距离测定装置以及距离测定方法制造方法及图纸

距离测定装置包含：第1脉冲产生单元(135)，其产生基准信号；第2脉冲产生单元(137)，其产生对象物检测信号；时间测定部(139)，其测定从第1脉冲的产生时刻到第2脉冲的产生时刻的时间；第1相位检测部(141)，其使用第1频率的信号检测接收到的信号的第1相位；第2相位检测部(163)，其使用第2频率的信号检测接收到的信号的第2相位；以及距离运算部(165)，其根据上述时间测定部、第1相位检测部以及第2相位检测部的输出，运算到达上述对象物的距离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及测定距测定对象物的距离的。
技术介绍
W02009/050831A1公开了如下的距离测定装置，其为了测定距测定对象物的距离，向对象物发送电磁波(例如，微波)的信号，接收对象物反射的信号，来测定电磁波往返对象物的时间，另外检测其间的相位变化(相位差)，使用上述时间来实施粗略距离测定，使用上述相位差来实施精密距离测定，并组合它们求出最终的距离测定值。根据上述装置，组合使用时间的粗略距离测定和使用相位差的精密距离测定，所以能够在较宽的范围内实施精度较高的距离测定。 但是，在上述装置中，如后所述，基于相位差检测的精密距离测定的精度受到使用时间的粗略距离测定的精度的制约。
技术实现思路
专利技术所要解决的问题因此，存在对不受使用时间的粗略距离测定的精度制约的的需求。解决问题的手段本专利技术的距离测定装置具备第I伪随机信号产生部，其产生时钟频率为的第I伪随机信号；第2伪随机信号产生部，其产生与第I伪随机信号相同模式、且时钟频率为比上述时钟频率稍低的f2的第2伪随机信号；第I乘法器，其使第I伪随机信号与第2伪随机信号相乘;第I载波产生部，其产生第I频率的载波；第I调制部，其利用第I伪随本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：松本幸一，加藤裕雅，
申请(专利权)人：株式会社尼利可，
类型：
国别省市：