阵列测试装置制造方法及图纸

本文公开一种阵列测试装置，其可防止调制器摇晃或倾斜。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试玻璃面板的阵列测试装置。
技术介绍
一般来说，液晶显示器(IXD)、等离子显示面板(rop)、场致发射显示器(FED)以及有机发光二极管(OLED)等是已研制出并使用的平板显示器(FPD)的代表性实例。这种FPD的LCD是以向排列为矩阵形状的液晶单元单独地提供基于图像信息的数据信号、并因此控制液晶单元的透光性的方式来显示预期图像的图像显示设备。由于IXD薄且轻并具有耗能低和操作电压低等其它很多优点，因此得到广泛使用。下面将描述制造用在这种LCD中的液晶面板的典型方法。首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。其后，在与上玻璃面板相对的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。之后，将配向层分别施加到上玻璃面板和下玻璃面板。其后，摩擦配向层以便为以后要在这些配向层之间形成的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方位。其后，通过将密封胶以预定图案施加到至少上玻璃面板或至少下玻璃面板来形成密封胶图案，以保持玻璃面板彼此分隔开，阻止液晶泄漏，以及密封玻璃面板之间的空间。之后，在玻璃面板之间形成液晶层，因此完成液晶面板。在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文称作“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否中断或者检查像素单元是否颜色不佳而实施的。阵列测试装置用于实施这种针对玻璃面板的测试。阵列测试装置典型地包括测试玻璃面板的测试单元、将玻璃面板加载到测试单元上的加载单元、以及将已经过测试的玻璃面板从测试单元卸载的卸载单元。测试单元包括光源、设置有电光材料层的调制器、以及拍摄调制器的图像的摄像单元。测试玻璃面板的方法包括将玻璃面板加载到支撑板上、将预定电压施加到调制器和玻璃面板、并将调制器设置于邻近玻璃面板处。如果玻璃面板无缺陷，则在调制器和玻璃面板之间形成电场。然而，如果玻璃面板有缺陷，则在调制器和玻璃面板之间不形成电场、或电场幅度较小。阵列测试装置测试调制器和玻璃面板之间的电场幅度，并利用测得的电场幅度来确定玻璃面板是否有缺陷。对于准确测试玻璃面板较为重要的一个因素是玻璃面板与调制器之间的距离。为了准确测试玻璃面板，必需维持玻璃面板与调制器之间的距离恒定以及维持在预定的最佳距离处。因此，在根据新近提出的技术的阵列测试装置中，将气体吹送到玻璃面板上，吹送的气体的压力使调制器悬浮于玻璃面板上方，因此维持玻璃面板与调制器之间的距离恒定。同时，玻璃面板在其上具有多个待测试区域。调制器连续地移至这些待测试区域，直到完成对玻璃面板上的所有区域的测试为止。为此，首先，调制器远离玻璃面板向上竖直移动，使得玻璃面板与调制器之间的距离达到容许调制器水平移动的距离(下文称作“第一距离”)。其后，调制器相对于玻璃面板的上表面水平地(平行地)移动，直到它被置于对应的待测试区域之一上方为止。之后，调制器朝玻璃面板竖直地(向下)移动并接近玻璃面板，使得玻璃面板与调制器之间的距离达到能够使调制器测试玻璃面板的距离(下文称作“第二距离”)。第一距离大于第二距离。所排出的用于将玻璃面板与调制器之间的距离调整为第一距离的气体的压力大于用于将玻璃面板与调制器之间的距离调整为第二距离的气体压力。优选地，第二距离设定为可能的最小距离，使得可准确地测量在玻璃面板与调制器之间所产生的电场幅度。换言之，优选第二距离为尽可能地小，除调制器接触玻璃面板以外。第一距离设定为可在调制器水平移动时防止调制器接触玻璃面板的距离。同时，当调制器水平移动时，加速力施加到调制器，因此使调制器倾斜。因而，调制器在其水平移动时可能以预定角度倾斜。此外，当水平移动的调制器停止时，减速力施加到调制器，因此使调制器倾斜预定角度。在传统阵列测试装置中，第二距离设定得相对较大，使得即使在调制器倾斜时也能防止调制器接触玻璃面板。因此，在传统阵列测试装置中，第一距离和第二距离之间存在相对较大的差异。这样，因为第一距离和第二距离之间的差相对较大，因此传统阵列测试装置的问题在于，将玻璃面板与调制器之间的距离从第一距离改变到第二距离或从第二距离改变到第一距离耗时相对较长。此外，由于当调制器在水平移动时加速或者当水平移动的调制器停止时调制器以预定角度倾斜，因此调制器水平移动的速度不应太快，以防止调制器接触玻璃面板。也就是说，调制器的水平移动速度仅可增加至有限的速度。
技术实现思路
因此，本专利技术针对现有技术中存在的上述问题，且本专利技术的目的是提供一种阵列测试装置，其可在调制器水平移动时防止调制器倾斜。本专利技术的另一目的是提供一种阵列测试装置，其可减少将调制器与玻璃面板之间的距离从容许调制器水平移动的距离改变到能够使调制器测试玻璃面板的距离所花费的时间。为了实现上述目的，本专利技术提供一种阵列测试装置，包括:调制器，其面对玻璃面板设置；固定块，其绕所述调制器设置；移动块，其联接到所述调制器，所述移动块由所述固定块支撑以能被抬升；吹气单元，其朝所述玻璃面板吹气，使得所述调制器沿远离所述玻璃面板的第一方向移动；以及外力提供单元，其设置在所述固定块与所述移动块之间，所述外力提供单元沿与所述第一方向相反的第二方向将外力施加到所述移动块。附图说明从结合附图的以下详述中将更清楚理解本专利技术的上述以及其它目的、特征以及优点，其中:图1是图示根据本专利技术第一实施方式的阵列测试装置的立体图2是图示图1的阵列测试装置的测试模块的示意图；图3是图示图1的阵列测试装置的测试模块的另一示例的示意图；图4是示意性地图示图1的阵列测试装置的测试模块的剖视图；图5是示意性地图示图1的阵列测试装置的测试模块的另一示例的剖视图；图6是根据本专利技术第二实施方式的阵列测试装置的测试模块的示意性仰视图；图7是示意性地图示根据本专利技术第三实施方式的阵列测试装置的测试模块的剖视图；图8是示意性地图示根据本专利技术第三实施方式的阵列测试装置的测试模块的另一示例的剖视图；图9是示意性地图示根据本专利技术第三实施方式的阵列测试装置的测试模块的又一示例的剖视图；图10是示意性地图示根据本专利技术第四实施方式的阵列测试装置的测试模块的剖视图；图11是示意性地示出图10的测试模块的一部分的放大剖视图；图12是示意性地示出图10的测试模块的另一实施例的一部分的放大剖视图；图13是示意性地图示根据本专利技术第五实施方式的阵列测试装置的测试模块的剖视图；图14是示意性地示出图13的测试模块的一部分的放大剖视图；图15是示意性地图示根据本专利技术第六实施方式的阵列测试装置的测试模块的剖视图；图16是示意性地示出图15的测试模块的一部分的放大剖视图；以及图17至20是示意性地示出根据本专利技术第七实施方式的阵列测试装置的测试模块的一部分的放大剖视图。具体实施例方式下文，将参照附图详述根据本专利技术的阵列测试装置的实施方式。如图1至5所示，根据本专利技术第一实施方式的阵列测试装置10包括:加载单元20，其将玻璃面板P加载到阵列测试装置上；测试单元30，其测试由加载单元20加载的玻璃面板P ;卸载单元40，其从阵列测试装置卸载已经过测试单元30测试的玻璃面板P ;以及控制单元50，其控制测试玻璃面板P的操作。加载单元20包括多个第一支撑板22，上述多个第一支撑板22设置于以预定间距彼此间隔的位置。第一支撑板22支撑待测试的玻璃面板P。卸载单元40本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列测试装置，包括：调制器，所述调制器面对玻璃面板设置；固定块，所述固定块绕所述调制器设置；移动块，所述移动块联接到所述调制器，所述移动块由所述固定块支撑以能被抬升；吹气单元，所述吹气单元朝所述玻璃面板吹气，使得所述调制器沿远离所述玻璃面板的第一方向移动；以及外力提供单元，所述外力提供单元设置在所述固定块与所述移动块之间，所述外力提供单元沿与所述第一方向相反的第二方向将外力施加到所述移动块。

【技术特征摘要】
2011.11.08 KR 10-2011-01159461.一种阵列测试装置，包括: 调制器，所述调制器面对玻璃面板设置； 固定块，所述固定块绕所述调制器设置； 移动块，所述移动块联接到所述调制器，所述移动块由所述固定块支撑以能被抬升； 吹气单元，所述吹气单元朝所述玻璃面板吹气，使得所述调制器沿远离所述玻璃面板的第一方向移动；以及 外力提供单元，所述外力提供单元设置在所述固定块与所述移动块之间，所述外力提供单元沿与所述第一方向相反的第二方向将外力施加到所述移动块。2.按权利要求1所述的阵列测试装置，其中，所述外力提供单元包括: 第一磁性构件和第二磁性构件，所述第一磁性构件和所述第二磁性构件设置在所述固定块和所述移动块内使得所述第一磁性构件面对所述第二磁性构件，所述第一磁性构件和所述第二磁性构件在所述固定块与所述移动块之间产生磁力。3.按权利要求2所述的阵列测试装置，其中，至少所述第一磁性构件或所述第二磁性构件包括电磁体。4.按权利要求2所述的阵列测试装置，其中，至少所述第一磁性构件或所述第二磁性构件包括永磁体，并且 所述外力提供单元包括连接到至少所述第一磁性构件或所述第二磁性构件的磁性构件移动装置，所述磁性构件移动装置沿所述第一磁性构件和所述第二磁性构件彼此接近或彼此远离的方向移动至少所述第一磁性构件或所述第二磁性构件。5.按权利要求1所述的阵列测试装置，其中，假定当所述调制器已移离所述玻璃面板以容许所述调制器水平移动时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第一距离，且当所述调制器已接近所述玻璃面板以容许测试所述玻璃面板时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第二距离， 所述外力提供单元包括弹性构件，当所述玻璃面板与所述调制器之间的距离是所述第一距离时，所述弹性构件将弹力提供到所述移动块。6.按权利要求1所述的阵列测试装置，其中，所述外力提供单元包括: 连接到所述固定块的第一吹气装置，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑东贤，潘俊浩，
申请(专利权)人：塔工程有限公司，
类型：发明
国别省市：