在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料及其制备方法技术

技术编号:6838609 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料及其制备方法,其材料包括衬底,该衬底采用硅片,其衬底表面生长有In2O3晶体;所述的In2O3晶体长度为5~15μm,顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细,10~30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。其制备方法是以In颗粒作为原料,利用热蒸发方法生长得到In2O3箭状纳米结构。本发明专利技术具有大面积生长,成本低,重复性高等优点,可结合目前成熟的半导体硅集成电路工艺,适合于集成纳米光电子器件的发展。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电子材料、半导体材料与器件
,具体地说,本专利技术涉及在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料及其制备方法
技术介绍
In2O3是一种宽带隙透明半导体材料,其直接带隙在3. 55 3. 75eV范围内,具有良好的导电性和较高的透光率。由于其独特的电学、化学和光学性质,In2O3在化学、生物传感、太阳能电池、光催化、执行器、光电子和平板显示等领域具有广泛的应用空间。近来,人们利用各种方法(溶液法,分子束外延,脉冲激光沉积,金属有机物化学气相沉积等)制备出了各种不同的In2O3纳米结构,例如纳米线,纳米带,纳米方块,八面体, 纳米箭等,并对这些纳米结构的光电特性进行了研究。但是能应用于大规模生产的方法很少,且反应条件苛刻,生产成本高昂。本专利技术所提供的In2O3箭状纳米结构及其制备方法, 克服现有技术的缺陷,实现了在硅片上制备大规模的In2O3纳米结构,且方法简单,对设备及制备条件要求不高,适合大规模生产。In2O3箭状纳米结构具有纳米级的尖端,底部是棒状结构,其独特的构造,使得它可用于高效的场发射材料,且可用于制作各种精密仪器的探头;也可结合目前成熟的半导体硅集成电路工艺,适合于集成纳米光电子器件的发展。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于提供一种在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,包括硅片衬底,和生长在所述衬底表面的In2O3晶体。其中,所述In2O3晶体为箭状纳米结构。本专利技术提供的在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,这种纳米结构具有很明显的周期性,所述的In2O3晶体长度为5 15 μ m,顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细,10 30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。本专利技术提供的所述In2O3箭状纳米结构,在国际上尚属首次报道。本专利技术的第二个目的在于提供在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的制备方法,以解决现有In2O3纳米材料制备方法条件苛刻,成本高的问题,提供一种低成本, 高重复性,适用于大规模工业生产的新方法。制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的方法,包括如下步骤a、将In颗粒作为源放到石英舟里,把清洗后的硅片盖在石英舟的上面,硅片与源的垂直距离为4 IOmm ;b、把石英舟放到预先加热至700 1000°C的水平放置的管式生长炉的中部;C、通入惰性气体Ar作为载气,在大气压强下反应,得到产物。其中,所述步骤a中所述In颗粒的纯度为99. 999%。其中,所述步骤c中所述通入的惰性气体Ar的流量为0. 2 0. 6L/min ;所述在大气压强下的反应时间为120 360min。其中,所述水平放置的管式生长炉是由两根半径不同的管组成的,大的氧化 铝管长度为70 100cm,直径为6 IOcm ;小的石英管长度为50 80cm,直径为3 5cm。反应时,把小口径的管子插入大口径管子中,反应在小管中进行,并且载气是直接通入到小口径管子中。制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的方法,具体步骤包括如下a、把硅片清洗干净,然后切成几小片;b、将水平放置的管式生长炉以5°C /min的速率加热到700 1000°C ;C、将纯度99. 999%的In颗粒作为源放到一个石英舟里,把一小片干净的硅片盖在石英舟的上面,作为衬底来收集反应生成物,硅片与源的垂直距离为4 IOmm ;d、把石英舟放到预先加热好的水平管式炉的中部;e、通入流量为0. 2 0. 6L/min的惰性气体Ar作为载气,在大气压强下反应120 360min ;f、取出石英舟和硅片,在硅片上面长有一层淡黄色的物质。本专利技术通过改变对热蒸发过程中一些参量,如气体流量,反应温度,硅片与源之间距离的控制,合成了 In2O3箭状纳米结构。相对于以前合成的纳米结构,本专利技术的突出特点是(1)所放硅片衬底位置不同。许多合成方法都把硅衬底放在气流的下流,与源在同一水平位置,而本专利技术则把硅片直接放在与源的垂直方向上的某一位置;(2)压力只需要是常压,降低了对设备的要求;(3)不需要引入任何催化剂;(4)对载气的要求不高,只需要Ar 就可以,不需要加O2等另外的气体;(5)方法简单,成本低,重复性好,而且是大面积的生长。且本专利技术采用硅片作为衬底,将In2O3箭状纳米结构生长在硅衬底上,可结合目前成熟的半导体硅集成电路工艺,适合于集成纳米光电子器件的发展。附图说明图1是箭状纳米结构的X射线衍射1显示所有的峰都是In2O3的峰,没有任何杂质峰存在。图2是大量箭状纳米结构的SEM2显示In2O3晶体长度为5 15 μ m,10 30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。图3是箭状纳米结构的放大倍数的SEM3显示In2O3晶体顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细。具体实施例方式实施例1制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,具体步骤如下a、把硅片清洗干净,然后切成几小片;b、将水平放置的管式生长炉以5°C /min的速率加热到700°C ;c、将In颗粒(纯度99. 999% )作为源放到一个石英舟里,把一小片干净的硅片盖在石英舟的上面,作为衬底来收集反应生成物,硅片与源的垂直距离为7mm ;d、把石英舟放到预先加热好的水平管式炉的中部;e、通入流量为0. 4L/min的惰性气体Ar作为载气,在大气压强下反应240min ;f、取出石英舟和硅片,在硅片上面长有一层淡黄色的物质,即制得所需材料。检测所制得的材料,检测结果如图1、2、3所示。图1显示所有的峰都是In2O3的峰,没有任何杂质峰存在。图2显示In2O3晶体长度为5 15 μ m,10 30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。图3显示In2O3晶体顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细。实施例2制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,具体步骤如下a、把硅片清洗干净,然后切成几小片;b、将水平放置的管式生长炉以5°C /min的速率加热到1000°C ;c、将In颗粒(纯度99. 999% )作为源放到一个石英舟里,把一小片干净的硅片盖在石英舟的上面,作为衬底来收集反应生成物,硅片与源的垂直距离为8mm ;d、把石英舟放到预先加热好的水平管式炉的中部;e、通入流量为0. 6L/min的惰性气体Ar作为载气,在大气压强下反应180min ;f、取出石英舟和硅片,在硅片上面长有一层淡黄色的物质,即制得所需材料。检测所制得的材料,检测结果如图1、2、3所示。图1显示所有的峰都是In2O3的峰,没有任何杂质峰存在。图2显示In2O3晶体长度为5 15 μ m,10 30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。图3显示In2O3晶体顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细。权利要求1.一种在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,其特征在于,包括硅片衬底, 和生长在所述衬底表面的In2O3晶体,所述In2O3晶体为箭状纳米结构。2.根据权利要求2所述的在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,其特征在于,所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,其特征在于,包括硅片衬底,和生长在所述衬底表面的In2O3晶体,所述In2O3晶体为箭状纳米结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄雁君郁可朱自强
申请(专利权)人:华东师范大学
类型:发明
国别省市:31

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