一种N式结构检测治具制造技术

本实用新型专利技术适用于检测器具技术，提供了一种N式结构检测治具，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。本实用新型专利技术通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题，可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于检测器具技术，尤其涉及一种N式结构检测治具。
技术介绍
目前使用测量产品的治具结构为L式结构，将产品从L形的前端放入测量，产品测量中无法稳定测量、对产品大小存在限制、测量作业时不易操作。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种N式结构检测治具，旨在解决现有L式结构治具产品测量中无法稳定测量、对产品大小存在限制、测量作业时不易操作等问题。本技术是这样实现的，一种N式结构检测治具，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。进一步，所述测量仪低杆通过通孔安装于所述N型框架上。进一步，所述测量仪表是电子千分表。本技术通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等存在的缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题，可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。附图说明图1是本技术提供的N式结构检测治具的结构示意图；图2是本技术提供的N式结构检测治具的主视图；图3是本技术提供的N式结构检测治具的俯视图；图4是本技术提供的N式结构检测治具的左视图。图中1、N型框架；2、测量仪表；3、测量仪低杆；4、治具底座。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。图1-4示出了本技术实施例提供的的N式结构检测治具的结构示意图。为了便于说明，仅仅示出了与本技术实施例相关的部分。如图2所示，该治具包括N型框架1、测量仪表2、测量仪低杆3、治具底座4 ；N型框架1固定在治具底座4上，测量仪表2固定在测量仪低杆3上，测量仪低杆 3固定在N型框架1上。在本技术实施例中，测量仪低杆3通过通孔固定在在N型框架1上。在本技术实施例中，，测量仪表2可以是电子千分表。以下结合附图及具体实施例对本技术的应用原理作进一步描述。本技术实施例的框架是N式结构，从而使治具更具稳定性及操作性并且增大了产品检测范围。把待测样品放置在治具底座4和测量仪低杆3之间，调节测量仪表2进行测量，并读出数据。本技术通过采用N型框架1、测量仪表2、测量仪低杆3等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等存在的缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题， 可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种N式结构检测治具，其特征在于，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、 治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上， 所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。2.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测量仪低杆通过通孔安装于所述N型框1 ο3.如权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测量仪表是电子千分表。专利摘要本技术适用于检测器具技术，提供了一种N式结构检测治具，该治具包括N型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述N型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述N型框架上。本技术通过采用N型框架、测量仪表、测量仪低杆等结构，消除了产品尺寸大小受制和产品不宜操作等缺点和不足，解决了现有L式结构检具的所有问题，可适于最大尺寸范围，并且更具稳定性及操作性。文档编号G01B21/00GK202141442SQ20112019529公开日2012年2月8日 申请日期2011年6月10日 优先权日2011年6月10日专利技术者陈昱成 申请人:宇瀚光电科技(苏州)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种Ｎ式结构检测治具，其特征在于，该治具包括Ｎ型框架、测量仪表、测量仪低杆、治具底座；所述Ｎ型框架固定在所述治具底座上，所述测量仪表安装在所述测量仪低杆上，所述测量仪低杆安装在所述Ｎ型框架上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈昱成，
申请(专利权)人：宇瀚光电科技苏州有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32