一种用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架。本实用新型专利技术的固体样品架包括：底座、样品支架和样品槽；其中，样品支架安装在底座上，并能够在底座上进行360°的旋转；样品支架内设置有卡槽，样品槽嵌入样品支架的卡槽中，从而固定在样品支架上。本实用新型专利技术的样品支架设置在底座上，可旋转进行角度调整，有利于固体样品的荧光试验条件的优化；样品槽中设置的添加微量粉末样品的凹槽将样品量减少到5~10微升，其上可加盖盖玻片或固定片，操作简便、不易污染；适用于不同厂家不同型号的荧光分光光度计，具有普适性；结构简单、价格低廉、无污染、易清洗，能有效防止杂散光。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及荧光分光光度计，具体涉及一种用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架。
技术介绍
近年来，随着有机光电发光材料、液晶显示等技术蓬勃发展，固体荧光的应用越来越广泛。荧光指物质分子因吸收外来辐射的光子能量而从基态激发至激发态，再由第一电子激发单重态所产生的辐射跃迁返回到基态而伴随的发光现象。荧光分光光度计就是基于物质的这种性质而对其进行定性及定量分析的一种分析仪器。如图1所示，现有的荧光分光光度计包括光源01、单色器02、样品池03和检测器04 ;光源通常为氙灯发出紫外光，经单色器形成单色光作为激发光照射到样品池中的样品上，激发样品发出荧光，被通常为光电倍增管的检测器接收，然后进行定性及定量分析。然而，目前在市面上出售的各厂家的荧光分光光度计因结构、激发光斑的形状和位置等存在差异，所以检测固体样品所必需的固体样品架也形状迥异，主要存在以下弊端I)固体样品架基本上是45°，即激发光和样品的表面的夹角是45°，不具备角度调整能力；2)各厂家的固体样品架不具备仪器间的普适性，一旦损坏或遗失就需要重新购置，而且价格昂贵；3)大部分样品架的样品槽较大，需要样品量较多，不利于测试的重现性，也增加了样品合成的难度和污染的概率。
技术实现思路
为了克服现有技术中的问题，本技术提供了一种结构简单、价格低廉、无污染、易清洗，能有效防止杂散光，并且可适用于不同厂家的荧光分光光度计的通用型微量固体样品架。本技术的目的在于提供一种用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架。本技术的用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架包括底座、样品支架和样品槽；其中，样品支架安装在底座上，并能够在底座上进行360°的旋转；样品支架内设置有卡槽，样品槽嵌入样品支架的卡槽中，从而固定在样品支架上。样品槽为中间设置有凹槽的平板，用于放置待检测的固体样品。凹槽的尺寸很小，可以放置微量的粉末状的固体样品，固体样品量能够减小到5 10微升。凹槽的方向可以为水平方向，以适用于水平光路检测固体样品；凹槽的方向也可以为竖直方向，以适用于垂直光路检测样品。样品槽的材料采用不发光的有机材料，或者采用涂黑的铝或铜。本专利技术的通用型微量固体样品架进一步包括加盖在样品槽上的盖玻片，从而可以有效地防止固体样品污染。本专利技术的通用型微量固体样品架进一步包括加盖在样品槽上的固定片。对于膜状的固体样品，可直接夹在样品槽和固定片间，从而嵌入样品支架上，能够固定样品的位置。对于粉末状的固体样品，固体样品放置在样品槽中，加盖盖玻片，再加盖固定片，然后嵌入样品支架上，可以进一步防止粉末状的固体样品遗洒，并固定固体样品的位置。样品支架设置在底座上，能够在底座上进行360°的旋转，以优化固体样品测试条件。测试样品的发射荧光光谱时，对于液体样品，因为溶液的瑞利散射小，对发射的测量影响不是很大，所以一般激发光与发射光呈90° ;对于固体样品，因为其表面的反射光会很强，将严重影响对发射光谱的测量，为了避开反射光，要适当改变一下角度，但改变角度会影响发射光谱的能量，这就需要通过调整角度，综合优化测试条件，得到理想的测试结果。进一步，在底座的上表面设置有分度盘，以精确地控制旋转样品支架的角度，从而精确地调节入射光和出射光的角度。底座为方形,底面积的尺寸为12mmX 12mm。虽然各种不同厂家不同型号的突光分光光度计用来检测固体样品的固体样品架的形状迥异，但是用来检测液体样品的液体样品架的尺寸是同一的，其尺寸的外径均为12_X12mm。因此，本技术的尺寸与其相匹配，从而可以直接安装在各种不同型号的液体样品架上，具有普适性。本技术的优点I)样品支架设置在底座上，可旋转进行角度调整，有利于固体样品的荧光试验条件的优化；2)样品槽中设置的添加微量粉末样品的凹槽将样品量减少到5 10微升，其上可加盖盖玻片或固定片，操作简便、不易污染；3)适用于不同厂家不同型号的荧光分光光度计，如既适用于平行光路的荧光分光光度计如日本日立公司的F4500，又适用于垂直光路的荧光分光光度计如法国HORIBAJobin Yvon 公司的 FluoroMax_4P。附图说明图1为现有技术中的荧光分光光度计的结构示意图；图2为本技术的用于荧光分光光度计的通用型微量固体样品架的结构示意图；图3为本技术的竖直方向的样品槽的示意图，其中，(a)为竖直方向的样品槽的正视图，(b)为竖直方向的样品槽的剖面图；图4为本技术的水平方向的样品槽的示意图，其中，(a)为水平方向的样品槽的正视图，(b)为水平方向的样品槽的剖面图；图5为本技术的样品槽、盖玻片和固定片的透视图。具体实施方式以下结合附图，通过具体实施例，进一步阐述本技术。如图2所示，本技术的通用型微量固体样品架包括底座1、样品支架2和样品槽3 ;其中，样品支架2安装在底座I上，并能够在底座I上进行360°的旋转；样品支架2内设置有卡槽21，样品槽3嵌入样品支架的卡槽21中，从而固定在样品支架2上。底座I为方形，底面积的尺寸为12mmX12mm。样品槽3为中间设置有凹槽31的平板，用于放置待检测的固体样品。凹槽的方向可以为水平方向，以适用于水平光路检测固体样品，如日本日立公司的F4500的荧光分光光度计，如图3所示。凹槽的方向也可以为竖直方向，以适用于垂直光路检测样品，如法国HORIBA Jobin Yvon公司的FluoroMax_4P的突光分光光度计，如图4所示。如图5所示，对于粉末状的固体样品，固体样品放置在样品槽3中，加盖盖玻片4，再加盖固定片5，然后嵌入样品支架2上。对于膜状的固体样品，可直接夹在样品槽3和固定片5间。最后需要注意的是，公布实施例的目的在于帮助进一步理解本技术，但是本领域的技术人员可以理解在不脱离本技术及所附的权利要求的精神和范围内，各种替换和修改都是可能的。因此，本技术不应局限于实施例所公开的内容，本技术要求保护的范围以权利要求书界定的范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通用型微量固体样品架，其特征在于，所述固体样品架包括：底座（1）、样品支架（2）和样品槽（3）；其中，样品支架（2）安装在底座（1）上，并能够在底座（1）上进行360°的旋转；样品支架（2）内设置有卡槽（21），样品槽（3）嵌入样品支架的卡槽（21）中，从而固定在样品支架（2）上。

【技术特征摘要】
1.一种通用型微量固体样品架，其特征在于，所述固体样品架包括底座(I)、样品支架(2 )和样品槽(3 );其中，样品支架(2 )安装在底座(I)上，并能够在底座(I)上进行360 °的旋转；样品支架(2)内设置有卡槽(21)，样品槽(3)嵌入样品支架的卡槽(21)中，从而固定在样品支架(2)上。2.如权利要求1所述的固体样品架，其特征在于，所述样品槽(3)为中间设置有凹槽(31)的平板，用于放置待检测的固体样品。3.如权利要求2所述的固体样品架，其特征在于，所述凹槽(31)的方向为水平方向或者竖直方向。4...

【专利技术属性】
技术研发人员：关妍，陈明星，潘伟，邱海林，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：实用新型
国别省市：