用于测试集成电路的方法和装置制造方法及图纸

本公开涉及用于测试集成电路的方法和装置。本公开的各方面提供一种测试方法。所述方法包括从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源。所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。此外，所述方法包括接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

【技术实现步骤摘要】
用于测试电子器件的方法、测试系统和通过过程被测试的电路相关申请的引用本公开要求享有2011年5月17日递交的的美国临时申请No.61/487,157“DUTVoltageControlForAutomatedTestEquipment”的权益，这里以引用的方式将其全部内容合并。
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在此提供的
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描述是为了总体上呈现本公开的上下文的目的。当前署名的专利技术人的工作(就在该
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部分中描述的工作的程度而言)以及可能也不限定作为提交申请时的现有技术的说明书的许多方面既不会明示也不会暗含地被承认为相对于本公开的现有技术。通常，集成电路(IC)测试使用自动测试设备(ATE)以及专用于集成电路产品的适配器板以测试该产品的每一个待测试器件(DUT)。在一个示例中，在制造时，将产品的每一个封装的IC器件插入适配器板上的插槽中，并且将适配器板适当地连接到ATE。然后，ATE经由适配器板测试封装的IC器件并且确定该封装的IC器件是否满足一个或者多个指定的性能要求。例如，ATE经由适配器板向封装的IC器件发送测试信号并且从该封装的IC器件接收响应信号。
技术实现思路
本公开的各方面提供一种测试方法。所述方法包括从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源。所述DUT包括自适应电压缩放模块，该自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号。此外，所述方法包括接收从所述DUT到所述电压调节器的反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。在一个实施例中，至少基于所述DUT内的电压来生成所述反馈信号。在另一实施例中，至少基于所述DUT的性能参数来生成所述反馈信号。在再一实施例中，至少基于所述DUT内的电压与被存储在所述DUT中的目标电压的比较来生成所述反馈信号。根据本公开的一个方面，所述方法包括由所述电压调节器基于所述反馈信号与对于所述反馈信号的目标的比较来调节所述电源。此外，在一个示例中，所述方法包括向所述DUT发送测试信号，从所述DUT接收响应信号，并且基于所述响应信号来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。本公开的方面提供一种测试系统。所述测试系统包括电压调节器、适配器板和测试器。所述电压调节器被配置以基于输入信号来输出电源。所述适配器板被配置用于测试DUT。所述适配器板包括被配置以从所述电压调节器向所述DUT供应所述电源的第一耦合。所述DUT包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。所述适配器板包括被配置以从所述DUT提供所述反馈信号作为对所述电压调节器的所述输入信号以基于所述反馈信号来调节被供应到所述DUT的所述电源的第二耦合。所述测试器被配置以在所述电压调节器基于所述反馈信号来调节所述电源的同时执行所述DUT的功能测试。本公开的方面提供一种通过一种过程被测试的电路，所述过程包括从电压调节器向所述电路供应电源。所述电路包括被配置以响应于所述电源而生成反馈信号的自适应电压缩放模块。所述过程进一步包括从所述电路向所述电压调节器提供所述反馈信号以基于所述反馈信号来调节所述电源，并且在所述电压调节器基于从所述电路输出的所述反馈信号来调节所述电源的同时确定所述电路是否满足指定的性能要求。附图说明将参照以下附图详细描述作为示例提出的本公开的各种实施例，其中类似的附图标记指代类似的元件，并且其中：图1示出了根据本公开实施例的测试系统示例100的框图；图2示出了根据本公开实施例的电子系统示例260的框图；以及图3示出了根据本公开实施例概述用于测试系统100以测试待测试器件130的过程示例300的流程图。具体实施方式图1示出了根据本公开实施例的测试待测试器件(DUT)130的测试系统示例100的框图。测试系统100包括适配器板110以及具有电压调节器125的测试器120。这些元件如图1所示耦合到一起。DUT130可以是任何适合的器件，例如集成电路(IC)芯片、封装的IC器件等等。DUT130包括作为任何适合的输入输出端子的连接端子，例如输入端子(IN)、输出端子(OUT)、功率端子(VDD)、反馈端子(FB)等等。在一个示例中，连接端子包括IC芯片上的焊盘。在另一示例中，连接端子包括引脚栅格阵列(PGA)封装的引脚。在另一示例中，连接端子包括球栅阵列(BGA)封装的焊球。根据本公开的一个方面，VDD端子被配置以从外部功率源接收电源，并且在操作期间将所接收的功率向DUT130内的电路提供。FB端子被配置以输出反馈信号以对所述电源进行控制。在一个实施例中，基于DUT的性能在DUT中生成反馈信号。在一些实施例中，反馈信号是模拟信号，而在其他实施例中，反馈信号是数字信号。IN端子被配置以接收诸如测试信号之类的输入信号，并且OUT端子被配置以驱动诸如响应信号之类的输出信号。在一个实施例中，输入信号由DUT中的电路利用以生成表明性能的反馈信号。注意到，在一个示例中，DUT130包括诸如VSS端子、地端子等等的其他适合的功率端子(未示出)。也注意到，IN端子和OUT端子可以是能够被配置为IN端子和/或OUT端子的输入/输出(I/O)端子。根据本公开的一个方面，DUT130包括被配置以生成表明对DUT130中的电源进行控制的反馈信号的自适应电压缩放(AVS)模块140。在一个实施例中，反馈信号表明DUT130的性能度量并且反馈信号被用于控制电源，例如在2010年3月24日递交并且转让给MarvellIsrael(M.I.S.L)LTD.的共同未决申请12/730,829中公开的，这里以引用的方式将其全部内容并入。在一个实施例中，在电路操作期间，基于诸如性能参数、电压目标等等之类的电路参数由DUT130生成、控制和/或调整反馈信号。在一个实施例中，反馈信号通常由测试器120，并且更加具体地由电压调节器125来使用以控制被提供到DUT130的电源来补偿DUT130中的电路的各种变化，诸如工艺变化、电源电压变化、温度变化等等。因而，由于基于其自身电路的实际性能在DUT中生成反馈，因此，能够精确地确定DUT130以期望方式操作的功率电平。在图1示例中，AVS模块140包括偏移生成器143和组合器144。在一个实施例中使用适合的模拟和/或数字电路实现AVS模块140。在一个示例中，偏移生成器143生成诸如偏移电压之类的偏移信号，并且组合器144将该偏移电压与表明在DUT130中接收的电源的电压进行组合以生成反馈信号。根据本公开的一个方面，偏移生成器143能够基于由DUT130中的电路提供的各种信息来生成偏移电压。在图1示例中，偏移生成器143从AVS目标142、性能监视器141接收信息，并且接收表明在DUT130中的接收电源的电压，如在2010年12月28日递交并且转让给MarvellIsrael(M.I.S.L)LTD.的共同未决申请12/979,724中公开的，这里以引用的方式将其全部内容并入。然后，偏移生成器143基于所接收的信息生成偏移。在一个实施例中，AVS目标142包括被配置以存储一个或者多个电压目标的存储部件，并且将所存储的电压目标提供到偏移生成器143。例如，AVS本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电子器件的方法，包括：从电压调节器向待测试器件(DUT)供应电源，所述DUT包括自适应电压缩放模块，所述自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号；接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源；并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。

【技术特征摘要】
2011.05.17 US 61/487,1571.一种用于测试电子器件的方法，包括：从电压调节器向待测试器件DUT供应电源，所述DUT包括自适应电压缩放模块，所述自适应电压缩放模块被配置以响应于所述电源而生成反馈信号；接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源；并且在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求。2.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：接收至少基于所述DUT内的电压而生成的所述反馈信号。3.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT输出到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：接收至少基于所述DUT的性能参数而生成的所述反馈信号。4.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT输出到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：接收至少基于所述DUT内的电压与被存储在所述DUT中的目标电压的比较而生成的所述反馈信号。5.如权利要求1的方法，其中接收从所述DUT到所述电压调节器的所述反馈信号以基于来自所述DUT的所述反馈信号来调节所述电源进一步包括：由所述电压调节器基于所述反馈信号与对于所述反馈信号的目标的比较来调节所述电源。6.如权利要求1的方法，进一步包括：基于被供应到所述DUT的所述电源的电压电平来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。7.如权利要求1的方法，其中在所述电压调节器基于从所述DUT接收的所述反馈信号来调节被提供到所述DUT的所述电源的同时确定所述DUT是否满足指定的性能要求进一步包括：向所述DUT发送测试信号；从所述DUT接收响应信号；并且基于所述响应信号来确定所述DUT是否满足指定的性能要求。8.一种测试系统，包括：测试器的电压调节器，被配置以基于输入信号来输出电源；被配置用于测试待测试器件DUT的适配器板，所述适配器板包括：第一耦合，被配置以从所述测试器的所述电压调节器供应所述电源用以测试所述DUT的性...

【专利技术属性】
技术研发人员：I·布尔斯坦，
申请(专利权)人：马维尔国际贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：