一种半导体产品站立度测量夹具装置制造方法及图纸

一种半导体产品站立度测量夹具装置，包括压针、弹簧和夹具，所述夹具上设有回形槽，压针穿过弹簧并被其压在回形槽中。本实用新型专利技术的压针将半导体器件抵住并固定在器件槽内，保证测量的准确度和产品质量的稳定性；弹簧提供回弹力，保证压针始终抵住半导体器件；压针穿过通孔，并且起导向作用；限位前段和限位后段的直径均大于限位孔直径，限制压针滑动行程；限位后段上设有手持段，方便操作；限位前段、限位中段与限位后段均为可拆卸连接，方便压针穿过限位孔和通孔。位孔和通孔。位孔和通孔。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体产品站立度测量夹具装置


[0001]本技术涉及的是一种夹具装置，尤其是一种半导体产品站立度测量夹具装置，属于测量装置


技术介绍

[0002]半导体在切筋成型后需对产品的站立度进行测量，如果产品的站立度超标会造成过程损耗和产品质量隐患，所有生产过程中必须对该因素进行监控。传统技术中，测量产品的站立度时只用两块小工件来固定产品定位，产品的水平度和垂直度在测量过程存在一定误差，容易造成测量数据出现误差。

技术实现思路

[0003]为了克服上述存在的问题，本技术提供一种定位准确、测量高效的产品站立度测量夹具装置。
[0004]为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：一种半导体产品站立度测量夹具装置，包括压针、弹簧和夹具，所述夹具上设有回形槽，压针穿过弹簧并被其压在回形槽中。
[0005]优选的，所述夹具上设有通孔，通孔与回形槽相通，压针穿过通孔。
[0006]优选的，所述夹具侧面设有挡板，压针穿过挡板。
[0007]优选的，所述压针包括依次相连的锥形头部、限位前段、限位中段和限位后段，所述锥形头部位于回形槽中，限位前段穿过通孔，限位中段穿过挡板，限位后段位于挡板外侧，限位前段、限位中段与限位后段均为可拆卸连接。
[0008]优选的，所述锥形头部直径大于通孔直径，锥形头部被弹簧压在回形槽中。
[0009]优选的，所述锥形头部包括锥体和锥头，锥头通过锥体被弹簧压在回形槽中。
[0010]优选的，所述挡板上设有限位孔，限位中段直径小于限位孔直径，限位前段和限位后段直径大于限位孔直径。
[0011]优选的，所述回形槽侧面设有器件槽。
[0012]优选的，所述挡板通过螺丝固定在夹具侧面。
[0013]优选的，所述挡板侧面设有圆孔，夹具侧面设有螺丝孔，螺丝穿过圆孔并与螺丝孔锁紧。
[0014]优选的，所述限位后段上设有手持段。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：压针将半导体器件抵住并固定在器件槽内，保证测量的准确度和产品质量的稳定性；弹簧提供回弹力，保证压针始终抵住半导体器件；压针穿过通孔，并且起导向作用；限位前段和限位后段的直径均大于限位孔直径，限制压针滑动行程；限位后段上设有手持段，方便操作；限位前段、限位中段与限位后段均为可拆卸连接，方便压针穿过限位孔和通孔。
附图说明
[0016]下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明。
[0017]图1是本技术的结构示意图。
[0018]图2是本技术的爆炸图。
[0019]图3是本技术压针的结构示意图。
[0020]图4是本技术的使用状态图。
[0021]图5是本技术的工作原理图。
[0022]附图中标记所对应的名称为：1
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夹具，2
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挡板，3
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螺丝，4
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压针，5
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半导体器件，6
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通孔，7
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螺丝孔，8
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器件槽，9
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限位孔，10
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圆孔，11
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弹簧，12
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锥头，13
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锥体，14
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限位前段，15
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限位中段，16
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限位后段，17
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手持段，18
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回形槽。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清晰、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均落入本技术保护的范围。
[0024]如图1
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图5所示：一种半导体产品站立度测量夹具装置，包括压针4、弹簧11和夹具1，所述夹具1上设有回形槽18，压针4穿过弹簧11并被其压在回形槽18中。所述夹具1上设有通孔6，通孔6与回形槽18相通，压针4穿过通孔6。所述夹具1侧面设有挡板2，压针4穿过挡板2。所述压针4包括依次相连的锥形头部、限位前段14、限位中段15和限位后段16，所述锥形头部位于回形槽18中，限位前段14穿过通孔6，起导向作用，限位中段15穿过挡板2，限位后段16位于挡板2外侧，限位前段14、限位中段15与限位后段16均为可拆卸连接，方便压针4穿过限位孔9和通孔6。所述锥形头部直径大于通孔6直径，锥形头部被弹簧11压在回形槽18中。所述锥形头部包括锥体13和锥头12，锥头12通过锥体13被弹簧11压在回形槽18中。所述挡板2上设有限位孔9，限位中段15直径小于限位孔9直径，限位前段14和限位后段16直径大于限位孔9直径，即限位中段15为压针4的行程。所述回形槽18侧面设有器件槽8，待测半导体器件5可嵌入器件槽8。所述挡板2通过螺丝3固定在夹具1侧面，所述挡板2侧面设有圆孔10，夹具1侧面设有螺丝孔7，螺丝3穿过圆孔10并与螺丝孔7锁紧，将挡板2固定住。所述限位后段16上设有手持段17，方便拉出压针4。
[0025]未装入半导体器件5时，压针4在弹簧11的作用力下抵在器件槽8侧面；测量时，拉开压针4，将待测半导体器件5装入器件槽8，松开压针4后，在弹簧11回弹力作用下，压针4的锥头12抵住半导体器件5，防止其松动，此时半导体器件5站立度不变，即可进行测量。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体产品站立度测量夹具装置，包括压针和夹具，其特征在于：所述夹具上设有回形槽，压针位于回形槽中，压针一端通过弹簧与夹具连接。2.如权利要求1所述的一种半导体产品站立度测量夹具装置，其特征在于：所述夹具上设有通孔，通孔一端与回形槽相连，压针与通孔滑动连接。3.如权利要求2所述的一种半导体产品站立度测量夹具装置，其特征在于：所述压针上设有锥形头部，所述锥形头部位于回形槽中，锥形头部直径大于通孔直径，锥形头部通过弹簧与夹具连接。4.如权利要求3所述的一种半导体产品站立度测量夹具装置，其特征在于：所述锥形头部包括锥体和锥头，所述锥体通过弹簧与夹具连接。5.如权利要求2所述的一种半导体产品站立度测量夹具装置，其特征在于：所述夹具侧面设有挡板，挡板上设有限位孔，限位孔与通孔同轴，限位孔直径小于通孔直径，压针上设有限...

【专利技术属性】
技术研发人员：王翀，纪往杰，叶利发，黄振忠，
申请(专利权)人：汕头华汕电子器件有限公司，
类型：新型
国别省市：