在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路，其包括三极管，所述三极管的发射极端接地，三极管的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻相连；三极管的基极端、集电极端分别通过第二电流源、第一电流源与供电电压源相连，三极管的集电极端能输出状态信号；所述三极管的基极端还与用于接收外部测试控制信号及接收开关电源集成电路的过温测试信号的过温测试电流输入调节电路相连，所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源相连。本实用新型专利技术结构简单紧凑，降低测试成本，缩短测试时间，适应范围广，安全可靠。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种过温测试保护电路，尤其是ー种可以在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路，属于集成电路的

技术介绍
在开关电源集成电路中，内部集成的功率器件在工作时会产生热量，从而导致集成电路温度上升，为了防止集成电路在正常工作时因为温度过高而损坏，会在集成电路内部设计过温保护电路。过温保护电路的功能是集成电路温度上升到预先设计的某一温度时关断功率器件，使集成电路不再继续产生热量。在传统集成电路测试中，为了验证过温保护电路能否正常工作，需要将集成电路放在高温烘箱中模拟高温环境，逐渐升高烘箱温度，观察集成电路是否在高温下进入过温保护模式。这种测试方法复杂，测试时间长，难以对每颗集成电路的过温保护功能进行测试。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供ー种在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路，其结构简单紧凑，降低测试成本，缩短测试时间，适应范围广，安全可靠。按照本技术提供的技术方案，所述在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路，包括三极管，所述三极管的发射极端接地，三极管的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻相连；三极管的基极端、集电极端分别通过第二电流源、第一电流源与供电电压源相连，三极管的集电极端能输出状态信号；第二电流源输出的第一电流通过电阻在三极管的基极端得到第一电压，所述第一电压在预设过温保护温度值时能使得三极管导通，以使得状态信号为低电平；所述三极管的基极端还与用于接收外部测试控制信号及接收开关电源集成电路的过温测试信号的过温测试电流输入调节电路相连，所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源相连；过温测试电流输入调节电路能调节供电电压源向三极管的基极端输入所需的第ニ电流，第一电流及第ニ电流通过电阻在三极管的基极端得到第二电压；当过温测试电流输入调节电路仅接收过温测试信号时，第二电压在常温下低于三极管的导通电压，状态信号为高电平；当过温测试电流输入调节电路同时接收过温测试信号与外部测试控制信号时，第ニ电压在常温下使得三极管导通，状态信号为低电平。所述过温测试电流输入调节电路包括第一 MOS开关管及第ニ MOS开关管；第一MOS开关管的栅极端与外部测试控制信号相连，第一 MOS开关管的漏极端通过第四电流源与供电电压源相连，第二MOS开关管的栅极端与过温测试信号相连，第二MOS开关管的源极端与三极管的基极端相连，第二MOS开关管的漏极端与第一MOS开关管的源极端相连，并通过第三电流源与供电电压源相连。所述第一电流源、第二电流源、第三电流源及第四电流源均为镜像电流源。所述第一 MOS开关管及第ニ MOS开关管均为NMOS管。所述状态信号通过与门电路与第三MOS开关管的栅极端相连，与门电路的输入端还与PWM信号发生电路的相连 ，第三MOS开关管的源极端接地。本技术的优点三极管的基极端还与用于接收外部测试控制信号及接收开关电源集成电路的过温测试信号的过温测试电流输入调节电路相连，所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源相连；利用过温测试电流输入调节电路调节输入的第二电流，第二电流与第一电流得到第二电压，通过第二电压与三极管的导通压降关系判断整个电路是否能过温保护，同时，通过第二电流来判断过温保护温度的范围，结构简单紧凑，降低测试成本，缩短测试时间，适应范围广，安全可靠。附图说明图I为本技术的电路原理图。图2为本技术三极管开启电压Vbe负温度系数和电压Vb的正温度系数示意图。具体实施方式下面结合具体附图和实施例对本技术作进ー步说明。如图f图2所示本技术包括供电电压源101、第一电流源102、第二电流源103、第三电流源104、第四电流源105、第一 MOS开关管106、第二 MOS开关管107、电阻108、三极管109、状态信号110、过温测试信号111、外部测试控制信号112、地113、PWM信号发生电路114、第三MOS开关管115、漏端116及与门电路117。如图I和图2所示本技术包括三极管109，所述三极管109的发射极端接地113，三极管109的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻108相连；三极管109的基极端、集电极端分别通过第二电流源103、第一电流源102与供电电压源101相连，三极管109的集电极端能输出状态信号110 ;第二电流源103输出的第一电流通过电阻108在三极管109的基极端得到第一电压，所述第一电压在预设过温保护温度值时能使得三极管109导通，以使得状态信号110为低电平。通过供电电压源101、第一电流源102、第二电流源103、电阻108及三极管109能够达到现有过温保护电路的功能，即当整个开关电源集成电路的工作温度达到所设定的温度阈值时，三极管109输出的状态信号110为低电平，通过状态信号110能关断整个开关电源集成电路，具体设定温度保护阈值可以通过第二电流源103与电阻108配合得到，即可由设定第二电流源103输出第一电流的大小及电阻108的阻值，以及它们正温度变化的系数，只要使得在达到所设定的温度阈值时，能使三极管109导通即可，这个是本
人员所熟知，此处不再详述。为了能够达到本技术的目的，所述三极管109的基极端还与用于接收外部测试控制信号112及接收开关电源集成电路的过温测试信号111的过温测试电流输入调节电路相连，所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源101相连；过温测试电流输入调节电路能调节供电电压源101向三极管109的基极端输入所需的第二电流，第一电流及第ニ电流通过电阻108在三极管109的基极端得到第二电压；当过温测试电流输入调节电路仅接收过温测试信号111时，第二电压在常温下低于三极管109的导通电压，状态信号110为高电平；当过温测试电流输入调节电路同时接收过温测试信号111与外部测试控制信号112时，第二电压在常温下使得三极管109导通，状态信号110为低电平。 过温测试电流输入调节电路调节所需的第二电流，通过两种或多种状态下的电流值配合，能够测定本技术实施例中过温保护温度的范围。当过温测试电流输入调节电路仅在过温测试信号111作用下输出的第二电流，并在所述第二电流与第一电流共同作用下得到第二电压，第二电压在常温下低于三极管109的导通压降吋；其中第一电流由预设第二电流源103决定，当増加第二电流后，第二电压比第一电压増大，从而降低了过温保护的温度值，即相同条件下，由于过温保护电压基值增大，在升高相同温度下，升高后的电压值更大，即升高相同温度下得到升值后的第二电压比第一电压更大，此时未达到之前预设过温保护温度值时，过温保护功就能启动。当将第二电压增大的情况看成温度増大后由于正温度系数升温导致时，根据电流与温度间的线性变化关系，当知道此时第二电流及第ニ电压的具体值，就能够得到过温保护温度的下限值。当过温测试电流输入调节电路同时在过温测试信号111及外部测试控制信号112作用下，并在此时第二电流与第一电流共同作用下得到第二电压，此时第二电压在常温下能使得三极管109导通。此处情况下，第二电压的值比上述情况进一歩増大，从而进一歩降低了过温保护的温度值，极限情况下，第二电压等于或大于三极管109的导通压降，在常温下已经达到升温帯来的电压增大效本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路，包括三极管（109），所述三极管（109）的发射极端接地（113），三极管（109）的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻（108）相连；三极管（109）的基极端、集电极端分别通过第二电流源（103）、第一电流源（102）与供电电压源（101）相连，三极管（109）的集电极端能输出状态信号（110）；第二电流源（103）输出的第一电流通过电阻（108）在三极管（109）的基极端得到第一电压，所述第一电压在预设过温保护温度值时能使得三极管（109）导通，以使得状态信号（110）为低电平；其特征是：所述三极管（109）的基极端还与用于接收外部测试控制信号（112）及接收开关电源集成电路的过温测试信号（111）的过温测试电流输入调节电路相连，所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源（101）相连；过温测试电流输入调节电路能调节供电电压源（101）向三极管（109）的基极端输入所需的第二电流，第一电流及第二电流通过电阻（108）在三极管（109）的基极端得到第二电压；当过温测试电流输入调节电路仅接收过温测试信号（111）时，第二电压在常温下低于三极管（109）的导通电压，状态信号（110）为高电平；当过温测试电流输入调节电路同时接收过温测试信号（111）与外部测试控制信号（112）时，第二电压在常温下使得三极管（109）导通，状态信号（110）为低电平。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭在超，朱勤为，
申请(专利权)人：无锡硅动力微电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：