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本发明目的是提供一种集成电路动态时序检测方法，其解决了现有静态时序验证工具不能在正常仿真工作状态下进行时序验证且无法自定义时序验证的器件的种类和数目的技术问题。该集成电路动态时序检测方法，包括以下步骤：1】设计功能仿真开始；2】记录检测时间...该专利属于山东华芯半导体有限公司;西安华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司;西安华芯半导体有限公司授权不得商用。