成对的可编程熔断器制造技术

多个熔断器（142，152，162，172）被成对布置，并且被配置为每对熔断器当烧断所述对的一个熔断器（152，162）时表示一个数据比特；当未烧断所述对的熔断器（142）时表示未编程的比特；当所述对的两个熔断器都被烧断（172）时表示零化比特。熔断器编程系统编程所述各个对的熔断器，使得每对表示一个比特，包括烧断一对的第一熔断器以表示比特1（152），烧断一对的第二熔断器以表示比特0（162），并且烧断一对的两个熔断器以表示零化对（172），由此如果一对的熔断器都未被烧断，则表示空的未编程的比特（142）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及利用熔断器的数据的永久存储，并且更具体地涉及这样的熔断器的编程和编码。
技术介绍
熔断器(Fuses)可以被布置来例如通过选择性地烧断熔断器以编码数据来提供数据的永久存储。如果熔断器完整，则熔断器通常被认为是二进制“0”，如果熔断器被烧断，则熔断器通常被认为是二进制“I”。因此，选择性地烧断熔断器产生二进制数。 用于数据的永久存储的熔断器的示例包括电子熔断器(e-Fuses)和激光熔断器。 如在所包含的'268'专利中所讨论的，通过向熔断器施加高烧断电压来使得电子熔断器能够被电子编程或写入。通过将数据锁存到寄存器中来读取数据。通过向熔断器施加激光将其过热来烧断激光熔断器。可以使用熔断器来编码意欲保持不变并且期望无限地被保持而不需要电池备份的数据。这样的数据的一个示例包括装置序列号和关于装置的数据。一旦已经编码了数据， 则通常不能改变数据。另一个示例包括永久加密密钥，诸如可以用于加密和解密诸如装置元数据的、关于嵌入熔断器的装置的数据的永久加密密钥。加密引擎仅具有对用于加密或解密数据的加密密钥的访问，但是一旦已经编码了密钥，则没有替代的访问。可以通过例如在特定设施处的装置制造商来编码关于装置的数据。加密密钥要求充分的安全，并且在充分安全的位置处被编码，并且一旦被编码，则可以通过破坏对于编码设备的访问来防止进一步的编码。在激光熔断器的情况下，可以通过防止熔断器的光学读取和防止进一步编码的层来覆盖编码的熔断器。在电子熔断器的情况下，例如通过烧断主熔断器来限制对加密密钥的外部访问和防止写入，或者，如在包含的'268'专利中所述， 电子熔断器可以随着时间在一个方向上实现单调更新，诸如仅可以增大的版本值。一个问题是可能包括向编码处理引入一个或多个错误，因为在编码处理之前、期间和之后，熔断器可能意外被烧断。通常，这样的错误要求必须丢弃包含熔断器的整个芯片。一旦已经烧断了阻熔断器，则可能无法确定是否已经烧断了意欲不烧断的熔断器。用户知道的所有情况是，包含该芯片的装置不再工作，因为它不能正确地读取其元数据。另一个问题是可能包括对不再被需要或折衷的编码熔断器的处置。必须保护该处置以防止未经授权的使用。
技术实现思路
提供了方法、熔断器编码系统、熔断器编程系统和装置。在一个实施例中，熔断器编码系统包括多个熔断器，所述多个熔断器被成对地布置，并且被配置为每对熔断器当烧断所述一对的一个熔断器时表示数据比特；当所述一对的熔断器都未被烧断时表示未编程的比特；并且，当所述一对的两个熔断器都被烧断时表示零化比特。成对地布置所述熔断器允许检测和报告有效比特，而不识别任何比特的值。在另一个实施例中，所述熔断器编码系统还包括检测系统，所述检测系统被配置为检测任何对的熔断器是否被零化，零化例如会使该组熔断器不可用。在另一个实施例中，熔断器编程系统包括成对布置的多个熔断器；以及熔断器烧断系统，其被配置为编程所述对的熔断器，使得每对表示一个比特，包括烧断一对的第一熔断器以表示比特I，烧断一对的第二熔断器以表示比特0，并且烧断一对的两个熔断器以表示零化对，由此如果一对的熔断器都未被烧断，则表示空的未编程的比特。在另一个实施例中，测试系统被配置为在编程一对熔断器前测试一对熔断器的两个比特，以测试是否所述一 对的每个熔断器被烧断。而且，在一个实施例中，存储系统被配置为识别由所述测试系统发现的使所述对的一个熔断器烧断的任何比特对；并且，所述熔断器烧断系统被配置为跳过和不烧断所述找到的熔断器对的任何熔断器。所述被烧断的熔断器正确的机会是50%。在另一个实施例中，试验测试系统被配置为通过运行试验来测试所述编程的有效性；并且，如果所述试验失败，则表示被识别的比特对包括反相比特。试验失败表示被烧断的熔断器不正确。可以改变数据以适配所述反相比特。在另一个实施例中，检测系统被配置为在编程所述对的任何一个前，检测所有对的熔断器是否包括空的未编程的比特，否则任何对是非空的。在另一个实施例中，测试系统被配置为在编程每对熔断器之后，测试每对熔断器的有效性。在一个实施例中，所述测试系统被配置为确定每对熔断器是否已经被编程为比特 I或比特0，否则至少一个比特对是无效的。在另一个实施例中，所述熔断器烧断系统还配置为如果至少一个比特对被确定为无效，则烧断所述各个对的所有未烧断的熔断器，由此将所述多个熔断器零化。在另一个实施例中，检测系统被配置为在烧断所述各个对的未烧断的熔断器后， 检测所有对的熔断器是否被零化，由此保证该组熔断器不可用。在另一个实施例中，一种装置包括功能系统；折衷检测系统，其被配置为检测所述功能系统是否被折衷；以及编码熔断器系统，包括多个熔断器，所述多个熔断器被成对地布置，并且被编码，使得每对熔断器当所述对的一个熔断器被烧断时表示一个数据比特。熔断器烧断系统，被配置为响应于所述折衷检测系统检测到所述功能系统被折衷，烧断所述各个对的所有未烧断的熔断器，使得每一对的两个熔断器都被烧断以表示零化对，由此将所述多个熔断器零化，由此使得所述该组熔断器不可用。为了更全面地理解本专利技术，将参考结合附图进行的下面的详细说明。附图说明图I是是根据本专利技术的成对熔断器的示例性布置的框图；图2A、2B、2C和2D是由图I的一对熔断器进行的表示的示例的框图3是可以在图I的熔断器布置中实现的未烧断和烧断的电子熔断器的图示；图4A和4B是由激光系统烧断和未烧断的熔断器和可以在图I的熔断器布置中实现的用于覆盖熔断器的系统的图示。图5是描述用于图I的熔断器布置的制造处理的示例的流程图；图6是用于测试图I的熔断器布置的一种示例性布置的框图；图7是用于测试图I的熔断器布置的另一种示例性布置的框图；图8是用于编程和操作图I的熔断器布置的示例性布置的框图；图9是图8的布置的操作的状态的示例； 图10是用于实现图I的熔断器布置的装置的框图；以及图11是描述在对装置的折衷的情况下操作图10的装置的示例的流程图。具体实施例方式参考附图在下面的说明中在优选实施例中描述本专利技术，在附图中，同样的标号表示相同或类似的元件。虽然根据实现本专利技术的目的的最佳方式描述了本专利技术，但是本领域内的技术人员可以明白，可以在不偏离本专利技术的精神和范围的情况下，基于这些教导来实现改变。参见图1，以110U1U ->120,121来成对(pair)的布置熔断器100，每对表示单个比特。每对的熔断器130如果被烧断则表示例如“1”，并且，每对的熔断器131如果被烧断则表示“O”。图2A、2B、2C和2D是由图I的一对熔断器表示的示例。在图2A中，一对142 的两个熔断器140和熔断器141是完整的，并且表示例如空或还没有编程的熔断器对。在另一个示例中，烧断一对的一个熔断器表示一个数据比特；比如，烧断在一对152的一侧的熔断器150同时熔断器151保持完整，这表示如图2B中所示的“1”，其中，“X”表示烧断的熔断器。在熔断器160保持完整的同时烧断在一对162的另一侧的熔断器161表示如图2C 中所示的“O”。在图2D中所示的另一个示例中，当烧断一对172的熔断器170和171两者时，表示零化(zeroize)的比特。在本领域中已知用于烧断熔断器的技术。例如，通过使熔断器传送大于给定阈值的电流来烧断电子熔断器。如图3中所示，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.01.21 US 12/691,5011.一种熔断器编码系统，包括 多个熔断器，所述多个熔断器被成对地布置，并且被配置为使得每对熔断器当烧断所述对的一个熔断器时表示数据比特；当所述对的熔断器都未被烧断时表示未编程的比特；并且当所述对的两个熔断器都被烧断时表示零化比特。2.根据权利要求I所述的熔断器编码系统，还包括检测系统，所述检测系统被配置为检测任何对的熔断器是否被零化。3.一种熔断器编程系统，包括 成对布置的多个熔断器；以及， 熔断器烧断系统，被配置为编程所述对的所述熔断器，使得每一对表示一个比特，包括烧断一对的第一熔断器以表示比特1，烧断一对的第二熔断器以表示比特O，并且烧断一对的两个熔断器以表示零化对，由此如果一对的熔断器都未被烧断，则表示空的未编程的比特。4.根据权利要求3所述的熔断器编程系统，还包括检测系统，所述检测系统被配置为在编程所述对的任何一个之前，检测任何所述对的熔断器是否被零化。5.根据权利要求3所述的熔断器编程系统，还包括测试系统，所述测试系统被配置为在编程所述对的熔断器之前，测试一对所述熔断器的两个比特，以测试所述对的任何一个所述熔断器是否被烧断。6.根据权利要求5所述的熔断器编程系统，还包括存储器，用于识别由所述测试系统找到的任何比特对，以使所述对的熔断器被烧断；并且其中，所述熔断器烧断系统被配置为跳过和不烧断所述找到的对的熔断器的任何熔断器。7.根据权利要求6所述的熔断器编程系统，还包括试验系统，用于通过运行试验来测试所述编程的有效性；并且如果所述试验失败，则表示被识别的比特对包括反相比特。8.根据权利要求3所述的熔断器编程系统，还包括检测系统，所述检测系统被配置为在编程所述对的任何一个前，检测所有所述对的熔断器是否包括空的未编程的比特，否则任何所述对是非空的。9.根据权利要求3所述的熔断器编程系统，还包括测试系统，所述测试系统被配置为在编程所述对后，测试每对熔断器的有效性。10.根据权利要求3所述的熔断器编程系统，还包括测试系统，其被配置为测试每对所述熔断器的两个比特，并且确定每对所述熔断器是否已经被编程为比特I或比特0，否则至少一个比特对是无效的。11.根据权利要求10所述的熔断器编程系统，其中，所述熔断器烧断系统被另外配置为如果至少一个比特对被确定为无效，则烧断所述对的所有未烧断的熔断器，由此将所述多个熔断器零化。12.根据权利要求11所述的熔断器编程系统，还包括检测系统，所述检测系统被配置为在烧断所述对的所述未烧断的熔断器后，检测所有对的熔断器是否被零化。13.一种熔断器烧断系统，用于装置中，所述装置包括功能系统；折衷检测系统，其被配置为检测所述功能系统是否被折衷；以及编码熔断器系统，包括多个熔断器，所述多个熔断器被成对地...

【专利技术属性】
技术研发人员：SR本特利，PM格雷科，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：