半导体发光器件的发光效率检测系统，属于半导体发光器件的检测技术领域。它解决了目前对半导体发光器件的发光效率的测量效率非常低的问题。它的待测半导体发光器件置于积分球内，并串联在标准功率源的两个电流输出端之间，标准功率源的控制信号输入端连接单片机的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块的两个电压信号输入端，结电压测量模块的电压信号输出端连接单片机的电压信号输入端，光电传感器用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，并输出给光通量测量模块，光通量测量模块的光通量信号输出端连接单片机的光通量信号输入端。本实用新型专利技术用于检测半导体发光器件的发光效率。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种半导体发光器件的发光效率检测系统，属于半导体发光器件的检测
技术介绍
随着科技的进步和发展，LED半导体的功率逐渐增大，LED半导体器件正在从传统的指示器功能向着照明功能的方向发展。目前，LED半导体照明因其绿色、环保等诸多优点，被认为是取代白炽灯、荧光灯等耗电大、污染环境的传统照明光源的革命性固体光源。LED半导体器件的发光效率是衡量LED质量水平最重要的一个技术指标。测试该指标目前普遍采用电流表、电压表、稳定源以及积分球等分离装置进行，将LED的光效通过以上多参数测量后由人工计算得出，因此对半导体发光器件LED发光效率的测量效率非常低。
技术实现思路
本技术是为了解决目前对半导体发光器件的发光效率的测量效率非常低的问题，提供一种半导体发光器件的发光效率检测系统。本技术所述半导体发光器件的发光效率检测系统包括积分球，它还包括标准功率源、结电压测量模块、光通量测量模块、单片机和光电传感器，待测半导体发光器件置于积分球内，该半导体发光器件串联在标准功率源的两个电流输出端之间，标准功率源的控制信号输入端连接单片机的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块的两个电压信号输入端，结电压测量模块的电压信号输出端连接单片机的电压信号输入端，光电传感器用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，光电传感器的光通量信号输出端连接光通量测量模块的光通量信号输入端，光通量测量模块的光通量信号输出端连接单片机的光通量信号输入端。它还包括显示单元，显示单元的显示信号输入端连接单片机的显示信号输出端。它还包括键盘，键盘的预置信号输出端连接单片机的预置信号输入端。本技术的优点是本技术由积分球和二次仪表两部分组成，它通过对光通量和电压信号的获得，进而由单片机经计算直接得到待测半导体发光器件的发光效率，具有测量精度高、测量范围广、测量速度快，操作方便等特点。本技术对待测半导体发光器件发光效率测量的准确度优于士5%。附图说明图1为本技术的结构示意图。具体实施方式具体实施方式一下面结合图1说明本实施方式，本实施方式包括积分球1，它还包括标准功率源2、结电压测量模块3、光通量测量模块4、单片机5和光电传感器6，待测半导体发光器件置于积分球1内，该半导体发光器件串联在标准功率源2的两个电流输出端之间，标准功率源2的控制信号输入端连接单片机5的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块3的两个电压信号输入端，结电压测量模块3的电压信号输出端连接单片机5的电压信号输入端，光电传感器6用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，光电传感器6的光通量信号输出端连接光通量测量模块4的光通量信号输入端，光通量测量模块4的光通量信号输出端连接单片机5的光通量信号输入端。本实施方式中，结电压测量模块3用于测量待测半导体发光器件PN结压降，并将此PN结压降输出给单片机5，单片机5根据获得的PN结压降与标准功率源2的恒定电流，计算获得待测半导体发光器件的功率数值，单片机5将获得的功率数值和光通量信号作比值，即用光通量信号的数值除以功率信号的数值，获得的结果即为待测半导体发光器件的发光效率。在使用中，待测半导体发光器件通过散热支架固定于积分球1内，以保证良好的散热效果，积分球1内需设置档板，用来防止待测半导体发光器件发出的直射光被光电传感器6吸收。工作过程将待测半导体发光器件，即发光LED放入积分球1中，通过标准功率源2输出标准电流供待测半导体发光器件发光，结电压测量模块3测出待测半导体发光器件的结压降并算出功率，与光电传感器6转换输出的光通量进行计算获得发光效率，并在二次仪表中显示出来。具体实施方式二 下面结合图1说明本实施方式，本实施方式与实施方式一的不同之处在于它还包括显示单元7，显示单元7的显示信号输入端连接单片机5的显示信号输出端。显示单元7用于显示单片机5对发光效率的计算结果。具体实施方式三下面结合图1说明本实施方式，本实施方式为对实施方式一或二的进一步说明，它还包括键盘8，键盘8的预置信号输出端连接单片机5的预置信号输入端。本技术中，光电传感器6的光通量测量范围为0. OOllm 20001m，其测量准确度优于士5%;标准功率源2的正向电流输出范围为0. 05mA 2000mA，其输出电流准确度为士0.01% ；结电压测量模块3测量正向电压的范围为0. OlV 20. 0V，其测量准确度为士 0. 01%。权利要求1.一种半导体发光器件的发光效率检测系统，它包括积分球(1)，其特征在于它还包括标准功率源O)、结电压测量模块(3)、光通量测量模块G)、单片机( 和光电传感器(6)，待测半导体发光器件置于积分球(1)内，该半导体发光器件串联在标准功率源O)的两个电流输出端之间，标准功率源O)的控制信号输入端连接单片机(5)的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块(3)的两个电压信号输入端，结电压测量模块(3)的电压信号输出端连接单片机(5)的电压信号输入端，光电传感器(6)用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，光电传感器(6)的光通量信号输出端连接光通量测量模块的光通量信号输入端，光通量测量模块的光通量信号输出端连接单片机(5)的光通量信号输入端。2.根据权利要1所述的半导体发光器件的发光效率检测系统，其特征在于它还包括显示单元(7)，显示单元(7)的显示信号输入端连接单片机(5)的显示信号输出端。3.根据权利要1或2所述的半导体发光器件的发光效率检测系统，其特征在于它还包括键盘(8)，键盘(8)的预置信号输出端连接单片机(5)的预置信号输入端。专利摘要半导体发光器件的发光效率检测系统，属于半导体发光器件的检测
它解决了目前对半导体发光器件的发光效率的测量效率非常低的问题。它的待测半导体发光器件置于积分球内，并串联在标准功率源的两个电流输出端之间，标准功率源的控制信号输入端连接单片机的控制信号输出端，待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块的两个电压信号输入端，结电压测量模块的电压信号输出端连接单片机的电压信号输入端，光电传感器用于接收待测半导体发光器件的光通量信号，并输出给光通量测量模块，光通量测量模块的光通量信号输出端连接单片机的光通量信号输入端。本技术用于检测半导体发光器件的发光效率。文档编号G01M11/00GK202339395SQ20112052291公开日2012年7月18日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日专利技术者刘岩, 刘缨, 张健, 张博, 张昊明, 张轶鹏, 徐民, 曹曙光, 李季, 李 浩, 杨新华, 项庆林, 鲁志军 申请人:黑龙江省计量科学研究院本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨新华，李浩，张昊明，张健，曹曙光，李季，徐民，张博，张轶鹏，鲁志军，刘缨，刘岩，项庆林，
申请(专利权)人：黑龙江省计量科学研究院，
类型：实用新型
国别省市：
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