【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检具，尤其是一种检查平板上两个圆柱体形凸起的轴距的检具。
技术介绍
在平板上具有两个以上的圆柱体是目前常用的工件形状。传统检查两个圆柱体之间的轴距时，采用游标卡尺或者千分尺卡在两个圆柱体上测量，还必须要去除两个圆柱体的半径，如果圆柱体的尺寸有误差，则测量不准确，检测效率也差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种很方便就能检查平板工件上两个圆柱体之间的轴距是否符合公差要求，提高检测效率的检具。为了达到上述目的，本技术的技术方案是：一种检具，包括检具台，检具台为长方体结构，所述检具台上设有与其中一个长边平行的第一凹槽，与长边相邻的两个短边上均设有与短边平行的第二凹槽，在第一凹槽和第二凹槽之间设有检查块，所述检查块与检具台通过螺栓固定连接，检查块上设有若干个检查孔。采用上述结构后，本技术在使用时，只要将被检查的工件上设置与第一凹槽和第二凹槽形状位置相同的凸台，将凸台卡装在第一凹槽和第二凹槽内，然后就可以对工件进行限位。在将工件上的两个圆柱体试着伸入检查块的检查孔内，如果可以伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差在规定范围内；如果不能伸入，则工件上的圆柱体轴距尺寸公差不能满足公差要求，必须重新加工。同时在不同规格形状的工件，可以设置不同检查孔位置的检查块，用来扩大检
具的使用范围。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是图1的仰视图。具体实施方式以下结合附图给出的实施例对本技术作进一步详细的说明。参见图1所示，一种检具，包括检具台1，检具台1为长方体结构，所述检具台1上设有与其中一个长边2平行的第一凹槽3，与长边2相邻的两个短边4上均设...
【技术保护点】
一种检具，其特征在于：包括检具台(1)，检具台(1)为长方体结构，所述检具台(1)上设有与其中一个长边(2)平行的第一凹槽(3)，与长边(2)相邻的两个短边(4)上均设有与短边(4)平行的第二凹槽(5)，在第一凹槽(3)和第二凹槽(5)之间设有检查块(6)，所述检查块(6)与检具台(1)通过螺栓(7)固定连接，检查块(6)上设有若干个检查孔(8)。
【技术特征摘要】
1.一种检具，其特征在于：包括检具台(1)，检具台(1)为长方体结构，所述检具台(1)上设有与其中一个长边(2)平行的第一凹槽(3)，与长边(2)相邻的两个短边(4)上均设有与...
【专利技术属性】
技术研发人员：章华亮，
申请(专利权)人：昆山市杰尔电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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