【技术实现步骤摘要】
本专利技术大体上涉及的是集成电路,并且更具体地涉及的是接合焊盘结构。
技术介绍
集成电路通常形成在衬底(诸如,半导体晶圆)上。衬底上包括了接合焊盘(结合焊盘)。接合焊盘向集成电路器件提供了界面,通过该界面可以制造与器件的电连接。专利技术人所知的以前的技术惯于使用接合焊盘(诸如,热压焊或热超声焊引线接合、倒装技术以及其他技术)来提供从封装终端到集成电路的连接
技术实现思路
·根据本专利技术的一个方面,提供了一种接合焊盘结构,包括第一钝化层,其中,所述第一钝化层覆盖了上部导电层的一部分,并且通过第一开口暴露出所述上部导电层;接合焊盘,其中,所述接合焊盘覆盖了所述第一钝化层的一部分,并且其中,所述接合焊盘覆盖了所述第一钝化层中的所述第一开口,以形成凹槽区域,并且其中,所述接合焊盘与通过所述第一开口暴露出的所述上部导电层相接触;以及第二钝化层,其中,所述第二钝化层至少覆盖了所述接合焊盘中的所述凹槽区域。在该接合焊盘结构中,所述接合焊盘结构进一步包括所述上部导电层,其中,所述上部导电层具有与所述接合焊盘基本相同的尺寸,并且设置在所述接合焊盘正下方;下部导电层,其中,所述下部导 ...
【技术保护点】
一种接合焊盘结构,包括:第一钝化层,其中,所述第一钝化层覆盖了上部导电层的一部分,并且通过第一开口暴露出所述上部导电层;接合焊盘,其中,所述接合焊盘覆盖了所述第一钝化层的一部分,并且其中,所述接合焊盘覆盖了所述第一钝化层中的所述第一开口,以形成凹槽区域,并且其中,所述接合焊盘与通过所述第一开口暴露出的所述上部导电层相接触;以及第二钝化层,其中,所述第二钝化层至少覆盖了所述接合焊盘中的所述凹槽区域。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:陈英儒,陈宪伟,于宗源,梁世纬,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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