【技术实现步骤摘要】
V形检测架
本技术涉及一种V形检测架。
技术介绍
半导体行业中，通常都需要对基片进行检测。目前一般采用手检方式，在检测大版 基片时，检测人员双手端起基片往复在检测灯下移动，从而来达到对基片的检测目的。在这 种检测过程中，需要检测人员端起基片，因为基片比较大，所以检验人员不易操作，某些部 位不容易看清，导致检验效率低；同时在检测过程中检测人员端起基片往复移动时，可能会 导致基片崩边、崩角等损坏现象。因此，有必要针对现有技术中存在的上述缺陷进行改进。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种V形检测架，其能够提高检测效率，且避免检 测过程中基片的损坏。为了实现上述目的，提供了一种V形检测架，所述V形检测架包括V形支座和多个 支撑部件，所述多个支撑部件分别设置在所述V形支座的用于形成V形的两个支撑面上。进一步地，所述V形支座包括分别设置在正面的第一板、背面的第二板和两个侧 面的第三板。进一步地，所述支撑部件为滚轮，所述滚轮可转动地被夹持在所述第一板和所述 第二板之间，并且所述滚轮的外圆周面上设有V形槽，所述V形槽的延伸方向平行于所述第 一板和所述第二板。进一步地，所述第...
【技术保护点】
一种V形检测架，其特征在于，所述V形检测架包括V形支座和多个支撑部件，所述多个支撑部件分别设置在所述V形支座的用于形成V形的两个支撑面上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宋小光，萧训山，
申请(专利权)人：湖南电子信息产业集团有限公司，湖南普照信息材料有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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