基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，包括以下步骤：1)将圆偏振光作为激发光束，使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束，所述激发光束和抑制光束通过大数值孔径显微物镜聚焦并同时对荧光样品进行扫描；2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光，并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像；3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息，得到相应的荧光寿命信息；4)设置时间门，对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离；5)设置权值，用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像，得到最终的超分辨显微图像。本发明专利技术还公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显微成像领域，尤其涉及一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法及>J-U ρ α装直。
技术介绍
与绝大部分光学成像一样，自从显微镜被专利技术以来，阿贝衍射极限也一直制约着显微系统分辨率的提高。早期的显微系统均为宽场成像系统，成像分辨能力有限。这一情况直到共聚焦显微系统(Confocal Microscope)专利技术后才得到一定的改善。共聚焦显微的基本概念在1957年由M. Minsky等人提出(参见M. Minsky等MicroscopyApparatus,美国专利3013467),但直到1978年该技术才真正得以仪器化(参见C. Cremer等 Considerationson a laser-scanning-microscope with high resolution and depthof field, MicroscopiaActa 81，31-44 (1978))。与传统的宽场显微系统相比，共聚焦显微系统采用扫描成像的方式，在与成像物面共轭的焦平面上放置一个针孔(Pinhole)对非成像点周围的杂散光进行遮挡，从而有效地限制了系统的有效点扩散函数。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将圆偏振光作为激发光束，使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束，所述激发光束通过大数值孔径显微物镜聚焦形成实心聚焦光斑，所述抑制光束通过所述大数值孔径显微物镜聚焦形成空心聚焦光斑，两光斑同时对荧光样品进行扫描；2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光，并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像；3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息，得到相应的荧光寿命信息；4)设置时间门，对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离；5)设置权值，用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像，得到最终的超分...

【技术特征摘要】
1.一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤 1)将圆偏振光作为激发光束，使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束，所述激发光束通过大数值孔径显微物镜聚焦形成实心聚焦光斑，所述抑制光束通过所述大数值孔径显微物镜聚焦形成空心聚焦光斑，两光斑同时对荧光样品进行扫描； 2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光，并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像； 3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息，得到相应的荧光寿命信息； 4)设置时间门，对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离； 5)设置权值，用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像，得到最终的超分辨显微图像。2.如权利要求1所述的基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，其特征在于，所述激发光束的波长应位于所述突光样品上的突光标记的突光吸收光谱带内，所述抑制光束的波长应位于所述荧光样品上的荧光标记的荧光发射光谱带内，且所述抑制光束的波长应长于荧光发射峰值波长。3.如权利要求2所述的基于突光寿命差分的超分辨显微方法,其特征在于,对所述突光强度信息通过时间相关单光子记数算法得到所述的荧光寿命信息。4.如权利要求3所述的基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：匡翠方，郝翔，李帅，顾兆泰，王轶凡，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：