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一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法技术
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文档序号:7836681
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本发明提出了一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法,包括:一种在子孔径拼接中计算重叠区域的权值的方法,此方法能正确反应各重叠区域在子孔径拼接中的可信度大小,噪声大的区域权值小,噪声小的区域权值大;在求解各子孔径的倾斜系数、平移系数时,要...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。
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