半导体器件塑封抽真空装置制造方法及图纸

技术编号:8382056 阅读:202 留言:0更新日期:2013-03-06 22:50
本发明专利技术涉及半导体器件封装技术领域,尤其是涉及半导体器件塑封抽真空装置。其包括有塑封机,塑封机上设有塑封模具,塑封模具合模后可形成密封空间,一真空容器罐通过真空管道连通塑封模具合模后形成的密封空间,于真空管道上设有抽气阀、放气阀及真空压力表,真空压力表通过压力信号线连接塑封机进行信号控制;所述真空容器罐与一真空泵连通。本发明专利技术通过抽真空,可使产品在真空工艺条件下外观质量得到明显改善,提升其成品率,符合产业利用及推广,其结构简单,科学合理,投资成本低,且操作运行简便,维护检修十分方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体器件封装
,尤其是涉及半导体封装辅助装置。
技术介绍
作为半导体分立器件产品,为了有效保护其芯片和内部焊接引线,需要使用环氧树脂把焊接在引线框架上的芯片和引线进行封装,形成一个坚硬保护体。然而某些产品(如S0T-186A,S0T-113等)因对其性能有特别的要求,使其载芯板背面环氧树脂保护层厚度只有O. 3MM左右。在这条件下,应用传统的封装工艺生产,其成品率低。产品外观缺陷主要体现在塑封体背面针孔、树脂填充不良和高压测试耐压值低等缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种结构简单,易制作的半导体器件塑封抽真空装置,通过抽真空装置,可使产品在真空工艺条件下成形,提升其成品率。为达到上述目的,本专利技术采用如下技术方案半导体器件塑封抽真空装置,包括有塑封机,塑封机上设有塑封模具,塑封模具合模后可形成密封空间,一真空容器罐通过真空管道连通塑封模具合模后形成的密封空间,于真空管道上设有抽气阀、放气阀及真空压力表,真空压力表通过压力信号线连接塑封机进行信号控制;所述真空容器罐与一真空泵连通。上述方案中,在真空管道上还设有空气过滤器。上述方案中,真空容器罐与真本文档来自技高网...

【技术保护点】
半导体器件塑封抽真空装置,包括有塑封机(1),其特征在于:塑封机(1)上设有塑封模具(11),塑封模具(11)合模后可形成密封空间,一真空容器罐(2)通过真空管道(21)连通塑封模具(11)合模后形成的密封空间,于真空管道(21)上设有抽气阀(3)、放气阀(6)及真空压力表(4),真空压力表(4)通过压力信号线(41)连接塑封机(1)进行信号控制;所述真空容器罐(2)与一真空泵(5)连通。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄振忠谢伟波张伟洪郭树源蚁淡星
申请(专利权)人:汕头华汕电子器件有限公司
类型:发明
国别省市:

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