本发明专利技术公开了一种液晶显示器断线检测电路及检测方法，该电路中，每个第一晶体管的栅极与每条栅极信号线连接，源极与每条数据信号线连接，每条数据信号线的第一端通过对应的数据引线与数据焊点连接，每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与栅极焊点连接，每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与栅极焊点连接，多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与外围焊点连接。采用本发明专利技术可以检测出信号线有无断线及断线的具体位置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示领域的检测电路，尤其涉及一种液晶显示器双向驱动的断线检测电路及检测方法。
技术介绍
目前大尺寸的薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor一Liquid CrystalDisplay, TFT-1XD)设计中，经常会采用双向驱动的设计方法，以保证大尺寸显示区像素充电均匀。故采用的信号线数量多，一般在设计双向电路时要对其信号线进行检测，判断是否存在断线，以提高液晶显示器的显示质量。目前的液晶显示器双驱动电路的检测电路，如图1所示，多条栅极信号线15及多条数据信号线16，多个第一晶体管11，其栅极、源极分别与栅极信号线15和数据信号线16连接。栅极信号线15通过栅极引线17，18与连接在栅极焊点23，24上的栅极短路棒19，20，21，22连接。数据信号线16通过数据引线10与连接在数据焊点25，26，27上的数据短路棒110，120，130连接。该栅极短路棒19，20，21，22为多条栅极引线17，18短路连接而成，该数据短路棒110，120，130为多条数据引线10短路连接而成。图中标号12，13为栅极集成电路的安装位置，14为数据集成电路的安装位置。阵列检测设备在左右两侧的栅极焊点23、24中扎针注入波形信号，该波形信号分别通过短路棒19、21、20、22及栅极引线17，18进入显示区，同时数据焊点25、26、27扎针注入该波形信号，分别通过短路棒110、120、130及数据引线10进入显示区逐个对第一晶体管11充电。阵列检测设备逐个检测该第一晶体管11对应的像素电压是否为第一晶体管11正常工作时的像素电压，以确定每个第一晶体管11是否正常工作。若该某一个第一晶体管11未正常工作，则确定与该第一晶体管连接的栅极信号线15发生断线。现有的液晶显示器双驱动检测电路中，如果显示区中任意一条信号线发生断路，因阵列检测设备在两侧栅极焊点都会注入波形信号，所以断路位置两侧都可以接收信号并传输至第一晶体管11，使其正常工作；即使仅在一侧栅极焊点23，24中注入信号，断路的栅极信号线15与其他栅极信号线15通过两侧的短路棒19，20，21，22形成回路，断路位置的两侧同样可以接收信号并传输至第一晶体管11，使其正常工作，导致阵列检测设备检测出的该第一晶体管11对应的像素电压为正常值，信号线断路问题无法检出。虽然断路位置两侧信号因RC delay会出现信号电压差异，此信号电压差异较小，阵列检测设备并不会判定为断路。如图2所示，若栅极信号线15上任意位置150发生断路，栅极信号线15通过栅极短路棒21，22与栅极信号线15形成环路，当阵列检测设备在单侧的栅极焊点23，24注入信号时，该发生断路的栅极信号线15仍然全部可接收到信号，并传输至每一个第一晶体管11上，对其充电，使其正常工作。阵列检测设备逐一检测出第一晶体管11对应的像素电压为其正常工作时的像素电压，故不能检测出信号线是否断路。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于针对现有技术中存在的液晶显示器采用双向驱动的检测电路无法检出断线情况的缺陷，提出了一种可检测出断线的检测电路及检测方法。本专利技术提供一种，该检测电路包括多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接，源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。上述的液晶显示器断线检测电路中，在所述数据焊点和所述栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。上述的液晶显示器断线检测电路中，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二晶体管都导通时，所述每条栅极信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。上述的液晶显示器断线检测电路中，更包括多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述内条数据信号线的第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。上述的液晶显示器断线检测电路中，在数据焊点和栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二和/或第三晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线和/或数据信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线和/或数据信号线发生断线。上述的液晶显示器断线检测电路中，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二和/或第三晶体管都导通时，所述每条栅极信号线和/或所述每条数据信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。一种液晶显示器断线检测方法，包括以下步骤提供一液晶显示器断线检测电路，该液晶显示器断线检测电路包括多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接，源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接；在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；关闭所述多个第二晶体管，使该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。上述的液晶显示器断线检测方法中，该断线检测方法提供的液晶显示器断线检测电路还包括多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过所述数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述数据信号线第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。上述的液晶显示器断线检测方法中还包括在所述每条栅极信号线和所述每条数据信号线中输入波形信号；关闭所述多个第二和/或第三晶体管，使该波形信号仅在所述每条栅极信号线和/或数据信号线的第一端传输至所述每个第一晶体管；逐一检测所述每个第一晶体管对应的像素电压值，判断该像素电压值是否在预定范围内，若至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。实施本专利技术的有益效果在于采用增加一组第二晶体管和本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种液晶显示器断线检测电路，用于检测一液晶显示器双向驱动电路是否断线，其特征在于，包括：多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接、源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。
【技术特征摘要】
1.一种液晶显示器断线检测电路，用于检测一液晶显示器双向驱动电路是否断线，其特征在于，包括: 多条栅极信号线和多条数据信号线、多个第一晶体管、多条数据引线、多条栅极引线、多个数据焊点、多个栅极焊点、多个第二晶体管、外围焊点；所述每个第一晶体管的栅极与所述每条栅极信号线连接、源极与所述每条数据信号线连接，所述每条数据信号线的第一端直接通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，所述每条栅极信号线的第一端直接通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述每个第二晶体管的源极与对应的栅极信号线的第二端连接，所述每个第二晶体管的漏极通过对应的栅极引线与所述栅极焊点连接，所述多个第二晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。2.根据权利要求1所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在所述数据焊点和所述栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则确定与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线发生断线。3.根据权利要求2所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在通过所述外围焊点输入信号使所述多个第二晶体管都导通时，所述每条栅极信号线两端均传输该波形信号至每个第一晶体管。4.根据权利要求1所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，更包括多个第三晶体管，所述每个第三晶体管的源极通过对应的数据引线与所述数据焊点连接，漏极与所述每条数据信号线的第二端连接，且所述多个第三晶体管的栅极串联成一条引线与所述外围焊点连接。5.根据权利要求4所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，在数据焊点和栅极焊点中分别注入波形信号，关闭所述多个第二和/或第三晶体管时，该波形信号仅由所述每条栅极信号线和/或数据信号线的第一端传输至每个第一晶体管进行充电，使每个第一晶体管对应的像素电压值在预定范围`内，若有至少一个像素电压值超出预定范围，则与该至少一个像素电压值对应的第一晶体管连接的栅极信号线和/或数据信号线发生断线。6.根据权利要求5所述的液晶显示器断线检测电路，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：付延峰，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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