【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种转向架参数测试检测设备，确切地说，本专利技术涉及一种转向架参数测试台构架定位装置。
技术介绍
转向架参数测定时，转向架的构架定位是非常重要的环节，若构架在某方向未被定位，则不能测定该方向上的刚度参数；若构架在某方向上定位不准，则会造成测量精度下降，产生测量误差。目前，构架的定位方式可分为两种，即轮对固定或构架固定。利用轮对固定方式，测试时对构架施力，使构架与转向架之间产生相对位移，但此固定方式无法区分一系及二系悬挂的刚度参数，只能进行转向架综合刚度参数的测量。利用构架固定方式，测试时如果对轮对或轮轴施力，实现轮对相对于构架的移动可以测量出一系悬挂的刚度参 数；如果对车体或模拟车架施力，实现车体相对于构架的移动可以测量出二系悬架的刚度参数。在轨道车辆转向架综合参数测量中，通常采用第二种方法，这就要求试验台可以对转向架构架进行快速、准确、方便、可靠地固定。在测定轨道车辆转向架参数的同时，要求能够很好的固定转向架构架，以便能够精确、快速的测定其性能参数，为转向架新车定型及性能测试提供条件。目前，轨道车辆的种类型号繁多，而现有的转向架参数测试台不能够提...
【技术保护点】
一种转向架参数测试台构架定位装置，其特征在于，所述的转向架参数测试台构架定位装置包括1号止推横梁总成（E）、2号止推横梁总成（F）、1号横向反力支座（A）、2号横向反力支座（B）、3号横向反力支座（C）、4号横向反力支座（D）、纵横向约束框架（G）、1号垂向定位机构总成（H）与2号垂向定位机构总成（K）；1号止推横梁总成（E）的两端固定在转向架参数测试台（Ι）中1号立柱（m）及4号立柱（s）的下部，2号止推横梁总成（F）的两端固定在转向架参数测试台（Ι）中2号立柱（p）及3号立柱（t）的下部；1号横向反力支座（A）与2号横向反力支座（B）均布在1号止推横梁总成（E）与2号止...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：苏建，王秀刚，陈熔，曹晓宁，张栋林，徐观，宫海彬，田广东，潘洪达，戴建国，武书扬，田宗举，
申请(专利权)人：吉林大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。