快速测量平面度的点触式检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种快速测量平面度的点触式检具，包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。本实用新型专利技术与现有技术相比，其有益效果为：1、结构简单，制造容易，专用量规系列化后方便、快捷又准确地完成支架、箱体类不规则形状零件平面度等关键位置的检测，单件检测用时由CMM检测的75～85秒缩短为25～30秒，有效地提高了检测效率；2、可以通过SPC监控过程，有效的防止不合格产品的产生。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检具，属于测量设备
，尤其是指一种快速测量平面 度的点触式检具。
技术介绍
在批量生产过程中，类似支架、箱体类产品的平面度属关键位置，需要进行全检。 现有技术中，测量方法一般采用的是平台加塞尺或者CMM等通用量具，但是，由于检测位置 小或被测工件形状不规则等原因，使得测量速度比较缓慢且测量结果不够精准，甚至容易 产生误读，导致因操作不规范而产生不合格产品。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中的缺点与不足，提供一种结构简单、操作 方便、测量精确的快速测量平面度的点触式检具。为了实现上述目的，本技术按以下技术方案实现一种快速测量平面度的点触式检具，包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一 滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包括紧固连接 的测量砧和千分表。进一步，所述平模板的镂空凹槽的尺寸和形状与被测产品的凸出部位适应配合。进一步，所述平模板的两端设置有把手。进一步，所述平模板的平行度为um级，优选为0. 005mm。进一步，所述测量砧为一梯形块，其底面长度大于镂空凹槽的最大宽度，顶面设置 有与千分表紧固连接用的螺孔，中部设置有贯穿测量砧供千分表测头通过的穿孔。进一步，所述测量砧底面的平行度为um级，优选为0. 002mm。进一步，所述千分表通过表支架与测量砧紧固连接且其测头伸出穿孔外部。本技术与现有技术相比，其有益效果为1、结构简单，制造容易，专用量规系列化后方便、快捷又准确地完成支架、箱体类 不规则形状零件平面度等关键位置的检测，单件检测用时由CMM检测的75 85秒缩短为 25 30秒，有效地提高了检测效率；2、可以通过SPC监控过程，有效的防止不合格产品的产生。为了能更清晰的理解本技术，以下将结合附图说明阐述本技术的具体实 施方式。附图说明图1是本技术的结构示意图。图2是图1中平模板的结构示意图。图3是图1中测量部件的结构示意图。图4是图3中测量砧的结构示意图。具体实施方式如图1至4所示，本技术所述的快速测量平面度的点触式检具，包括有一与被 测产品贴合接触的平模板1及一滑动设于平模板1上的测量部件2。上述平模板1采用耐磨性好的工具钢材料制成，其设置有镂空凹槽11，镂空凹槽 11的尺寸和形状与被测产品的凸出部位适应配合，同时，其两端设置有推拉用的把手12。 进一步，所述平模板1的平行度为um级，优选为0. 005mm。上述测量部件2包括紧固连接的测量砧21和千分表22。所述测量砧21为一梯形 块，其底面长度大于镂空凹槽11的最大宽度，约为宽度的2. 5倍，顶面设置有与千分表22 紧固连接用的螺孔211，中部设置有贯穿测量砧21供千分表22测头通过的穿孔212 ；进一 步，所述测量砧21底面的平行度为um级，优选为0. 002mm。所述千分表22通过表支架221 与测量砧21紧固连接且其测头伸出穿孔212外部。本技术的工作原理如下所述在测量被测零件伸出的销钉、管类的平面度数 值值时，将平模板1放置于被测零件上，使零件凸出的不规则部位置于平模板的镂空凹槽 11内，之后将测量部件2放置于平模板1上方，测量砧21与平模板2接触，千分表22的测 头与零件检测面接触，测量砧21在平模板1上方移动，千分表22的测头与镂空凹槽11内被 测零件的检测面接触，每个凹槽的接触点不少于3个，使用者通过观察千分表22上的数值， 记录对比，即可判断被测零件的平面度数值是否在规格范围内，是为合格，否则为不合格。本技术并不局限于上述实施方式，如果对本技术的各种改动和变型不脱 离本技术的精神和范围，倘若这些改动和变型属于本技术的权利要求和等同技术 范围之内，则本技术也意图包含这些改动和变型。权利要求1.一种快速测量平面度的点触式检具，其特征在于包括有一与被测产品贴合接触的 平模板及一滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包 括紧固连接的测量砧和千分表。2.根据权利要求1所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于所述平模板的 两端设置有把手。3.根据权利要求2所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于所述平模板的 平行度为0. 005mm。4.根据权利要求1所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于所述测量砧为 一梯形块，其底面长度大于镂空凹槽的最大宽度，顶面设置有与千分表紧固连接用的螺孔， 中部设置有贯穿测量砧供千分表测头通过的穿孔。5.根据权利要求4所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于所述测量砧底 面的平行度为0. 002mm。6.根据权利要求5所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于所述千分表通 过表支架与测量砧紧固连接且其测头伸出穿孔外部。专利摘要本技术公开了一种快速测量平面度的点触式检具，包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。本技术与现有技术相比，其有益效果为1、结构简单，制造容易，专用量规系列化后方便、快捷又准确地完成支架、箱体类不规则形状零件平面度等关键位置的检测，单件检测用时由CMM检测的75～85秒缩短为25～30秒，有效地提高了检测效率；2、可以通过SPC监控过程，有效的防止不合格产品的产生。文档编号G01B5/28GK201852553SQ20102050849公开日2011年6月1日 申请日期2010年8月27日 优先权日2010年8月27日专利技术者岑祥荣, 李维明 申请人:广东鸿特精密技术股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李维明，岑祥荣，
申请(专利权)人：广东鸿特精密技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44