【技术实现步骤摘要】
半导体装置及其数据传输方法相关申请的交叉引用本申请要求2011年8月26日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2011-0085677的优先权,其全部内容通过引用合并于此。
本专利技术涉及一种半导体装置,更具体而言涉及一种3D(三维)半导体装置及其数据传输方法。
技术介绍
为了改善半导体装置的集成度,已开发出3D(三维)半导体装置。3D半导体装置通常包括被层叠并封装的多个芯片以增加集成度。在3D半导体装置中,因为垂直层叠两个或更多个芯片,故可以在相同的面积内实现最大的集成度。可以用各种方法来实现3D半导体装置。在其中一种方法中,可以层叠具有相同结构的多个芯片,然后利用诸如金属线的导线将所述多个芯片彼此连接,使得所述多个芯片如同一个半导体装置操作。近年来,本领域已公开一种TSV(穿通硅通孔,through-siliconvia)式半导体装置,其中,穿通硅通孔被形成为贯穿多个层叠的芯片,使得所有芯片彼此电连接。在TSV式半导体装置中,因为穿通硅通孔垂直地贯穿各个芯片以将各个芯片彼此电连接,所以相比于经由外围引线将各个芯片彼此连接的半导体装置而言,可以有效地减小封装的面积。构成3D半导体装置的多个芯片通常通过分成多个物理存储列(physicalrank)或逻辑存储列(logicalrank)来进行操作。也就是说,进行配置使得响应于芯片选择命令或地址而选中的存储列来执行数据读取或写入操作。所述多个存储列每个都共享数据输入/输出线和数据焊盘。数据输入/输出线经由贯穿所述多个芯片的穿通硅通孔而彼此连接,并经由与设置在主芯片中的共享数据焊盘连接的共享通道而与外 ...
【技术保护点】
一种半导体装置,包括:正常数据线,所述正常数据线与数据线选择单元连接;辅助数据线,所述辅助数据线与所述数据线选择单元连接;以及所述数据线选择单元,所述数据线选择单元被配置为响应于命令信号而将数据输出至所述正常数据线和所述辅助数据线之一。
【技术特征摘要】
2011.08.26 KR 10-2011-00856771.一种半导体装置,包括:正常数据线,所述正常数据线与数据线选择单元连接;辅助数据线,所述辅助数据线与所述数据线选择单元连接;以及所述数据线选择单元,所述数据线选择单元被配置为响应于命令信号而将数据输出至所述正常数据线和所述辅助数据线之一,其中,所述命令信号包括写入命令和读取命令,并且其中,当所述读取命令是在所述写入命令输入后在预定时间内输入时,所述数据线选择单元将数据输出至所述辅助数据线。2.如权利要求1所述的半导体装置,其中,所述数据线选择单元包括:控制信号发生部,所述控制信号发生部被配置为响应于所述写入命令、所述读取命令、以及操作信息信号而产生路径选择信号;以及路径选择部,所述路径选择部被配置为响应于所述路径选择信号而将数据输出至所述正常数据线和所述辅助数据线之一。3.如权利要求2所述的半导体装置,其中,所述操作信息信号包括所述预定时间,所述读取命令能够在所述写入命令输入后在所述预定时间之后输入。4.一种包括相互层叠的多个芯片的半导体装置,包括:正常数据线,所述正常数据线由所述多个芯片共享以用于传送数据;辅助数据线,所述辅助数据线由所述多个芯片共享以用于传送数据;以及数据线选择单元,所述数据线选择单元被设置在各个芯片中,且被配置为响应于命令信号而将数据输出至所述正常数据线和所述辅助数据线之一,其中,所述命令信号包括写入命令和读取命令,并且其中,所述数据线选择单元被配置为,当所述读取命令是在所述写入命令输入至第二芯片之后在预定时间以内输入至第一芯片时,将所述第一芯片的数据输出至所述辅助数据线。5.如权利要求4所述的半导体装置,其中,所述数据线选择单元每个都包括:控制信号发生部,所述控制信号发生部被配置为响应于所述写入命令、所述读取命令、以及操作信息信号而产生路径选择信号;以及路径选择部,所述路径选择部被配置为响应于所述路径选择信号而将所述第一芯片的数据输出至所述正常数据线和所述辅助数据线之一。6.如权利要求5所述的半导体装置,其中,所述操作信息信号包括所述预定时间,所述读取命令能够在所述写入命令输入至所述第二芯片后在所述预定时间之后输入至所述第二芯片。7.如权利要求4所述的半导体装置,其中,所述多个芯片通过被分成多个存储列来进行操作,并且其中,所述数据线选择单元被配置为,当所述读取命令是在所述写入命令输入至第二存储列之后在预定时间以内输入至第一存储列时,将所述第一存储列的数据输出至所述辅助数据线。8.如权利要求7所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:边相镇,
申请(专利权)人:海力士半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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