一种功率器件引脚外形检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术的提供一种功率器件引脚外形检测装置，包括与功率器件规格匹配以便该功率器件可以滑行的轨道模块，所述轨道模块上还有测量模块，该测量模块有一轨道压板，该轨道压板与轨道模块配合使功率器件的塑封体可以滑行通过，测量模块还有与引脚匹配的若干引脚通道，引脚通道分别垂直于轨道压板底面，将功率器件从轨道模块的滑行轨道通过，如果顺利通过引脚通道，则产品引脚外形合格，如果卡在引脚通道前方或引脚通道中，则产品外形不合格，取出后可作相应处理，测试过程简单方便。测试过程简单方便。测试过程简单方便。

【技术实现步骤摘要】
一种功率器件引脚外形检测装置


[0001]本技术涉及半导体芯片封装产品检测设备，具体是功率器件引脚外形检测装置。

技术介绍

[0002]功率器件的封装过程是将芯片安装在载芯板上，用焊线连接引脚，塑封，剪切分离去除封装框架，引脚冲压成型等步骤，再经电性能测试成为合格的封装产品。在一些情况下，引脚需要弯曲，弯曲段末端与塑封体之间呈垂直布置，产品成型之后经过一系列的工艺处理和电性能测试后，引脚容易出现变形，尤其是引脚末端与塑封体的垂直程度肉眼难以判断，因此容易出现引脚外形不合格产品。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种功率器件引脚外形检测装置，可简便地对功率器件引脚外形不合格的产品及时剔除并作出处理。
[0004]本技术的功率器件引脚外形检测装置包括与功率器件规格匹配以便该功率器件可以滑行的轨道模块，所述轨道模块上还有测量模块，该测量模块有一轨道压板，该轨道压板与轨道模块配合使功率器件的塑封体可以滑行通过，测量模块还有与引脚匹配的若干引脚通道，引脚通道分别垂直于轨道压板底面。
[0005]本技术将功率器件从轨道模块的滑行轨道通过，如果顺利通过引脚通道，则产品引脚外形合格，如果卡在引脚通道前方或引脚通道中，则产品外形不合格，取出后可作相应处理，测试过程简单方便，可用于引脚成型后任意一个工艺环节，将本技术装置安装到工艺末端的收集成品的轨道中便可简易检出功率器件引脚外形是否合格。
附图说明
[0006]图1是本技术功率器件引脚外形检测装置组装图。
[0007]图2是图1检测装置的零件分解图。
[0008]图3是测量模块下侧面立体图。
[0009]附图标记：轨道模块1，槽道11，轨道上盖2，测量模块3，轨道压板31，靠近槽道的引脚通道32，远离槽道的引脚通道33，功率器件4，塑封体41，远离塑封体的2个引脚42，靠近塑封体的引脚43。
具体实施方式
[0010]如图所示的引脚外形检测装置用于对3个弯曲引脚的TO
‑
220封装功率器件的引脚外形进行检测，对于5个或7个引脚的功率器件的引脚外形检测，相应增加1个或多个引脚通道便可实现。该引脚外形检测装置有轨道模块1，轨道模块1中有槽道11，该槽道11与功率器件4的塑封体41规格相匹配，以便该功率器件4可以在轨道模块1 的槽道11中滑行，轨道模
块1 有轨道上盖2。轨道模块1后端有测量模块3，该测量模块3包括与轨道模块1匹配以便封装产品4的塑封体41滑行通过的轨道压板31，以及可供功率器件4的引脚42、43通过的两个引脚通道32、33，两个引脚通道32、33分别与轨道压板31的底面相互垂直，靠近槽道11的引脚通道32匹配于功率器件4的3个引脚中靠近塑封体41的引脚43，远离槽道11的引脚通道33匹配功率器件4的3个引脚中远离塑封体41的2个引脚42，引脚通道32、33的宽度为引脚42、43允许的尺寸或角度偏差范围。
[0011]测试时，轨道模块1前端处于高位，以倾斜或垂直于水平面方式连接生产过程中一个工艺装置收集该工艺生产出来的功率器件4。如果顺利通过测量模块3，说明功率器件4中远离塑封体41的2个引脚42通过远离槽道11的引脚通道33，靠近塑封体41的引脚43通过靠近槽道11的引脚通道32，则该封装产品4的3个引脚外形合格，如果功率器件4在槽道11或者引脚通道32、33被卡住，则该功率器件4引脚外形不合格，需要进行矫正处理。
[0012]上面参照附图说明了本技术的一种实施例，但本技术并不局限于上述实施例。在本技术技术思想范围内可以作种种变更，它们都属于本技术的保护范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功率器件引脚外形检测装置，包括与功率器件规格匹配以便该功率器件可以滑行的轨道模块，其特征在于，所述轨道模块上还有测量模块，该测量模块有一轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小珍，李彬，张伟洪，张锦雄，吴琼涛，闫伟强，洪杰文，
申请(专利权)人：汕头华汕电子器件有限公司，
类型：新型
国别省市：