玻璃面板输送装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种玻璃面板输送装置，所述玻璃面板输送装置可以在输送玻璃面板时防止玻璃面板的有效区受损。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种设置在测试玻璃面板的阵列测试装置中的玻璃面板输送装置。
技术介绍
一般来说，平板显示器(FPD)是比具有布劳恩管(Braun Tube)的电视机或显示器更轻更薄的图像显示设备。液晶显示器(IXD)、等离子体显示面板(PDP)、场致发射显示器(FED)以及有机发光二极管(OLED)是已开发并使用的平板显示器的代表性实例。这些Fro中的IXD是以向排列为矩阵形状的液晶単元独立地提供基于图像信息的数据信号、并且因此控制液晶単元的透光性的方式来显示期望图像的图像显示设备。IXD薄且轻，而且还具有包括功耗低和操作电压低在内的许多其它优点，因此被广泛地使用。下面 将描述一种制造用在这种LCD中的液晶面板的典型方法。首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后，在对应于上玻璃面板的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。其后，将配向膜层分别施加至上玻璃面板和下玻璃面板。之后，摩擦配向膜层，以便为后来将要形成在配向膜层之间的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方向。此后，通过将密封胶涂布至玻璃面板中的至少ー个来形成密封胶图案，以保持玻璃面板之间的间隙、防止液晶漏出、并且密封玻璃面板之间的空间。其后，在玻璃面板之间形成液晶层，从而完成液晶面板。在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文中称为“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否断开连接、或检测像素单元是否显色不佳来实现的。在测试玻璃面板的操作中，玻璃面板输送装置用于将提供给阵列测试装置的玻璃面板输送至测试单元。玻璃面板输送装置包括吸附玻璃面板以支撑玻璃面板的吸附构件、以及线性地输送吸附构件的吸附构件移动单元。同时，玻璃面板包括有效区和无效区，有效区中的每个具有TFT和像素电极，并且实质地用在产品中，无效区形成在有效区之间而不具有TFT或像素电极，并且无效区上形成有作为用于切割玻璃面板的基线的虚切割线。在传统技术中，玻璃面板输送装置的吸附构件在不区分有效区和无效区的情况下吸附玻璃面板。然而，当吸附构件吸附玻璃面板的有效区时，可能损坏有效区。这种对有效区的损坏降低了最终产品的质量。
技术实现思路
因此，针对以上在现有技术中所产生的问题提出本专利技术，并且本专利技术的目的是提供一种可以在输送玻璃面板时防止玻璃面板的有效区受损的玻璃面板输送装置。为了实现以上目的，本专利技术提供ー种玻璃面板输送装置，所述玻璃面板具有设置在以预定距离彼此间隔的位置处的多个有效区、以及形成在有效区之间的无效区，有效区中的每个具有薄膜晶体管和像素电极。所述装置包括导轨，所述导轨沿输送玻璃面板的方向延伸；移动构件，所述移动构件联接至导轨以便能够移动；以及吸附构件，所述吸附构件设置在移动构件上。吸附构件利用吸附力支撑玻璃面板。吸附构件包括吸附部，所述吸附部具有适于防止吸附部与玻璃面板的有效区接触的尺寸和形状，以使玻璃面板的无效区吸附到吸附部并且由吸附部支撑。附图说明由以下结合附图的详细描述，可以更加清晰地理解本专利技术前述的和其它的目的、特征和优点，其中图I是示出具有根据本专利技术第一实施方式的玻璃面板输送装置的阵列测试装置的立体图；图2是示出要由根据本专利技术第一实施方式的玻璃面板输送装置输送的玻璃面板的不意图； 图3是图2的玻璃面板的部分放大图；图4至图6是示出根据本专利技术第一实施方式的玻璃面板输送装置的立体图；图7是示出图4的玻璃面板输送装置的侧视图；图8和图9是示出图4的玻璃面板输送装置的操作的示意图；图10和图11是示出使用图4的玻璃面板输送装置对准和输送玻璃面板的操作的示意图；图12是示出根据本专利技术第二实施方式的玻璃面板输送装置的吸附构件的立体图；图13是示出根据本专利技术第二实施方式的玻璃面板输送装置的吸附构件的修改例的立体图；图14是示出根据本专利技术第三实施方式的玻璃面板输送装置的吸附构件的立体图；以及图15是示出根据本专利技术第三实施方式的玻璃面板输送装置的吸附构件的修改例的立体图。具体实施例方式下文将结合附图详细描述根据本专利技术的玻璃面板输送装置和阵列测试装置的优选实施方式。如图I所示，根据本专利技术实施方式的阵列测试装置包括底座框架10、将玻璃面板P加载到阵列测试装置上的加载单元30、测试由加载单元30所加载的玻璃面板P的测试单元20、以及在玻璃面板P已被测试单元20测试之后将玻璃面板P从阵列测试装置卸载的卸载单元40。测试单元20测试玻璃面板P的电缺陷。测试单元20包括透光支撑板21、测试模块22、探针组件23以及控制单元(未示出)。由加载单元30加载的玻璃面板P置于透光支撑板21上。测试模块22测试置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电缺陷。探针组件23向置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电极施加电信号。控制单元(未示出)控制测试模块22和探针组件23。此外，测试模块支撑框架223设置在透光支撑板21的上方，并且沿X轴方向延伸预定长度。测试模块22设置在测试模块支撑框架223上，以便能够沿X轴方向移动。测试模块22可以包括多个测试模块，所述多个测试模块沿测试模块支撑框架223延伸的方向(X轴方向)设置在测试模块支撑框架223上。测试模块22设置在置于透光支撑板21上的玻璃面板P的上方，并且测试玻璃面板P的电缺陷。每个测试模块22包括邻近置于透光支撑板21上的玻璃面板P设置的调制器221、以及拍摄调制器221的图像的摄像单元222。测试单元20分为光反射型和光透射型两种类型。在反射型中，光源与测试模块22设置在一起，并且测试模块22的调制器221上设置有反射层。这样，通过在光源发出的光进入调制器221之后測量由调制器221的反射层所反射的光量，来确定玻璃面板P是否有缺陷。在透射型中，光源设置在透光支撑板21下面。通过在光从光源发出之后測量透过调制器221的光量，来确定玻璃面板P是否有缺陷。根据本专利技术的阵列测试装置或可采用光反射型或可采用光透射型。测试模块22的调制器221具有电光材料层，所述电光材料层根据玻璃面板P与调 制器221之间产生的电场强度而改变光反射率(在光反射型的情形中)或光透射率(在光透射型的情形中)。电光材料层由如下材料制成，所述材料具有根据当电施加到玻璃面板P和调制器221时所产生的电场而变化的特定物理特性，从而使进入电光材料层的光的反射率或透射率可变化。例如，电光材料层可以由LC (液晶)或TOLC (聚合物分散液晶)制成，所述LC或TOLC根据电场強度沿预定方向定向，并且因此将入射光偏振相应的角度。探针组件23包括探针组件支撑框架231和多个探针头233，探针组件支撑框架231沿X轴方向延伸预定长度，所述多个探针头233沿探针组件支撑框架231的纵向(X轴方向)以预定间距设置。每个探针头233具有多个探针引脚(未示出)。探针组件支撑框架231连接至Y轴驱动単元235，使得探针组件支撑框架231能够借助于Y轴驱动単元235沿水平地垂直于探针组件支撑框架231的纵向(X轴方向)的方向(Y轴方向)移动。此外，探针组件支撑框架231与探针头233之间设置有X轴驱动单元236。X轴驱动单元236沿探针组件支撑框架231的纵向移动探针头233。可以使用诸如线性马达、滚珠丝杠等的各种线性驱动装置作为Y轴驱动単元235和/或X轴驱动単元23本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃面板输送装置，所述玻璃面板具有设置在以预定距离彼此间隔的位置处的多个有效区、以及形成在所述有效区之间的无效区，所述有效区中的每个具有薄膜晶体管和像素电极，所述装置包括：导轨，所述导轨沿输送所述玻璃面板的方向延伸；移动构件，所述移动构件联接至所述导轨以便能够移动；以及吸附构件，所述吸附构件设置在所述移动构件上，所述吸附构件利用吸附力支撑所述玻璃面板，所述吸附构件包括至少一个吸附部，所述至少一个吸附部具有适于防止所述吸附部与所述玻璃面板的所述有效区接触的尺寸和形状，以使所述玻璃面板的所述无效区吸附到所述吸附部并且由所述吸附部支撑。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：崔珍荣，
申请(专利权)人：塔工程有限公司，
类型：发明
国别省市：