测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试设备，包括交流电源电路、相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路；相位产生电路包括第三半波整流电路；第三半波整流电路包括：由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路，与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路，由二极管D6、D7构成的与门；用来设定相对于电流滞后电压135°的整定电压的电阻R9和R10，电阻R11和电位器WR1，运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135°的控制信号。本实用新型专利技术结构较为合理，能够满足使用者的特殊需求。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

测试设备
本技术涉及一种测试设备。
技术介绍
根据国家标准GB14048. 2-2001，GB16916. 1-2003，GB16917. 1-2003 等规定对无论是突然施加或缓慢上升的具有规定的剩余脉动直流或剩余正弦交流电流，能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器称为A型漏电断路器。对无论是突然施加或缓慢上升的具有无直流分量的剩余正弦交流电流，能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器，称为AC型漏电断路器。由上可知，A型漏电断路器覆盖了 AC型漏电断路器的功能。上述“规定的剩余脉动电流”为以下4种情况电流滞后电压0°的半波整流电流、 电流滞后电压90°的半波整流电流、电流滞后电压135°的半波整流电流、含有6mA直流的电流滞后电压0°的半波整流电流。现有技术中不存在对A型漏电断路器进行测量的装置。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种测试范围较广且性能较为稳定可靠的测试设备。为解决上述技术问题，本技术提供了一种测试设备，包括交流电源电路、相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路；相位产生电路包括电流滞后电压135°的第三半波整流电路；所述第三半波整流电路包括由变压器T2、二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试设备，包括交流电源电路(1)、相位产生电路(2)、交流漏电调节电路(3)和时间检测电路(4)；其特征在于：相位产生电路(2)包括电流滞后电压135°的第三半波整流电路；所述第三半波整流电路包括：由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路，与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路，由二极管D6、D7构成的与门；用来设定相对于电流滞后电压135°的整定电压的电阻R9和R10，用来调节运算放大器IC1B的反向端的相对于电流滞后电压135°的比较电压的电阻R11和电位器WR1，运算放大器IC1B的输出端用于输出电流...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小青，
申请(专利权)人：苏州贝腾特电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：