一种用于制造技术

本发明专利技术涉及一种用于

【技术实现步骤摘要】
一种用于PSR集成电路工作状态测试的测试系统


[0001]本专利技术涉及开关电源
PSR
集成电路
，尤其是指一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统
。

技术介绍

[0002]AC
‑
DC
开关电源初级端调节（
PSR
，
Primary
‑
Side Regulation
）集成电路，初始开启后产生关断，需要采集关断信号后的高电平时间和高电平的电压来产生下一周期的开启信号时间
。
为了测试
PSR
集成电路的不同采样时间和采样电压下的输出频率的状态，需要一个测试系统，方便的调节关断信号后的高电平电压和时间
。
[0003]直接通过电流源或者信号发生器给出信号无法与关断信号同步，进行有效测试
。
而使用
PSR
开关电源模块测试，存在采样电压干扰，导致测试不准确的问题，且高电时间不能灵活调节，无法测试各种条件下的集成电路的工作状态
。

技术实现思路

[0004]为此，本专利技术提供一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统，测试系统能够与集成电路关断信号同步产生高电平，并灵活调整高电平的时间和电压，以测试
PSR
集成电路的工作状态
。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统，包括
PSR
原边控制模块
U100、
启动电路
、
定时器模块
U101
和与非门模块
U102
；其中，所述启动电路与输入信号电压相连，用于控制进入所述
PSR
原边控制模块
U100
的电压的幅值；所述定时器模块
U101
与所述输入信号电压相连，所述与非门模块
U102
与所述定时器模块
U101
相连，所述定时器模块
U101
和与非门模块
U102
共同用于产生所述
PSR
原边控制模块
U100
的采样波形；所述采样波形包括在所述
PSR
原边控制模块
U100
关断后能够采集的高电平信号，所述高电平信号包括上升和下降两个过程且上升瞬间为所述
PSR
原边控制模块
U100
的关断瞬间
。
[0006]在本专利技术的一种实施方式中，所述启动电路包括电容
C100、
电感
L100、
电阻
R100、
电阻
R109、
电阻
R110
和
PMOS
管
Q102
；电感
L100
一端连接供电电源
VCC
，电感
L100
另一端连接
PSR
原边控制模块
U100
的
DRAIN
端；电阻
R100
一端连接
PSR
原边控制模块
U100
的
CS
端，电阻
R100
另一端接地端
GND
；电容
C100
一端连接供电电源
VCC
，电容
C100
另一端接地端
GND
；电阻
R109
一端
、
电阻
R110
一端分别连接
PSR
原边控制模块
U100
的
FB
端，电阻
R109
另一端连接
PMOS
管
Q102
的漏极，
PMOS
管
Q102
的源极连接输入信号电压，
PMOS
管
Q102
的栅极连接至与非门模块
U102
，电阻
R110
另一端接地端
GND。
[0007]在本专利技术的一种实施方式中，还包括电容
C102、
电阻
R101、
电阻
R102、
电阻
R105、
电阻
R106、NMOS
管
Q100、NMOS
管
Q103
和
NMOS
管
Q104
；
PSR
原边控制模块
U100
的
DRAIN
端通过电阻
R101
连接
NMOS
管
Q100
的栅极，
NMOS
管
Q100
的漏极通过电阻
R102
与供电电源
VCC
相连，
NMOS
管
Q100
的源极接地端
GND
；与非门模块
U102
的
1A
端和
1B
端相连后连接至
NMOS
管
Q100
的漏极和
电阻
R102
之间；与非门模块
U102
的
2B
端和
1Y
端相连后连接至定时器模块
U101
的
TRIG
端，定时器模块
U101
的
TRIG
端连接至
NMOS
管
Q103
的栅极；
NMOS
管
Q103
的源极接地端
GND
，
NMOS
管
Q103
的漏极接
NMOS
管
Q104
的栅极，同时通过
R104
连接至供电电源
VCC
；
NMOS
管
Q104
的漏极接定时器模块
U101
的
THRES
端和
DISCH
端，同时通过电阻
R103
连接至供电
VCC
以及通过电容
C102
接地端
GND
；电阻
R105
一端和电阻
R106
一端分别连接定时器模块
U101
的
CONT
端，电阻
R105
另一端连接供电电源
VCC
，电阻
R106
另一端接地端
GND。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统，其特征在于，包括
PSR
原边控制模块
U100、
启动电路
、
定时器模块
U101
和与非门模块
U102
；其中，所述启动电路与输入信号电压相连，用于控制进入所述
PSR
原边控制模块
U100
的电压的幅值；所述定时器模块
U101
与所述输入信号电压相连，所述与非门模块
U102
与所述定时器模块
U101
相连，所述定时器模块
U101
和与非门模块
U102
共同用于产生所述
PSR
原边控制模块
U100
的采样波形；所述采样波形包括在所述
PSR
原边控制模块
U100
关断后能够采集的高电平信号，所述高电平信号包括上升和下降两个过程且上升瞬间为所述
PSR
原边控制模块
U100
的关断瞬间
。2.
根据权利要求1所述的一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统，其特征在于，所述启动电路包括电容
C100、
电感
L100、
电阻
R100、
电阻
R109、
电阻
R110
和
PMOS
管
Q102
；电感
L100
一端连接供电电源
VCC
，电感
L100
另一端连接
PSR
原边控制模块
U100
的
DRAIN
端；电阻
R100
一端连接
PSR
原边控制模块
U100
的
CS
端，电阻
R100
另一端接地端
GND
；电容
C100
一端连接供电电源
VCC
，电容
C100
另一端接地端
GND
；电阻
R109
一端
、
电阻
R110
一端分别连接
PSR
原边控制模块
U100
的
FB
端，电阻
R109
另一端连接
PMOS
管
Q102
的漏极，
PMOS
管
Q102
的源极连接输入信号电压，
PMOS
管
Q102
的栅极连接至与非门模块
U102
，电阻
R110
另一端接地端
GND。3.
根据权利要求2所述的一种用于
PSR
集成电路工作状态测试的测试系统，其特征在于，还包括电容
C102、
电阻
R101、
电阻
R102、
电阻
R105、
电阻
R106、NMOS
管
Q100、NMOS
管
Q103
和
NMOS
管
Q104
；
PSR
原边控制模块
U100
的
DRAIN
端通过电阻
R101
连接
NMOS
管
Q100
的栅极，
NMOS
管
Q100
的漏极通过电阻
R102
与供电电源
VCC
相连，
NMOS
管
Q100
的源极接地端
GND
；与非门模块
U102
的
1A
端和
1B
端相连后连接至
NMOS
管
Q100
的漏极和电阻
R102
之间；与非门模块
U102
的
2B
端和
1Y
端相连后连接至定时器模块
U101
的
...

【专利技术属性】
技术研发人员：闵波，励晔，黄昊丹，
申请(专利权)人：无锡硅动力微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：