一种光配向液晶材料的终点检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，为所述液晶材料光配向的终止点。本发明专利技术还公开了一种光配向液晶材料的终点检测装置。实施本发明专利技术的光配向液晶材料的终点检测方法及装置，通过检测光配向的终止点控制配向的反应终点，降低玻璃基板个体差异对光配向的影响，且不会影响反应单体进行配向的反应过程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示领域，尤其涉及一种光配向液晶材料的终点检测方法及装置。
技术介绍
随着信息社会的发展，人们对显示设备的需求得到了增长。为了满足这种需求，最近几种平板显示设备，例如IXD液晶显示器件，F1DP (Plasma Display Panel,等离子显示板)，OLED (Organic Light-Emitting Diode有机发光二极管)都得到了迅猛的发展。在平板显示器件当中，液晶显示器件由于其重量低、体积小、能耗低的优点，正在逐步取代冷阴极显示设备。但最初出现的TN(Twisted nematic,扭曲向列型)或STN(Super twisted nematic,超扭曲向列型)液晶显示器都存在对比度低,视角差等问题点。随着人们生活水平的提高，对显示器件的要求也越来越高，因此IPS (In Plan Switch,面内开关显示模式)，VA (Vertical Alignment,垂直配向显示模式)等广视角显示技术得到了飞跃的发展。对于IPS面内开关显示模式，其具有非常好的广视角显示效果，但是为了实现较好的面内开关显示模式的显示效果，在其生产过程中，对于摩擦工序的要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，所述液晶材料光配向终止。

【技术特征摘要】
1.一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤 对液晶材料进行光配向，其包括在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应； 检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数值，判断检测出的所述反应单体的残留数量或所述液晶盒的厚度变化数值是否达到了预设值，当判断为是时，所述液晶材料光配向终止。2.如权利要求I所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述检测所述液晶材料中所述反应单体残留数量的步骤包括以下步骤 对所述液晶材料进行红外光照射； 根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸的浓度下降值。3.如权利要求2所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述根据所述液晶材料中所述反应单体的红外光吸收强度，获取反应单体中肉桂酸浓度下降值的步骤包括 获取所述肉桂酸成分中碳碳双键对特定波长红外光吸收强度的步骤。4.如权利要求2或3所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述对所述液晶材料进行红外光照射的步骤包括 以不引发所述反应单体发生聚合反应的红外光对所述液晶材料进行照射。5.如权利要求I所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述检测所述液晶盒厚度变化数值的步骤至少包括 以不引发所述反应单体发生聚合反应的入射光对所述液晶盒进行照射的步骤。6.如权利要求5所述的光配向液晶材料的终点检测方法，其特征在于，所述入射光的波长为580nm。7.—种光配向液晶材料的终点检测装置，至少包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亮，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：