本实用新型专利技术公开了一种基板的信号线检测装置及显示器件。该装置包括：用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组；各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；三极管开关元件组的栅极引出端与测试信号输出端连接；三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接；或者，各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；三极管开关元件组的源极引出端与测试信号输出端连接；三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接。通过与基板上平行设置的信号线连接的开关元件构成传导结构。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
Signal line detection device for substrate and display device
The utility model discloses a signal line detection device of a substrate and a display device. The apparatus includes a test signal output end of signal testing, for testing the signal detection test signal terminal, and a triode switch components; each signal line triode switch element source and substrate are respectively arranged in parallel connection; the triode open gate turn element group terminal and test signal the output end is connected with the drain outlet; and a test signal detection end is connected with a triode switch element group; or, the gate signal line triode switch element are arranged in parallel with the substrate connection; a triode switch element group source terminal and the test signal is connected with the output end of the triode switching element of the group; the drain outlet end is connected with a test signal detection. A conductive structure is formed by a switching element connected to a signal line disposed on the substrate. In order to detect the signal line of the substrate, improve the accuracy and detection ability of the test.
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及显示
，尤其涉及一种基板的信号线检测装置及显示器件。
技术介绍
阵列(Array)基板是在玻璃基板上沉积薄膜晶体管(TFT)像素阵列电路形成的。阵列检测设备(Array Tester，简称AT设备)对阵列基板进行检测。AT设备在对阵列基板进行检测，先对阵列基板上的信号线进行短路(Short)检测(ESS Test)，如果发现阵列基板上的信号线短路，会调用特殊的信号继续进行检测，以提高设备测试的准确性与检出能力。完成ESS Test后，再对TFT像素进行检测。但现有技术中，没有针对数据线断路的测试，导致测试的准确性和检出能力较低。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种基板的信号线检测装置及显示器件，以解决测试的准确性和检出能力较低的问题。本技术的目的是通过以下技术方案实现的:一种基板的信号线检测装置，包括:用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；或者，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的栅极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端的栅极分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端的漏极分别与一个测试信号检测端连接；或者，有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的源极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极作为所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。即三极管开关元件组中的各个三极管开关元件并接。对于并接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者，有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极作为所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。即三极管开关元件组中的各个三极管开关元件并接。对于并接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者，有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。上述任一实施例中，较佳的，所述信号线为:数据线，或者，扫描线，或者，公共电极线。本技术实施例还提供一种显示器件，包括上述任一实施例所述的基板的信号线检测装置。本技术提供的技术方案，通过与基板上平行设置的信号线连接的开关元件构成传导结构。基于该结构，可以从该传导结构的一端输入测试信号，在另一端检测测试信号的电平值，如果检测到的电平值小于预先设定的阈值，则可以判断基板的信号线出现断路。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。附图说明图1为本技术实施例提供的第一种装置结构示意图；图2为本技术实施例提供的第二种装置结构示意图；图3为本技术实施例提供的第三种装置结构示意图；图4为本技术实施例提供的第四种装置结构示意图。具体实施方式为了实现对基板信号线进行断路测试，以提高测试的准确性和检出能力，本技术提供一种基板的信号线检测装置及显示器件，通过与基板上平行设置的信号线连接的开关兀件构成传导结构。基于该结构，可以从该传导结构的一端输入测试信号，在另一端检测测试信号的电平值，如果检测到的电平值小于预先设定的阈值，则可以判断基板的信号线出现断路。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。下面将结合附图，对本技术提供的信号线检测装置进行详细说明。如图1所示，本技术提供的一种基板的信号线测试装置包括:用于输出测试信号的测试信号输出端1，用于检测测试信号的测试信号检本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基板的信号线检测装置，其特征在于，包括：?用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组；?所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；或者，?所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：马海涛，赵海生，肖志莲，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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