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本发明公开了一种光配向液晶材料的终点检测方法，包括以下步骤：对液晶材料进行光配向，其包括：在电场作用下，利用辐射光照射液晶材料，以使液晶材料中的反应单体发生聚合反应；检测所述液晶材料中所述反应单体的残留数量或所述液晶材料中液晶盒的厚度变化数...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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