一种硅料分选装置制造方法及图纸

技术编号:6895818 阅读:259 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及光伏或半导体领域的一种硅料分选装置,尤其是一种将正常硅料与金属或重掺硅料分离的涡流装置。该装置设有涡流探测器和分离机构,当硅料中混有金属或重掺硅料时,会在其内部产生涡流,引发涡流探测器发出报警声,再通过分离机构将金属或重掺硅料与正常硅料分离。通过本实用新型专利技术提供的硅料分选装置,能够将硅料中混有的金属或重掺硅料彻底除去,分选得到的硅料可再次用作多晶硅铸锭的原料。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光伏或半导体领域的一种硅料分选装置,尤其是一种将正常硅料与金属或重掺硅料分离的涡流装置。
技术介绍
在光伏或半导体行业的各个生产环节中,会产生很多碎硅料,为了节省生产成本, 很多厂家会将这些碎硅料经过处理后再次用作多晶硅铸锭或是单晶拉制的原料。这些碎硅料中含有很多杂质,通常包括石英、有机胶、金属等杂质,石英和有机胶杂质可以通过电选、或是碱液浮选的方法除去。如公开号为CN101623672A的中国专利一种混有杂质的硅料的分选方法公开了一种混有杂质的硅料通过在电场中带电或其他方式带电后,因硅料与石英、胶带、灰尘、碳化硅等杂质的电阻率差异较大,可以在电选设备的不同分离区域分开。对于硅料里面混有的金属主要指铁、铜、铝、银等杂质,由于铁属于导磁性物质,所以可以采用磁选的方式将铁与硅料分离。但对于金属铜、铝、银等非导磁性物质,通过常规的磁选方法则无法将其与硅料分离。硅料中除了含有石英、有机胶、金属等杂质要除去外,还有一些电阻率较小的硅料要与正常硅料分离,这些硅料的电阻率一般小于0. 1Ω. cm,俗称重掺硅料。现有技术中,对于这种电阻率较小的重掺硅料,一般是通过人工利用半导体测试仪对硅料进行逐个测试。 采用这种人工分选方式,效率较低,而且只能将一些形状规则的大尺寸重掺硅料分离,对于一些细碎硅料采用常规的检测设备是无法将其与正常硅料分离的。
技术实现思路
本技术提供了一种硅料分选装置,通过该装置能够将硅料中混有的一些金属或重掺硅料与正常硅料分离,而且分选效率较高。本专利技术的技术方案为一种硅料分选装置,包括储料装置和接料器,其中储料装置与检测机构相连, 检测机构内设有涡流探测器和分离机构,涡流探测器和分离机构通过识别电路连接。一种硅料分选装置,其中所述的检测机构内可增加一个传送带,用于传送硅料。一种硅料分选装置,其中所述的分选装置主要是用于将硅料与杂质分离。一种硅料分选装置,其中所述的杂质金属,可以是铁、铜、镍、铝、银中的任意一种或是几种的混合。一种硅料分选装置,其中所述的杂质是电阻率小于正常硅料的重掺硅料。一种硅料分选装置,其中所述的重掺硅料是电阻率小于或等于0. 1Ω. cm的硅料。本技术与现有技术实施效果比较 现有技术中,要除去硅料中的金属铁,一般是通过人工采用磁铁在硅料表面移动的方式来吸附硅料中混有的铁;也有通过现有的磁选设备来除去硅料中的铁。但采用这种方式,对于一些细小的铁削可能会吸附于碎硅片之间而不能除去。而对于硅料中混有的一些非磁性物质,如铝、铜、银等金属,则不能通过磁选的方法除去。另外,对于硅料中混有的一些电阻率低的重掺硅料,现有技术中主要是通过人工采用电阻率测试仪来对硅料进行测试。由于这种测试方式必须对每一片硅料进行检测,对于形状不规则的硅料,还必须对硅料的不同部位进行检测。所以这种检测重掺硅料的方式效率极低。对于一些尺寸极小的硅料, 采用这种人工的检测方式无法检测。本技术的工作原理本技术主要是利用电磁感应的原理,采用通有交流电的线圈,产生迅速变化的磁场,该磁场会在金属物体或电阻率低的重掺硅料内部产生涡电流,涡电流又会产生磁场,反过来影响原来的磁场,引发探测器发出报警声,从而达到检测硅料中是否含有金属或重掺硅料的目的。当检测到金属或重掺硅料时,涡流探测器会将该信号传达给分离机构并驱动分离机构将金属或重掺硅料与正常硅料分离。本技术的优点本技术的优点在于能够通过该涡流分选装置将硅料中混有的金属或重掺硅料与正常硅料分离。相比现有技术,该装置可以同时实现将金属与重掺硅料与正常硅料分离,提高了工作效率及分选精度。另外,由于该装置是自动分离,在整个分离过程中都属于无接触式分离,所以不会由于人为操作造成硅料的多次污染,对于常规设备无法分离的细碎硅料也可通过该装置进行分离。因此,本技术不仅能够将硅料中混有的金属或重掺硅料与正常硅料分离,提高了硅锭质量进而提高太阳能电池片的转化效率,同时也为光伏或半导体行业的发展提供了更多的硅料来源。附图说明附图1是本技术的结构示意图;附图2是实施例2的结构示意图;附图标记储料装置1、接料器2、涡流探测器3、分离机构4和传送带5。具体实施方式实施例1、一种硅料分选装置,包括储料装置1和接料器2,其中储料装置1与检测机构相连,检测机构内设有涡流探测器3和分离机构4,涡流探测器3和分离机构4通过4识别电路连接。实施例2、一种硅料分选装置,其中所述的检测机构内可增加一个传送带5,用于传送硅料,其余同实施例1。实施例3、一种硅料分选装置,其中所述的分选装置主要是用于将硅料与杂质分离,其余同实施例1或实施例2中的任意一种实施例。实施例4、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是铁,其余同实施例 1-3中的任意一种实施例。实施例5、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是铜,其余同实施例 1-3中的任意一种实施例。实施例6、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是镍,其余同实施例 1-3中的任意一种实施例。实施例7、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是铝,其余同实施例 1-3中的任意一种实施例。实施例8、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是银,其余同实施例 1-3中的任意一种实施例。实施例9、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是由铁、铜、镍、铝及银四种金属组成,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例10、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为0. 1Ω. cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例11、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为0. 05Ω. cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例12、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为0.01 Ω . cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例13、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为 0. 005 Ω . cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例14、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为 0. 001 Ω . cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例15、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为 0. 0001 Ω . cm的重掺硅料,其余同实施例1-3中的任意一种实施例。实施例16、一种利用涡流分选硅料的方法,其中所述的杂质是电阻率为 0. 00001 Ω . cm的重掺硅料,其余同实施例1_3中的任意一种实施例。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硅料分选装置,包括储料装置(1)和接料器(2),其特征在于:储料装置(1)与检测机构相连,检测机构内设有涡流探测器(3)和分离机构(4),涡流探测器(3)和分离机构(4)通过识别电路连接。

【技术特征摘要】
1.一种硅料分选装置,包括储料装置(1)和接料器(2),其特征在于储料装置(1)与检测机构相连,检测机构内设有涡流探测器(3)和分离机构(4),涡流探测器(3)和分离机构 (4)通过识别电路连接。2.如权利要求1所述的一种硅料分选装置,其特征在于所述的检测机构内可增加一个传送带(5),用于传送硅料。3.如权利要求1或2所述的一种硅料分选装置,其特征在于所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡动力付家云陈红荣
申请(专利权)人:江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:36

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