本发明专利技术涉及了圆轴测量装置的技术领域，公开了包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴长度的第一测量机构以及置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴外径、跳动值及真圆度的第二测量机构；第一测量机构包括两个相间设置的轴承组件及传感器，利用两轴承组件之间距离变化，利用传感器测到圆轴长度；第二测量机构包括发射平行光的光学检测仪，利用平行光照在圆轴上的结构，得到圆轴的外径、跳动值及真圆度。与现有技术相比，该测量装置对圆轴的测量速度较快，自动化操作，准确度高、效率高，满足精密生产的需要。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及圆轴测量装置的
，尤其涉及。
技术介绍
圆轴是机械领域中常用的零件，一般在各种机械设备的组装中都会用到。对于不同的机械设备，对圆轴的长度、外径、跳动值以及真圆度的要求也不一样，因此，在机械设备组装之前，首先必须选择与要求相匹配的圆轴，且对于生产、加工企业而言，这也是工序开始的前期必备程序。若圆轴的长度、外径、跳动值以及真圆度与要求有过大偏差，则会损害机械设备的运作，造成机械设备损坏等现象，因此，对圆轴的长度、外径、跳动值以及真圆度进行测量并分类则成为工业企业生产所必须进行的工序。现有技术中，通常都采用普通卡尺或百分表测量圆轴的长度、外径、跳动值以及真圆度，这样，存在测量速度慢、测量准确度低以及效率低的问题，不能满足精密生产的需要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置，旨在解决现有技术中采用卡尺或百分表测量圆轴长度、外径、跳动值及真圆度，以致测量速度慢、测量准确度低、效率低及不能满足精密生产需要的问题。本专利技术是这样实现的，圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴长度的第一测量机构以及置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴外径、跳动值及真圆度的第二测量机构；所述第一测量机构包括第一导轨以及两分别相间设于所述第一导轨上的第一轴承组件及第二轴承组件；所述第一轴承组件包括设于所述第一导轨一端的第一底座以及设于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第一抵接轴，所述第一底座上还设有驱动圆轴转动的动力组件；所述第二轴承组件包括设于所述第一导轨另一端的第二底座以及设于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第二抵接轴，所述第二底座上还设有检测移动距离的传感器以及可驱动所述第二抵接轴及所述传感器向前移动的气缸；所述第二测量机构包括两设于所述基座上且分别平行置于所述第一导轨两侧的第二导轨、分别连接于两所述第二导轨的横板以及分别置于所述横板两端且通过发出平行光测量转动中的圆轴的外径、跳动值及真圆度并将测量结果传至所述控制中心的光学检测仪。本专利技术还提供了上述圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置的测量方法，如下将圆轴置于所述第一轴承组件及所述第二轴承组件之间；预设所述第一抵接轴与第二抵接轴之间的距离大于所述圆轴的长度；所述动力组件驱动所述圆轴转动，所述气缸驱动所述第二抵接轴及所述传感器向前移动；直至所述第一抵接轴及第二抵接轴分别抵接于圆轴的两端，传感器将移动的距离传递至所述控制中心，所述控制中心根据预设距离与移动距离之差得到圆轴的长度数值；当所述圆轴转动后，所述光学检测仪发出平行光，平行光受圆轴遮蔽产生阴影，得到阴影的间距d，且得到所述平行光于圆轴边缘切点与平行光边缘的距离L1或L2;当圆轴转动多周后，得到多组数据为=CKc^d2,......,dn), L1 (L11, L12 ^......山η)或L2(L21, L22,......,L2n);控制中心计算CKdpd2,......，dn)的平均值，得到圆轴的平均外径数值，计算L1 (Ln，L12,......，Lln) ^L2(L21, L22,......，L2n)中最大值及最小值之差，得到圆轴跳动值，计算(Kd1, d2,......，dn)中最大值及最小值之差，得到圆轴真圆度的数值。 与现有技术相比，本专利技术中的测量装置可以对圆轴的长度、外径、跳动值及真圆度进行自动化测量，且操作速度快、效率高及准确率高，满足精密生产的需要。附图说明图I是本专利技术提供的圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置的立体示意图；图2是本专利技术实施例提供的第一轴承组件与动力组件配合的立体示意图；图3是本专利技术实施例提供的第二轴承组件的立体示意图；图4是本专利技术实施例提供的第二测量机构的立体示意图；图5是本专利技术实施例提供的光学检测仪发出平行光至圆轴上的效果示意图；图6是本专利技术实施例提供的圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置运用于生产线中的立体示意图。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术提供了圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴长度的第一测量机构以及置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴外径、跳动值及真圆度的第二测量机构；所述第一测量机构包括第一导轨以及两分别相间设于所述第一导轨上的第一轴承组件及第二轴承组件；所述第一轴承组件包括设于所述第一导轨一端的第一底座以及设于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第一抵接轴，所述第一底座上还设有驱动圆轴转动的动力组件；所述第二轴承组件包括设于所述第一导轨另一端的第二底座以及设于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第二抵接轴，所述第二底座上还设有检测移动距离的传感器以及可驱动所述第二抵接轴及所述传感器向前移动的气缸；所述第二测量机构包括两设于所述基座上且分别平行置于所述第一导轨两侧的第二导轨、分别连接于两所述第二导轨的横板以及分别置于所述横板两端且通过发出平行光测量转动中的圆轴的外径、跳动值及真圆度并将测量结果传至所述控制中心的光学检测仪。利用本专利技术中的测量装置，可以实现对圆轴长度、外径、跳动值及真圆度自动化测量，其操作速度快、效率高，且准确度也高，满足精密生产的需要。以下结合具体附图对本专利技术的实现进行详细的描述。如图I飞所示，为本专利技术的一较佳实施例。本实施例中的测量装置1，用于测量圆轴2的长度、外径、跳动值以及真圆度，其包括基板10、设置在基板10上且可对圆轴2长度进行测量的第一测量机构、设置在基板10上且可对转动的圆轴2的外径、跳动值及真圆度进行测量的第二测量机构13以及控制中心，在控制中心的控制下，上述的第一测量机构还可以带动圆轴2转动，圆轴2只有转动，第二测量机构13才可以对转动中的圆轴2的跳动值及真圆度进行测量。 具体地，上述的第一测量结构包括设置在基板10上的第一导轨110以及两相间设置在第一导轨Iio上的轴承组件，两轴承组件之间具有间隙，圆轴2呈轴向放置在该间隙中，两端分别由轴承组件支撑。为了便于叙述，两轴承组件分别为第一轴承组件11以及第二轴承组件15。上述的第一轴承组件11包括设置在第一导轨110 —端上的第一底座111，当然，第一底座111下端设有与第一导轨110配合的第一轨道，这样，使得第一底座111可以相对于第一导轨110移动；第一底座111的上端设有向下凹的第一限位槽，对应第一限位槽的位置，第一底座111的后侧设有第一抵接块112，该第一抵接块112中穿设有第一抵接轴113，该第一抵接轴113的一端穿设在第一抵接块112中，另一端向前延伸，通过上述的第一限位槽，延伸至第一底座111的前端，其可用于抵接在圆轴2的一端头上；在第一底座111的前端相间设置有两个第一滚轴114,该两第一滚轴114分别位于第一限位槽的下方,且分布在第一限位槽的左右两侧，这样，也就是第一限位槽以及两个第一滚轴114形成三角状，两个第一滚轴114的间隙不宜过大，当圆轴2的一端部置于第一轴承组本文档来自技高网...
【技术保护点】
圆轴长度、外径、跳动值及真圆度的测量装置，其特征在于，包括基座、控制中心、置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴长度的第一测量机构以及置于所述基座上且由所述控制中心控制测量圆轴外径、跳动值及真圆度的第二测量机构；所述第一测量机构包括第一导轨以及两分别相间设于所述第一导轨上的第一轴承组件及第二轴承组件；所述第一轴承组件包括设于所述第一导轨一端的第一底座以及设于所述第一底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第一抵接轴，所述第一底座上还设有驱动圆轴转动的动力组件；所述第二轴承组件包括设于所述第一导轨另一端的第二底座以及设于所述第二底座上且向前延伸可抵接于圆轴端头的第二抵接轴，所述第二底座上还设有检测移动距离的传感器以及可驱动所述第二抵接轴及所述传感器向前移动的气缸；所述第二测量机构包括两设于所述基座上且分别平行置于所述第一导轨两侧的第二导轨、分别连接于两所述第二导轨的横板以及分别置于所述横板两端且通过发出平行光测量转动中的圆轴的外径、跳动值及真圆度并将测量结果传至所述控制中心的光学检测仪。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郑青焕，
申请(专利权)人：深圳深蓝精机有限公司，
类型：发明
国别省市：
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