用于提高颗粒成像设备中的测量准确度的装置、系统和方法制造方法及图纸

一种用于提高成像细胞计量中的测量准确度的装置、系统和方法。该系统可包括光检测器，该光检测器被配置成测量第一颗粒发出的光和第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光。此外，该系统可包括耦合至光检测器的处理器，其中该处理器被配置成确定该交迭区域中来自第一颗粒的光的贡献，并确定该交迭区域中来自第二颗粒的光的贡献。该处理器还可被配置成从来自第一颗粒的光的贡献中减去来自第二颗粒的光的贡献，并确定第一颗粒发出的光的强度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于图像数据处理的方法和系统。一些实施例涉及用于执行用于处理颗粒的图像的一个或超过一个步骤的方法和系统。相关技术的描述利用诸如电荷耦合器件(CXD)检测器之类的检测器的成像用于生物技术应用。在一些应用中，CCD被配置成测量颗粒响应于光源而发出的荧光。取决于存在多少特定荧光物质，颗粒可能具有不同的荧光强度。荧光物质的量可指示若干状况。例如，荧光的量可指示物质的存在或不存在，或颗粒对特定物质的吸收。
技术实现思路
提出了一种提高颗粒成像设备中的测量准确度的方法。在一个实施例中，该方法可包括测量第一颗粒发出的光并测量第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光。在一些实施例中，该方法可包括确定该交迭区域中来自第一颗粒的光的贡献，并确定该交迭区域中来自第二颗粒的光的贡献。此外，该方法可包括从来自第一颗粒的光的贡献中减去来自第二颗粒的光的贡献，并确定第一颗粒发出的光的强度。在一些实施例中，测量由第一颗粒和第二颗粒发出的光可利用二维CXD检测器来执行。在一些实施例中，光检测器可以是CMOS检测器或量子点检测器。此外，在一些实施例中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.06.30 US 12/827,8001.一种用于提高颗粒测量设备中的测量准确度的方法，包括 测量第一颗粒发出的光； 测量第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光； 确定所述交迭区域中来自所述第一颗粒的光的贡献； 确定所述交迭区域中来自所述第二颗粒的光的贡献； 从来自所述第一颗粒的光的贡献中减去来自所述第二颗粒的光的贡献；以及 确定所述第一颗粒发出的光的强度。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用CCD检测器来执行对第一颗粒和第二颗粒发出的光的测量。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用CMOS检测器来执行对第一颗粒和第二颗粒发出的光的测量。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用量子点检测器来执行对第一颗粒和第二颗粒发出的光的测量。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述交迭区域中来自所述第二颗粒的光的贡献包括计算来自第二颗粒的光的高斯分布。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括丢弃所述第一颗粒的测量结果。7.一种用于提高颗粒测量设备中的测量准确度的方法，包括 测量第一颗粒发出的光； 测量第二颗粒发出的光，其中所述第二颗粒发出的光的至少一部分被所述第一颗粒反射； 确定被所述第一颗粒反射的来自所述第二颗粒的光的贡献；以及如果被所述第一颗粒反射的来自第二颗粒的光的贡献高于预定值，则可丢弃所述第一颗粒的测量结果。8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，确定被第一颗粒反射的来自第二颗粒的光的贡献包括测量第一颗粒与第二颗粒之间的距离。9.一种包括计算机可读代码的有形计算机可读介质，所述计算机可读代码在被计算机执行时使计算机执行操作，所述操作包括 测量第一颗粒发出的光； 测量第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光； 确定所述交迭区域中来自所述第一颗粒的光的贡献； 确定所述交迭区域中来自所述第二颗粒的光的贡献； 从来自所述第一颗粒的光的贡献中减去来自所述第二颗粒的光的贡献；以及 确定所述第一颗粒发出的光的强度。10.如权利要求9所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：W·D·罗斯，M·S·费希尔，
申请(专利权)人：卢米尼克斯股份有限公司，
类型：
国别省市：