半导体装置的测试模式控制电路及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种半导体装置的测试模式控制电路及相关方法的各个实施例。在一个示例性实施例中，测试模式控制电路可以包括：测试模式控制模块，测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个控制信号组；测试模式传送模块，测试模式传送模块被配置成将根据所述多个控制信号组的组合所产生的多个测试模式信号传送至半导体装置的多个电路模块；以及多个全局线，所述多个全局线被配置成将所述多个控制信号组传送至测试模式传送模块。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的各个实施例总体而言涉及一种半导体装置及相关方法。具体而言，某些实施例涉及一种。
技术介绍
在半导体装置中，利用测试模式对半导体装置内部所使用的电路模块进行测试， 并储存相应的测试结果，使得电路模块在正常模式下符合所储存的测试结果来进行操作。参见图1，半导体装置的现有的测试模式控制电路1可以包括测试模式控制模块 10、多个熔丝组20和全局线40。测试模式控制模块10被配置成根据外部命令和地址信号来产生测试模式信号。在现有技术中，当产生测试模式信号时，可以使用具有7个比特的地址信号。也就是说，可以产生最多1 个测试模式信号。所述多个熔丝组20与在半导体装置内操作的电路模块(例如，应用逻辑(use logic) UL) 30以一一对应的方式连接。所述多个熔丝组20用于储存与是否使用测试模式有关的信息。例如，所述多个熔丝组20可以被配置成储存测试模式信号，并在正常操作模式下将储存的测试模式信号传送至与熔丝组20连接的电路模块(UL)30。由于熔丝组20与电路模块(UL)30彼此一一对应，因此用于传送测试模式控制模块10所产生的测试模式信号的全局线40必须设置得与测试模式信号的数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：尹泰植，李锺天，
申请(专利权)人：海力士半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：