本发明专利技术公开了一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。本发明专利技术还公开了一种光配向液晶材料的终点检测装置。实施本发明专利技术的光配向液晶材料的终点检测方法及装置，通过检测光配向的终止点控制配向的反应终点，降低玻璃基板个体差异对光配向的影响，且不会影响反应单体进行配向的反应过程。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示领域，尤其涉及一种光配向液晶材料的终点检测方法及装置。
技术介绍
随着信息社会的发展，人们对显示设备的需求得到了增长。为了满足这种需求，最近几种平板显示设备，例如IXD液晶显示器件，F1DP (Plasma Display Panel,等离子显示板)，OLED (Organic Light-Emitting Diode有机发光二极管)都得到了迅猛的发展。在平板显示器件当中，液晶显示器件由于其重量低、体积小、能耗低的优点，正在逐步取代冷阴极显示设备。但最初出现的TN(Twisted nematic,扭曲向列型)或STN(Super twisted nematic,超扭曲向列型)液晶显示器都存在对比度低,视角差等问题点。随着人们生活水平的提高，对显示器件的要求也越来越高，因此IPS (In Plan Switch,面内开关显示模式)，VA (Vertical Alignment,垂直配向显示模式)等广视角显示技术得到了飞跃的发展。对于IPS面内开关显示模式，其具有非常好的广视角显示效果，但是为了实现较好的面内开关显示模式的显示效果，在其生产过程中，对于摩擦工序的要求也就非常的高，这在很大程度上造成其摩擦的工艺冗余度较小。在大规模生产过程中，容易时不时地出现问题。同IPS面内开关模式相比，VA垂直配向模式在生产过程中不需要摩擦工艺，所以大大提高了其在大规模生产上的优势。目前，比较流行的是采用搀有高分子聚合单体的液晶，在后续的工艺过程中，通过紫外光和电的双重效果，实现光配向。这种显示模式被称为PSVA (PSVA Polymer stainedvertical alignment,高分子稳定垂直配向模式),其特点表现在彩膜侧既不存在突起,也不存在ITO slit (裂缝)。这不仅节省了彩膜的制作成本，而且还提高了整体的透过率。但是，由于高分子稳定垂直配向模式使用紫外光配向，且紫外光是通过玻璃基板、配向膜上的各个层别后，才照射到液晶上的，所以实际照射到液晶上的紫外光的照度受基板的影响非常大。在一般的生产控制上，都是通过控制照射时间来进行生产管理的。但是由于大量生产时，基板的个体差异非常大，所以单纯的控制照射时间往往会造成配向不足或者配向过度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种光配向液晶材料的终点检测方法及装置，通过检测光配向的终止点控制配向的反应终点，降低玻璃基板个体差异对光配向的影响，且不会影响反应单体进行配向的反应过程。为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤对液晶材料进行光配向，其包括在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应； 检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。优选的，所述检测所述液晶材料中所述反应单体残留数量的步骤包括以下步骤 对所述液晶材料进行红外光照射； 根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸的浓度下降值。优选的，所述根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸浓度下降值的步骤包括 获取所述肉桂酸成分中碳碳双键对特定波长红外光吸收强度的步骤。优选的，所述对所述液晶材料进行红外光照射的步骤包括以不引发所述反应单体发生聚合反应的红外光对所述液晶材料进行照射。优选的，所述检测所述液晶盒厚度变化数值的步骤至少包括以不引发所述反应单体发生聚合反应的入射光对所述液晶盒进行照射的步骤。优选的，所述入射光的波长为580nm。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为一种光配向液晶材料的终点检测装置，至少包括 用以产生电场的电场装置； 用以产生辐射光，使液晶材料中的反应单体在电场和辐射光的作用下发生聚合反应，进而实现液晶材料配向的辐射光装置； 用以检测所述液晶材料中所述反应单体残留数量的第一检测装置；以及用以判断所述检测出的所述反应单体的残留数量是否达到预设值的第一判断装置，当所述第一判断装置判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。优选的，所述第一检测装置至少包括 红外线发射探头，装设在液晶材料液晶盒的顶部，用于向液晶盒发射以不引发所述反应单体发生聚合反应的红外光； 红外线接收探头，装设在液晶盒的底部，用于接收穿透所述液晶盒的所述红外光；以及用于根据所述红外线发射探头发射红外光和所述红外线接收探头接收红外光情况，获取所述液晶盒中所述反应单体的红外光吸收强度，及反应单体中肉桂酸浓度下降值的浓度检测器。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为一种光配向液晶材料的终点检测装置，至少包括 用以产生电场的电场装置； 用以产生辐射光，使液晶材料中的反应单体在电场和辐射光的作用下发生聚合反应，进而实现液晶材料配向的辐射光装置； 用以检测液晶材料中液晶盒厚度变化数值的第二检测装置；以及用以判断所述检测出的所述液晶盒的厚度变化数值是否达到预设值的第二判断装置，当所述第二判断装置判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。优选的，所述第二检测装置至少包括 光源，用于产生以不引发所述反应单体发生聚合反应的入射光对所述液晶盒进行照射。本专利技术所提供的光配向液晶材料的终点检测方法及装置，具有如下有益效果通过检测反应单体的残留数量或液晶盒的厚度变化情况，判断光配向液晶材料的终止点，进而可以实施对光配向照射时间的自动控制，能够降低玻璃基板因个体差异对光配所造成的影响，且不会干扰反应单体进行光配向的反应过程。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。图I是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测方法实施例一的流程框图。图2是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测方法实施例一的具体流程框图。图3是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测方法实施例一中肉桂酸的分子结构图。图4是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测方法实施例二的流程框图。图5是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测装置实施例一的结构框图。图6是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测装置实施例一中检测反应单体残留数量的结构示意图。图7是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测装置实施例二的结构框图。图8是本专利技术用于光配向液晶材料的终点检测装置实施例二中检测液晶盒厚度变化数值的结构示意图。具体实施例方式下面参考附图对本专利技术的优选实施例进行描述。结合参见图I-图3，为本专利技术光配向液晶材料终点检测方法的实施例一。本实施例中的光配向液晶材料的终点检测方法应用在PSVA高分子稳定垂直配向模式中，参见图1，为专利技术用于光配向液晶材料的终点检测方法实施例一的流程框图，其包括以下步骤 对液晶材料进行光配向，其包括在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应； 检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量，判断检测本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，所述液晶材料光配向终止。
【技术特征摘要】
1.一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤 对液晶材料进行光配向，其包括在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应； 检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，所述液晶材料光配向终止。2.如权利要求I所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述检测所述液晶材料中所述反应单体残留数量的步骤包括以下步骤 对所述液晶材料进行红外光照射； 根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸的浓度下降值。3.如权利要求2所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸浓度下降值的步骤包括 获取所述肉桂酸成分中碳碳双键对特定波长红外光吸收强度的步骤。4.如权利要求2或3所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述对所述液晶材料进行红外光照射的步骤包括 以不引发所述反应单体发生聚合反应的红外光对所述液晶材料进行照射。5.如权利要求I所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述检测所述液晶盒厚度变化数值的步骤至少包括 以不引发所述反应单体发生聚合反应的入射光对所述液晶盒进行照射的步骤。6.如权利要求5所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述入射光的波长为580nm。7.—种光配向液晶材料的终点检测装置，至少包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐亮，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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