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本发明公开一种半导体装置的测试模式控制电路及相关方法的各个实施例。在一个示例性实施例中，测试模式控制电路可以包括：测试模式控制模块，测试模式控制模块被配置成响应于顺序输入的第一地址信号组和第二地址信号组而产生多个控制信号组；测试模式传送模块...
该专利属于海力士半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。

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