用于显示设备的老化系统及利用该老化系统的老化方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于显示设备的老化系统及一种使用该老化系统的老化方法。该老化方法包括：将包括用于评估元件测量值的测试器焊盘单元和用于老化的老化焊盘单元的面板安装在老化系统上；提取面板的元件测量值，将元件测量值与预先存储在老化系统中的用于驱动面板的现有的元件特性值进行比较，并检测重合的元件值；使用从检测的元件值产生的输出数据来老化面板。可通过老化系统自身建立老化条件，并且该老化系统可以在不需要因元件的工艺差异而检验显示设备的元件的特性的情况下通过执行对元件的额外的测量并基于测量结果建立老化条件来执行老化工艺。因此，可防止由于对元件的特性评估所需的时间的损失以及人力浪费等。

【技术实现步骤摘要】
用于显示设备的老化系统及利用该老化系统的老化方法本申请要求于2011年12月30日提交到韩国知识产权局的第10-2011-0147421号韩国专利申请的权益，该申请的公开通过引用全部包含于此。
本专利技术的一个或多个实施例涉及一种老化系统，更具体地说，涉及一种可评估显示设备的元件的特性并可执行老化工艺的用于显示设备的老化系统以及一种使用该老化系统的老化方法。
技术介绍
通常，有机发光显示设备具有优异的特性，例如宽视角、良好的对比度以及短的响应时间。因此，由于有机发光显示设备能够应用于诸如数码相机、摄像机、摄录机、便携式信息终端、智能电话、超薄膝上型电脑、平板个人电脑(PC)或柔性显示设备的移动装置或者诸如超薄TV的电子/电气产品的显示设备，所以有机发光显示设备已经备受关注。有机发光显示设备通常具有包括阳极、阴极以及设置在阳极和阴极之间的发射层的堆叠结构，并且当分别从阳极和阴极注入的空穴和电子在发射层中复合并因此发光时显示彩色图像。即，当通过注入的空穴和电子结合产生的激子从激发态跃迁至基态时发光。随着发光时间增长，有机发光显示设备的特性劣化；结果，有机发光显示设备的寿命会缩短，并且其发光效率会降低。因此，执行老化工艺以使有机发光显示设备稳定。然而，在老化工艺过程中不能预测有机发光显示设备的元件的特性改变。因此，在执行老化工艺之前，评估有机发光显示设备的元件的特性，并且在建立驱动条件之后执行老化工艺。结果，由于特性评估而导致的损失很大。
技术实现思路
本专利技术的一个或多个实施例提供了一种用于显示设备的老化系统和一种使用该老化系统的老化方法，所述老化系统可以通过执行具有高可靠性的老化工艺来延长显示设备的寿命并可以改善显示设备的亮度不均匀性和亮度比。根据本专利技术的一方面，提供了一种用于显示设备的老化系统，所述老化系统包括：面板安装单元，提供将要安装面板的空间并包括多个探针；探针站单元，电连接到面板并提取面板的元件测量值；存储器单元，在存储单元中预先存储有用于驱动面板的现有的元件特性值；控制单元，将提取的元件测量值与现有的元件特性值进行比较并控制产生的输出数据；以及老化控制单元，通过使用从控制单元传输的输出数据将老化信号传输到面板。面板可包括用于评估元件测量值的测试器焊盘单元和用于老化的老化焊盘单元，面板安装单元可包括电连接到测试器焊盘单元的用于测试器焊盘单元的探针以及用于老化的探针块，在探针块上设置有电连接到老化焊盘单元的老化探针。可通过用于测试器焊盘单元的探针从探针站单元传输电信号，来从测试器焊盘单元提取面板的元件测量值。可通过用于老化的探针块从老化控制单元传输电信号，来对老化焊盘单元执行老化。面板可包括有机发光显示设备，测试器焊盘单元可包括与作为形成在面板的显示单元中的图案的半导体有源层、源极、漏极和栅极中的每个对应的图案单元，用于测试器焊盘单元的探针可以形成在面板安装单元的与测试器焊盘单元对应的位置处，从而用于测试器焊盘单元的探针选择性地连接到在测试器焊盘单元中图案化的源极、漏极和栅极。用于测试器焊盘单元的探针可设置在面板安装单元的至少一个边缘处。形成在测试器焊盘单元中的图案单元可与形成在面板的显示单元中的图案同时形成。形成在测试器焊盘单元中的图案单元可以不连接到形成在面板的显示单元中的图案，而是可以独立地图案化。老化焊盘单元可在面板的至少一个边缘处图案化并可以电连接到形成在面板的显示单元中的图案，用于老化的探针可设置在面板安装单元的对应于老化焊盘单元的位置处。根据本专利技术的另一方面，提供了一种用于显示设备的老化方法，所述老化方法包括下述步骤：将包括用于评估元件测量值的测试器焊盘单元和用于老化的老化焊盘单元的面板安装在老化系统上；提取面板的元件测量值，将元件测量值与预先存储在老化系统中的用于驱动面板的现有的元件特性值进行比较，并检测重合的元件值；使用从检测的元件值产生的输出数据来老化面板。安装面板的步骤可包括：将面板安装在设置于老化系统上的面板安装单元上；将电连接到设置在老化系统上的探针站单元并提取面板的元件测量值的用于测试器焊盘单元的探针与在面板中图案化的测试器焊盘单元结合。面板可包括有机发光显示设备，测试器焊盘单元可包括与作为形成在面板的显示单元中的图案的半导体有源层、源极、漏极和栅极中的每个对应的图案单元，用于测试器焊盘单元的探针可电连接到在测试器焊盘单元中图案化的源极、漏极和栅极。多个测试器焊盘单元可设置在面板的至少一个边缘处，可以不连接到形成在面板的显示单元中的图案，而是可以独立地图案化，并且用于测试器焊盘单元的探针可电连接到对应于测试器焊盘单元的位置。检测面板的重合元件值的步骤可包括下述步骤：测量在面板中图案化的测试器焊盘单元的元件的特性；提取测试器焊盘单元的元件的特性；将元件的测量值与预先存储在老化系统中的现有的元件特性值进行比较；以及产生用于老化面板的输出数据。多个测试器焊盘单元可设置在面板的至少一个边缘处，可从多个测试器焊盘单元提取测量数据的平均值，并可将该平均值用作在执行老化工艺时的代表值。输出数据可包括驱动波形和与设置对应于驱动波形的老化电压相关的信息。面板的老化可包括：将电连接到设置在老化系统上的探针站单元的用于测试器焊盘单元的探针与在面板中图案化的测试器焊盘单元结合；并使用产生的输出数据来老化面板。附图说明通过参照附图详细地描述本专利技术的示例性实施例，本专利技术的上述和其它特征和优点将变得更加明显，在附图中：图1示出了根据现有技术的有机发光显示设备的结构；图2是沿图1的线II-II截取的剖视图；图3是图1的等效电路图；图4是示出执行图1的老化工艺所需的焊盘单元的平面图；图5是示出图4的测试器焊盘单元的结构的放大图；图6是根据本专利技术实施例的用于显示设备的老化系统的平面图；图7是示出图6的面板安装单元的平面图；图8A是图6的测试器焊盘单元的探针的主视图；图8B是图8A的侧视图；图9是顺序地示出根据本专利技术实施例的用于有机发光显示设备的老化工艺的流程图。具体实施方式由于本专利技术允许各种变化和多个实施例，所以将在附图中示出并在书面描述中详细描述特定的实施例。然而，这并不意图将本专利技术限制到特定的实施模式，并且应该理解的是，不脱离本专利技术的精神和技术范围的所有改变、等同物和替代物均包括在本专利技术之中。在本专利技术的描述中，在认为对现有技术的特定详细解释可能会不必要地使本专利技术的本质不清楚时，省略这些特定详细解释。虽然可使用“第一”、“第二”等此类术语来描述不同的组件，但这些组件不必局限于以上术语。上述术语仅用于将一个组件与另一个组件区分开。在本说明书中使用的术语仅用于描述特定的实施例，并且不意图限制本专利技术。除非在上下文中具有明显不同的含义，否则以单数形式使用的表述包括复数形式的表述。在本说明书中，应该理解的是，诸如“包括”或“具有”等的术语意图表示存在说明书中描述的特征、数量、步骤、动作、组件、部件或它们的组合，而不意图排除可以存在或可以添加一个或多个其它特征、数量、步骤、动作、组件、部件或它们的组合的可能性。在下面将参照附图更详细地描述根据本专利技术实施例的用于显示设备的老化系统。用相同的标号来表示相同或相对应的那些组件而与图号无关，并且省略重复的解释。图1示出了根据现有技术的有机发光显示设备1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于显示设备的老化系统，所述老化系统包括：面板安装单元，提供将要安装面板的空间并包括多个探针；探针站单元，电连接到面板并提取面板的元件测量值；存储器单元，在存储器单元中预先存储有用于驱动面板的现有的元件特性值；控制单元，将提取的元件测量值与现有的元件特性值进行比较并控制产生的输出数据；以及老化控制单元，通过使用从控制单元传输的输出数据将老化信号传输到面板。

【技术特征摘要】
2011.12.30 KR 10-2011-01474211.一种用于显示设备的老化系统，所述老化系统包括：面板安装单元，提供将要安装面板的空间并包括多个探针；探针站单元，电连接到面板并提取面板的元件测量值；存储器单元，在存储器单元中预先存储有用于驱动面板的现有的元件特性值；控制单元，将提取的元件测量值与现有的元件特性值进行比较并控制产生的输出数据；以及老化控制单元，通过使用从控制单元传输的输出数据将老化信号传输到面板，其中，面板包括在评估元件测量值中使用的测试器焊盘单元、在老化中使用的老化焊盘单元和有机发光显示设备，测试器焊盘单元包括与作为形成在面板的显示单元中的图案的半导体有源层、源极、漏极和栅极中的每个对应的图案单元，面板安装单元包括电连接到测试器焊盘单元的用于测试器焊盘单元的探针以及用于老化的探针块，在探针块上设置有电连接到老化焊盘单元的老化探针。2.如权利要求1所述的老化系统，其中，通过用于测试器焊盘单元的探针从探针站单元传输电信号来从测试器焊盘单元提取面板的元件测量值。3.如权利要求1所述的老化系统，其中，通过用于老化的探针块从老化控制单元传输电信号来在老化焊盘单元上执行老化。4.如权利要求1所述的老化系统，其中，用于测试器焊盘单元的探针形成在面板安装单元的与测试器焊盘单元对应的位置处，从而用于测试器焊盘单元的探针选择性地连接到在测试器焊盘单元中图案化的源极、漏极和栅极。5.如权利要求4所述的老化系统，其中，用于测试器焊盘单元的探针设置在面板安装单元的至少一个边缘处。6.如权利要求4所述的老化系统，其中，形成在测试器焊盘单元中的图案单元与形成在面板的显示单元中的图案同时形成。7.如权利要求6所述的老化系统，其中，形成在测试器焊盘单元中的图案单元未连接到形成在面板的显示单元中的图案，而是独立地图案化。8.如权利要求1所述的老化系统，其中，老化焊盘单元在面板的至少一个边缘处图案化并电连接到形成在面板的显示单元中的图案，用于老化的探针设置在面板安...

【专利技术属性】
技术研发人员：金正学，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：