【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种动态检测器件数据信号对时钟信号建立和保持时间的方法。
技术介绍
想要保证超大规模集成电路设计的正确性需要满足两个方面要求第一，芯片电路基本功能的正确性；第二，芯片电路中所有的器件时序的正确性。要保证时序正确就需要时序验证，即器件数据信号对时钟信号的建立和保持时间的正确性。现有工具要么只能验证功能，要么只能验证时序，不能同时保证两个方面。而且现有时序验证工具(即静态时序验证)也有很大的局限性。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种，其解决了现有静态时序验证工具不能在正常仿真工作状态下进行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数目的技术问题。本专利技术的第一种技术解决方案是一种，包括以下步骤1设计功能仿真开始；2记录检测时间点2. 1检测数据变化，依次记录数据变化的时间点Ap A2……An，直至时钟上升沿到来；2. 2检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点Bi、B2……Bn，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点C ；3计算数据3. 1计算数据建立时间Ts = B1-An ；3. 2计算数据保持时间Tt = C-Bn ；4...
【技术保护点】
１．一种集成电路动态时序检测方法，其特征在于：包括以下步骤：１】设计功能仿真开始；２】记录检测时间点：２．１】检测数据变化，依次记录数据变化的时间点Ａ１、Ａ２……Ａｎ，直至时钟上升沿到来；２．２】检测时钟上升沿的到来，依次记录时钟上升沿到来的时间点Ｂ１、Ｂ２……Ｂｎ，直至检测到下一个数据变化，记录数据变化的时间点Ｃ；３】计算数据：３．１】计算数据建立时间ＴＳ＝Ｂ１－Ａｎ；３．２】计算数据保持时间ＴＴ＝Ｃ－Ｂｎ；４】重复步骤２和步骤３，直至功能仿真完成。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王斌，谈杰，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，西安华芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：88
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