【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于透明导电薄膜
,涉及运用射频磁控溅射技术制备柔性ITO薄膜的方法。
技术介绍
氧化铟锡(ITO)薄膜是一种重掺杂、高简并的n型半导体材料,它具有复杂的体心立方铁锰矿结构(即立方In203结构),每个惯用元胞中的32个氧离子完全按尖晶石结构排列成立方密堆积,组成氧离子的面心立方子格子。在氧离子的面心立方子格子中,有氧四面体间隙位置(称为A位)和氧八面体间隙位置(称为B位)。尖晶石的分子式是AB204, 惯用元胞通式是A8B16032,即阳离子数氧离子数为24 32,而氧化铟分子式是In203,惯用元胞通式是In64/3032,这平均64/3个铟离子无规则地分布在A间隙和B间隙位置。与尖晶石结构相比,每个惯用元胞平均有8/3个阳离子空位。氧离子对氧离子的立方密堆积配位数为12,铟离子对铟离子的A位配位数是4,而B位配位数为8。ITO材料具有高的光学带隙,同时由于掺杂和组分缺陷两种半导化机制,使其具有高的可见光透过率和电导特性, 作为光电器件透明导电层具有广泛的科研和应用价值。专利CNlO 1054267公开了一种新型铟锡氧化物(ITO)薄膜的制 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:唐武,殷学松,翁小龙,邓龙江,陈良,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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