【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示
，特别是。技术背景近年来，液晶显示器的性能与质量越来越受到人们的关注。现有技术中，有许多 的评价指标，来评价显示器的性能，如亮度、色度、对比度、均匀性、闪烁、串扰和响应时间等 等。但是，目前还有一些显示器的评价指标是不能精确量化的，如姆拉，残像等。其中，残像 的评价是一项重要的技术指标。在液晶显示器的制作过程中，由于各种因素的存在，液晶盒 内会存在一些离子。而这些离子可能会因为电场的缘故堆积在基板的两侧，当电压撤去后， 残留的电荷产生一定的电场，使得液晶显示器仍然显示之前显示的画面，这就是残像。由于 许多的公共显示器通常会在同一画面下保持很长时间，这样是很容易出现残像的，所以残 像的评价显得尤为重要。目前，大多数情况下人们都是通过肉眼观察直接来评定残像等级， 这样存在主观性较大，评定不准确的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供，可以更 加准确和全面地给出显示器的残像等级。为解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供一种显示器的残像等级评定装置，包 括用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮...
【技术保护点】
一种显示器的残像等级评定装置，其特征在于，包括：用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元；用于获得所述测试区域在所述灰阶水平下，所述残像测试后的第二亮度的第二获得单元；分别与所述第一获得单元和所述第二获得单元连接，用于获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三获得单元；与所述第三获得单元连接，用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元；与所述第四获得单元连接，用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元。
【技术特征摘要】
2012.04.27 CN 201220187573.61.一种显示器的残像等级评定装置，其特征在于，包括 用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元； 用于获得所述测试区域在所述灰阶水平下，所述残像测试后的第二亮度的第二获得单元; 分别与所述第一获得单元和所述第二获得单元连接，用于获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三获得单元； 与所述第三获得单元连接，用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元； 与所述第四获得单元连接，用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元。2.根据权利要求1所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第一获得单元和所述第二获得单元均为电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的売度获得单兀。3.根据权利要求1所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第一获得单元和所述第二获得单元均包括 用于获得所述测试区域的各原色的颜色值的电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的第一获得子模块； 与所述第一获得子模块连接，用于根据所述测试区域的各原色的颜色值，计算所述测试区域的亮度的计算模块。4.根据权利要求2或3所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第四获得单元包括 用于判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定模块； 与所述确定模块连接，用于获得所述测试区域的残像区域系数的第二获得子模块。5.根据权利要求4所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述确定模块包括 用于判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内的判断子模块； 与所述判断子模块连接，用于在所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用所述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定子模块。6.根据权利要求4所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第五获得单元包括 用于控制所述确定模块获得各个测试区域的残像等级的第一控制子模块； 用于控制所述第二获得子模块获得各个测试区域的残像区域系数的第二控制子模块；以及 分别与所述第一控制子模块、所述第二控制子模块、所述确定模块以及所述第二获得子模块连接，并用于通过公式7.—种显示器的...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢畅，柳在健，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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