卡尺检具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种卡尺检具，包括第一检具，第一检具包括两个分离的基体，每个基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，第一平面测块可移动地设于第一基座，第一滑块连接于第一锁紧件，第一锁紧件可相对第一基座移动以通过第一滑块推动第一平面测块移动，并可相对第一基座定位以限定第一平面测块的位置，两个基体对称设置从而使两个第一平面测块相对而设。采用本卡尺检具的第一检具，由于两个基体是分离的，因此可根据需要在两个第一平面测块之间放置数量和尺寸不同的量块，即使卡尺量程较大仍能满足需要，同时，由于两个基体是分离的，不使用时卡尺检具体积较小，便于携带。

【技术实现步骤摘要】
卡尺检具
本技术涉及检测
，特别是涉及一种卡尺检具。
技术介绍
卡尺是一种常用的检具，目前卡尺的校准精度要求很高，且使用率很高，卡尺在使用一段时间后，可能和标准值之间产生误差，如果这样的卡尺继续使用，会导致测量不准确，带来一定的经济损失。为了保证卡尺测量的准确性，需要对卡尺进行校准。JJG34-2012通用卡尺检定规程规定，刀口内量爪的示值误差的检定方法与刀口外量爪的示值误差的检定方法一致。一种内沟槽卡尺示值误差校准方法，通过量块和量块附件进行卡尺的校准，内沟槽卡尺的测量面与量块附件表面接触，卡尺测量值和位于量块附件表面之间的量块之差即为刀口内量爪示值误差。然而，现有卡尺内尺寸校准装置一般量程受限，对于量程较大的卡尺无法校准，而一些量程较大的卡尺内尺寸校准装置，则存在体积较大、携带不便的问题。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种量程较大、体积较小、携带方便的卡尺检具。一种卡尺检具，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动，并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置，两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。采用本卡尺检具的第一检具，由于两个基体是分离的，因此可根据需要在两个第一平面测块之间放置数量和尺寸不同的量块，即使卡尺量程较大仍能满足需要，同时，由于两个基体是分离的，不使用时卡尺检具体积较小，便于携带。在其中一个实施例中，所述第一检具还包括两个固定栓，每个所述第一基座设有一个所述固定栓。在其中一个实施例中，所述第一检具还包括第一量块，所述第一量块上开设有两个间隔设置的连接孔，两个所述固定栓可分别穿过所述第一量块的两个所述连接孔，从而将两个所述基体连接。在其中一个实施例中，所述第一检具还包括第二量块，所述第一量块和所述第二量块依次设于两个所述第一平面测块之间，且两个所述第一平面测块接触所述第一量块和所述第二量块的组合体的两端。在其中一个实施例中，所述第一锁紧件为螺杆，所述第一锁紧件螺纹连接于所述第一基座。在其中一个实施例中，所述卡尺检具还包括第二检具，所述第二检具包括第二基座、两个第二平面测块、两个第二滑块和两个第二锁紧件，两个所述第二平面测块可移动地设于所述第二基座，且两个所述第二平面测块相对而设，所述第二滑块连接于所述第二锁紧件，所述第二锁紧件可相对所述第二基座移动以通过所述第二滑块推动所述第二平面测块移动，并可相对所述第二基座定位以限定所述第二平面测块的位置。在其中一个实施例中，所述第二检具还包括第三量块，所述第三量块设于两个所述第二平面测块之间，且两个所述第二平面测块接触所述第三量块的两端。在其中一个实施例中，所述第二锁紧件为螺杆，所述第二锁紧件螺纹连接于所述第二基座。附图说明图1为本技术一实施例的卡尺检具的部分结构第一角度示意图；图2为图1所示卡尺检具的部分结构的第二角度示意图；图3为本技术一实施例的卡尺检具的第一量块的结构示意图；图4为本技术一实施例的卡尺检具的另一部分结构第一角度示意图；图5为图4所示卡尺检具的第二部分结构的第二角度示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在两者之间的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在两者之间的元件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1和图2，本技术一实施例的卡尺检具包括第一检具100，第一检具100包括两个分离的基体10，每个基体10包括第一基座102、第一平面测块104、第一滑块106和第一锁紧件108，第一平面测块104可移动地设于第一基座102，第一滑块106连接于第一锁紧件108，第一锁紧件108可相对第一基座102移动以通过第一滑块106推动第一平面测块104移动，并可相对第一基座102定位以限定第一平面测块104的位置。两个基体10对称设置从而使两个第一平面测块104相对而设。利用本卡尺检具，可将量块设于两个第一平面测块104之间，卡尺的刀口内量爪分别接触两个第一平面测块104，从而检测卡尺的测量是否准确。采用本卡尺检具的第一检具100，由于两个基体10是分离的，因此可根据需要在两个第一平面测块104之间放置数量和/或尺寸不同的量块，即使卡尺量程较大仍能满足需要，同时，由于两个基体10是分离的，不使用时卡尺检具体积较小，便于携带。一般来说，该第一检具100适应量程大于100mm的卡尺，当然，该第一检具100也可适应于量程较小的卡尺。本实施例中，请一并参阅图3，第一检具100还包括第一量块20和两个固定栓22，第一量块20上开设有两个间隔设置的连接孔202，两个固定栓22可分别穿过第一量块20的两个连接孔202，从而将两个基体10连接。本实施例中，第一检具100还包括第二量块(图未示)，第一量块20和第二量块依次设于两个第一平面测块104之间，且两个第一平面测块104接触第一量块20和第二量块的组合体的两端。可以理解，第二量块为普通的制式量块，其上未开设连接孔；另外，第一量块20和第二量块均可为一个也可为一个以上，根据需要设置。本实施例中，第一锁紧件108为螺杆，第一锁紧件108螺纹连接于第一基座102。通过拧动第一锁紧件108，可带动第一滑块106移动而推动第一平面测块104移动。请参阅图，4和图5，一实施例的卡尺检具还包括第二检具300，第二检具300包括第二基座302、两个第二平面测块304、两个第二滑块306和两个第二锁紧件308，两个第二平面测块304可移动地设于第二基座302，且两个第二平面测块304相对而设，第二滑块306连接于第二锁紧件308，第二锁紧件308可相对第二基座302移动以通过第二滑块306推动第二平面测块304移动，并可相对第二基座302定位以限定第二平面测块304的位置。当卡尺量程较小时，可选择第二检具300，由于第二检具300适应较小量程的卡尺，因此第二检具300的体积也较小，便于携带。一般来说，第二检具300适应于量程小于或等于100mm的卡尺。通过第一检具100和第二检具300，可适应全量程的卡尺的检测，当卡尺量程较小时选用第二检具300，当卡尺量程较大时选用第一检具100。本实施例中，第二检具300还包括第三量块(图未示)，第三量块设于两个第二平面测块304之间，且两个第二平面测块304接触第三量块的两端。可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种卡尺检具，其特征在于，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动，并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置，两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。

【技术特征摘要】
1.一种卡尺检具，其特征在于，包括第一检具，所述第一检具包括两个分离的基体，每个所述基体包括第一基座、第一平面测块、第一滑块和第一锁紧件，所述第一平面测块可移动地设于所述第一基座，所述第一滑块连接于所述第一锁紧件，所述第一锁紧件可相对所述第一基座移动以通过所述第一滑块推动所述第一平面测块移动，并可相对所述第一基座定位以限定所述第一平面测块的位置，两个所述基体对称设置从而使两个所述第一平面测块相对而设。2.根据权利要求1所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括两个固定栓，每个所述第一基座设有一个所述固定栓。3.根据权利要求2所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括第一量块，所述第一量块上开设有两个间隔设置的连接孔，两个所述固定栓可分别穿过所述第一量块的两个所述连接孔，从而将两个所述基体连接。4.根据权利要求3所述的卡尺检具，其特征在于，所述第一检具还包括第二量块，所述第一量块和所述第二量块依次设于两个所述第一平面测块之间，且...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢才智，袁仍，冯志芳，叶凌华，
申请(专利权)人：广电计量检测北京有限公司，广州广电计量检测股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11