新式清洗沉积喷出头的方法与设备技术

技术编号:786619 阅读:193 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术关于一种清洗沉积喷出头的方法与设备,可应用于半导体的化学气相沉积机台中,藉由机台抽真空以除去沉积喷出头的外盖与其表面的尘粒;再将沉积喷出头的外盖与沉积喷出头由机台上拆下,并清除机台上用以装载沉积喷出头的区域表面的尘粒;将沉积喷出头浸入化学反应槽以超音波震荡;将沉积喷出头浸入溢流的水槽,并监测水阻值;将沉积喷出头浸入回流的异丙醇槽;之后以烘干系统烘干沉积喷出头;以完成清洗沉积喷出头的程序。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种清洗沉积喷出头的方法,其可应用于半导体的化学气相沉积机台中,其中该方法的步骤包括: a)提供一化学反应槽,将沉积喷出头浸入该化学反应槽以超音波震荡; b)提供一水槽,将该沉积喷出头浸入该水槽; c)提供一异丙醇槽,将该沉积喷出头浸入该异丙醇槽;以及 d)提供一烘干系统,以该烘干系统烘干该沉积喷出头;以完成清洗沉积喷出头的程序。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李景伦
申请(专利权)人:华邦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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