行星锥齿轮球面比较测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种行星锥齿轮球面比较测量仪，它由转子结构、摆臂结构和限位结构三部分组成。所述转子结构包括底座、轴承、主轴和齿模，主轴相对底座旋转，主轴上端定位连接齿模。所述摆臂结构包括支架、转轴、滚珠轴承、表架和表具，支架安装在底座外壁上，支架上端由转轴和滚珠轴承组成转动副。所述表架形似“冂”构件，两侧杆端设有横向通孔与两侧转轴配合构成绕转轴旋转的摆臂结构。表架横杆中部通孔安插表具，表具测量端朝内接触工件待测球面。在转子结构与摆臂结构之间设有限位结构，以保护表具测量端。本实用新型专利技术结构简单、定位准确、检测效率高、精度好，对检测条件没有限制，在生产现场使用避免批量超差的质量问题，减少损失。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种机械零件形状公差测量器具，具体地讲，本技术涉及一种行星锥齿轮球面比较测量仪。
技术介绍
汽车变速箱中的行星锥齿轮是一种精密齿轮，该齿轮结构与常规锥齿轮不同，其结构特征是锥齿背面为球面，而且球面为配合面，具有很高的形状及位置精度要求。球面为曲面体，制造难度比平面大，再加上球面的位置公差设计基准是锥齿，现有通用量具无法直接用于检测，三座标测量仪可以用于精密测量。但是，三座标测量仪测量条件高、测量效率低，仅适合抽样在检验室作型式检验，不适合在生产现场检验。生产线现场缺少必要的检验器具，不能及时发现质量问题，易形成批量质量问题。
技术实现思路
本技术主要针对现有技术的不足，提出一种结构简单，定位准确、检测方便、 测量精度高的行星锥齿轮球面比较测量仪。本技术通过下述技术方案实现技术目标。行星锥齿轮球面比较测量仪，它由转子结构、摆臂结构和限位结构三部分组成。所述转子结构包括底座、轴承、主轴和齿模，竖置的主轴通过轴承安装在底座内腔中，主轴上端定位连接齿模，手动齿模驱动主轴相对底座旋转。其改进之处在于底座外壁安装摆臂机构，所述摆臂机构包括支架、转轴、滚珠轴承、表架和表具，底座两侧外臂上左右对称固定连接支架，支架上端由转轴和滚珠轴承组成转动副，转轴相对支架留有内伸的悬臂端。所述表架形似“门”构件，两侧杆端设有横向通孔与两侧转轴内伸悬臂端配合构成绕转轴旋转的摆臂结构，表架的横杆中部设有通孔安插表具，表具测量端朝内接触工件待测球面。所述限位结构依附在支架腰部，它由支架两侧面固定连接挡块和螺钉组成，调节螺钉伸缩量确定表架摆动极限位置。上述结构中，表具为百分表或千分表。本技术与现有技术相比，具有以下积极效果1、齿模定位准确、工件安装容易，耗用辅助工时少，检测效率高；2、在定位条件下，量表以摆臂机构为载体实施球面检测，结构简单、合理，易操作；3、转动齿模可以从不同方位测量工件，由于测量基准不变，测量结果真实、准确， 所测数据可用于评价球面径向跳动偏差、球面高度和球径的误差；4、纯机械结构，对检测条件没有限制，在生产现场使用可避免发生批量质量超差的问题，减少经济损失。附图说明图1是本技术结构示意图。具体实施方式下面根据附图并结合实施例，对本技术作进一步说明。图1所示的行星锥齿轮球面比较测量仪，它由转子结构、摆臂结构和限位结构三部分组成。所述转子结构位于底部，它包括底座1、轴承2、主轴3和齿模9，竖置的主轴3通过轴承2安装在底座1内腔中，主轴3上端定位连接齿模9，手动齿模9驱动主轴3相对底座1旋转。本技术在底座1外壁上安装摆壁机构，所述摆臂机构包括支架4、转轴5、滚珠轴承6、表架7和表具8，底座1两侧外壁上左右对称固定连接支架4，支架4上端由转轴 5和滚珠轴承6组成转动副。转轴5相对支架4留有内伸的悬臂端。所述表架7形似“门” 构件，表架7两侧杆端设有横向通孔与两侧转轴5内伸悬臂端配合构成绕转轴5旋转的摆臂结构。表架7的横杆中部设有通孔安插表具8，表具8测量端朝内接触工件待测球面，摆动表架7即可对安装在齿模9上的工件实施检验，工件球面误差通过表具的指针直观指示， 本实施例中表具8为千分表，可精确计量实际误差。为了保护表具8的测量端在摆动检测过程中不受损，本技术在转子结构与摆臂结构之间设有限位结构，限位结构依附在支架4 腰部，它由支架4两侧面固定连接挡块10和螺钉11组成。使用时根据工件的球面尺寸调节螺钉11伸缩量确定表架7摆动极限位置。本技术实际使用时，工件以齿面与齿模9定位安装，测量过程中不改变工件安装位置，通过摆动摆臂结构和转动转子结构带动工件移位就能实施检测球面相对于齿的跳动、球面高度误差和球径误差测量，由于测量基准与设计基准一致，测量结果真实、准确， 可以用于相关质量指标评价。本技术纯机械结构，对检测条件没有限制，在生产现场使用可避免发生批量超差的质量问题，减少经济损失。权利要求1.一种行星锥齿轮球面比较测量仪，它由转子结构、摆臂结构和限位结构三部分组成；所述转子结构包括底座(1)、轴承(2)、主轴(3)和齿模(9)，竖置的主轴(3)通过轴承(2)安装在底座(1)内腔中，主轴(3)上端定位连接齿模(9)，手动齿模(9)驱动主轴(3)相对底座(1)旋转；其特征在于底座(1)外壁安装摆臂机构，所述摆臂机构包括支架(4)、转轴(5)、滚珠轴承(6)、表架(7)和表具(8)，底座(1)两侧外臂上左右对称固定连接支架(4)，支架(4)上端由转轴(5)和滚珠轴承(6)组成转动副，转轴(5)相对支架(4)留有内伸的悬臂端；所述表架(7)形似“门”构件，两侧杆端设有横向通孔与两侧转轴(5)内伸悬臂端配合构成绕转轴(5)旋转的摆臂结构，表架(7)的横杆中部设有通孔安插表具(8)，表具(8)测量端朝内接触工件待测球面；所述限位结构依附在支架(4)腰部，它由支架(4)两侧面固定连接挡块(10 )和螺钉(11)组成，调节螺钉(11)伸缩量确定表架(7 )摆动极限位置。2.根据权利要求1所述的行星锥齿轮球面比较测量仪，其特征在于所述表具(8)为百分表或千分表。专利摘要本技术公开了一种行星锥齿轮球面比较测量仪，它由转子结构、摆臂结构和限位结构三部分组成。所述转子结构包括底座、轴承、主轴和齿模，主轴相对底座旋转，主轴上端定位连接齿模。所述摆臂结构包括支架、转轴、滚珠轴承、表架和表具，支架安装在底座外壁上，支架上端由转轴和滚珠轴承组成转动副。所述表架形似“冂”构件，两侧杆端设有横向通孔与两侧转轴配合构成绕转轴旋转的摆臂结构。表架横杆中部通孔安插表具，表具测量端朝内接触工件待测球面。在转子结构与摆臂结构之间设有限位结构，以保护表具测量端。本技术结构简单、定位准确、检测效率高、精度好，对检测条件没有限制，在生产现场使用避免批量超差的质量问题，减少损失。文档编号G01B5/08GK202329470SQ20112046638公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月22日 优先权日2011年11月22日专利技术者夏汉关, 张勇, 朱正斌, 秦均, 黄泽培 申请人:江苏太平洋精锻科技股份有限公司, 江苏太平洋齿轮传动有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：夏汉关，秦均，朱正斌，张勇，黄泽培，
申请(专利权)人：江苏太平洋精锻科技股份有限公司，江苏太平洋齿轮传动有限公司，
类型：实用新型
国别省市：