结果具有较高的准确性。为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案。一种高频频率器件多通道测试装置，其包括有一计算机、一频率计及至少一层测试架，每层测试架上设有一器件测试板及一测试控制板，所述器件测试板包括有多个器件座，所述测试控制板包括有一 4514译码器及多个分频选通器，所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端，4514译码器的多个输出端分别连接于多个分频选通器的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个分频选通器的输入端，多个分频选通器的输出端分别通过半钢线相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机。优选地，所述测试装置还包括有一直流电源，所述直流电源输出直流电压为器件座供电，该直流电压是OV 30V连续可调电压，所述直流电源还输出5V直流电压为测试控制板供电。优选地，每个器件测试板上设有16个器件座，每个测试控制板包括有16个分频选通器。优选地，多个分频选通器的输出端分别通过半钢线相互连接后再通过一 SMA射频接口而连接至频率计的输入端。优选地，所述半钢线的屏蔽层与测试控制板共地。优选地,所述频率计通过GPIB接口而连接至计算机。一种高频频率器件多通道测试方法，其包括如下步骤:步骤S101，整机上电，以令多个器件座上的高频频率器件起振；步骤S102，计算机将选位指令发送至测试控制板，以令多个分频选通器之一触发，并将其输入信号按预设的分频系数进行分频处理后经由输出端输出至频率计；步骤S103，频率计将其输入信号按所述分频系数进行倍频还原，并对还原后的信号进行测试；步骤S104，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机，且由计算机保存至数据库；步骤S105，计算机输出下一高频频率器件所对应的选位指令，重复步骤S102至步骤S104，直至器件测试板内的多个高频频率器件全部测试完成。本专利技术公开的高频频率器件多通道测试装置中，由于高频频率器件所输出的高频信号依次经过分频处理、传输和倍频处理，使得该信号在传输过程中具有较低的频率，保证了信号的有效传输，提高了测试结果的准确性。同时，传输线缆采用了屏蔽性能优良的半钢线，从而进一步避免了失真、衰减和串扰的情况出现。另外，多个高频频率器件的频率取样工作，均是在计算机的控制下而自动执行的，所以无需手动测试和记录，从而实现了自动化测试。结合以上几点可以看出，本专利技术相比现有技术而言，高频频率信号在传输过程中不受传输线材质的影响，避免了失真、衰减和串扰的情况出现，且测试结果具有较高的准确性，同时，还具有省时、省力生产效率高的优势。附图说明图1为本专利技术公开的高频频率器件多通道测试装置的电路框图。图2为器件测试板和测试控制板的电路框图。图3为4514译码器的引脚图。图4为分频选通器的内部电路框图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作更加详细的描述。本专利技术公开一种高频频率器件多通道测试装置，结合图1、图2、图3及图4所示，其包括有一计算机10、一频率计20及至少一层测试架，每层测试架上设有一器件测试板40及一测试控制板50，所述器件测试板40包括有多个器件座400，所述测试控制板50包括有一 4514译码器500及多个分频选通器501，所述计算机10发送选位指令至4514译码器500的选位端，4514译码器500的多个输出端分别连接于多个分频选通器501的控制端，多个器件座400的输出端分别连接于多个分频选通器501的输入端，多个分频选通器501的输出端分别通过半钢线相互连接后再连接至频率计20的输入端，频率计20将测试结果以电信号的形式发送至计算机10。上述测试装置中，待测试的高频频率器件置于多个器件座400上，整机上电后，高频频率器件开始起振，计算机10发送选位指令至4515译码器500的AO A3端口，以令4514译码器500的输出端YO Y15发送选通信号至多个分频选通器501的控制端，以令多个分频选通器501之一呈工作状态，其他呈关闭状态，分频选通器501将其输入的高频频率信号按预设的分频系数进行分频处理，所述分频选通器501的引脚INH为控制端、引脚XT为输入端、引脚QO为输出端，本实施例中，分频选通器501由2个依次串联的八分频器构成，两个八分频器串联后的分频系数为64倍，使得该测试装置能够将100MHZ 2400MHZ的高频信号有效传输至频率计20，频率计20将其输入的信号按上述分频系数进行倍频还原，并对还原后的信号进行测试，之后将测试结果发送至计算机10，计算机10保存该高频频率器件的振荡频率，之后，计算机10将下一选位指令发送至4514解码器500，对下一高频频率器件进行测试，直至所有高频频率器件测试完成。本专利技术公开的高频频率器件多通道测试装置中，由于高频频率器件所输出的高频信号依次经过分频处理、传输和倍频处理，使得该信号在传输过程中具有较低的频率，保证了信号的有效传输，提高了测试结果的准确性。同时，传输线缆采用了屏蔽性能优良的半钢线，从而进一步避免了失真、衰减和串扰的情况出现。另外，多个高频频率器件的取样工作，均是在计算机10的控制下而自动执行的，所以无需手动测试和记录，从而实现了自动化测试。结合以上几点可以看出，本专利技术相比现有技术而言，高频频率信号在传输过程中不受传输线材质的影响，避免了失真、衰减和串扰的情况出现，且测试结果具有较高的准确性，同时，还具有省时、省力生产效率高的优势。本实施例中，所述测试装置还包括有一直流电源60，所述直流电源60输出直流电压为器件座400供电，该直流电压是OV 30V连续可调电压，所述直流电源60还输出5V直流电压为测试控制板50供电。 本实施例中，每个器件测试板40上设有16个器件座400，每个测试控制板50包括有16个分频选通器501，每层测试架上能够一次对16个高频频率器件进行测试，实际应用中，可以通过设置更多数量的测试架而实现批量化生产。本实施例中，多个分频选通器501的输出端分别通过半钢线相互连接后再通过一SMA射频接口 30而连接至频率计20的输入端。所述半钢线的屏蔽层与测试控制板50共地，从而进一步提高半钢线的抗干扰能力。本实施例中，所述频率计20通过GPIB接口而连接至计算机10。但是在本专利技术的其他实施例中，所述频率计20还可以通过其他类型的接口而连接至计算机10。为了更好地将本专利技术与实际应用相结合，本专利技术还公开一种高频频率器件多通道测试方法，其包括如下步骤:步骤SlOl，整机上电，以令多个器件座400上的高频频率器件起振；步本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种高频频率器件多通道测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有一计算机（10）、一频率计（20）及至少一层测试架，每层测试架上设有一器件测试板（40）及一测试控制板（50），所述器件测试板（40）包括有多个器件座（400），所述测试控制板（50）包括有一4514译码器（500）及多个分频选通器（501），所述计算机（10）发送选位指令至4514译码器（500）的选位端，4514译码器（500）的多个输出端分别连接于多个分频选通器（501）的控制端，多个器件座（400）的输出端分别连接于多个分频选通器（501）的输入端，多个分频选通器（501）的输出端分别通过半钢线相互连接后再连接至频率计（20）的输入端，频率计（20）将测试结果以电信号的形式发送至计算机（10）。
【技术特征摘要】
1.一种高频频率器件多通道测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有一计算机(10)、一频率计(20)及至少一层测试架，每层测试架上设有一器件测试板(40)及一测试控制板(50 )，所述器件测试板(40 )包括有多个器件座(400 )，所述测试控制板(50 )包括有一4514译码器(500)及多个分频选通器(501)，所述计算机(10)发送选位指令至4514译码器(500)的选位端，4514译码器(500)的多个输出端分别连接于多个分频选通器(501)的控制端，多个器件座(400)的输出端分别连接于多个分频选通器(501)的输入端，多个分频选通器(501)的输出端分别通过半钢线相互连接后再连接至频率计(20)的输入端，频率计(20)将测试结果以电信号的形式发送至计算机(10 )。2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一直流电源(60)，所述直流电源(60)输出直流电压为器件座(400)供电，该直流电压是OV 30V连续可调电压，所述直流电源(60 )还输出5V直流电压为测试控制板(50 )供电。3.如权利要求1所述的测 试装置，其特征在于，每个器件测试板(40)上设有16个器件座(400)，每个测试控制板(50)包括有16个分频...
【专利技术属性】
技术研发人员：李丕宁，方忠有，朱辉，孙仲秋，温丹，
申请(专利权)人：深圳市三奇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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