【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测试领域，主要涉及。
技术介绍
随着科学技术的发展，大口径光学系统在航空、航天、军事等领域运用越来越广。传统的光学检测方法在检测大口径面形时需要一个大口径的标准件，而大口径的标准件制造加工困难，且检测结果的空间分辨率受到探测器分辨率的限制。子孔径拼接测量方法通过对多个具有一定重叠区域的子孔径面形数据进行拼接，免去了大口径标准件，降低了成本，提闻了空间分辨率。传统的子孔径拼接方法都是根据重叠区域相位误差不一致性最小原则(最小二乘法)先求出各子孔径的倾斜、平移系数，然后对各子孔径倾斜量、平移量进行补偿，从而获得 全孔径面形。Mark A. Schmucker, Joanna Schmit,在“US 5991461”提出了一种平面子孔径的拼接方法，其基本思想是对各子孔径按照一定的优先级顺序进行拼接，噪声小的区域区域优先级高，此方法对拼接顺序敏感，存在累计误差。美国QED公司在“US 6956657”提出了一种同时优化补偿各子孔径的倾斜误差、平移误差、参考面误差、畸变误差的方法，此方法未考虑噪声对拼接的影响。实际测量中，各子孔径除了引入由于机械装置移动带来的倾斜误差和平移误差夕卜，还受到(XD、光源、环境中的振动、温度、空气扰动等噪声源的影响，引入噪声。为减小这些噪声对子孔径拼接的影响，本文提出一种基于加权最小二乘法的子孔径拼接方法，并提出了一种求取权值的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术的不足，提出了，抑制了噪声区域在子孔径拼接中的影响，为提高子孔径拼接的拼接精度提供了一种手段。为了实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案如...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，其特征在于步骤如下 (1)根据各子孔径的面形数据A(x，y)，计算各重叠区域的权值Wlin^y； (2)根据步骤(I)中计算出的权值Wmy，采用加权最小二乘法，即使得各重叠区域的加权残余误差平方和最小f，计算得到各子孔径的加权下的X方向的倾斜系数' 加权下的Y方向的倾斜系数&和加权下轴向的平移系数&，如下式所示；2.根据权利要求I所述的基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，其特征在于重叠区域的权值Wmy是1，m，x，y的函数，Wljnijxjy能反应相应重叠区域在拼接中的可信度大小，噪声大的区域权值小，噪声小的区域权值大。3.根据权利要求I所述的基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，其特征在于所述步骤(2)中的各重叠区域的权值W1^y根据各子孔径面形数据在测量中受到噪声干扰的特点，分为第一类权值Pmy和第二类权值Q1,m，第一类权值Ph11^y反应子孔径面形受离散点噪声的影响，第二类权值^^反应子孔径面形受区域性噪声的影响；然后再将这两类权值相乘，得到权值W1^xiy,其具体的计算方法如下 a)采用最小二乘法，即使得重叠区域残余误差的平方和e最小，求解各子孔径的X方向倾斜系数ap Y方向倾斜系数h和轴向平移系数(^，方法如下式所示4.根据权利要求I所述的基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，其特征在于所述步骤(I)之前，首先读入测量装置获得的子孔径的面形数据；所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐富超，贾辛，谢伟民，邢廷文，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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