１４４线０．６３５节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对１４４线细节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型专利技术按１４４线０．６３５节距封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型。插座座体用于接触件固定，座体上的斜面具有定位功能，方便被试器件定位安装。插座体还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件压紧接触件。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对144线，节距为0. 635mm 的陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选和性能测试的插座。属电子信息 技术可靠性领域。
技术介绍
目前，在我国电子元器件可靠性
，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°C +85°C，工作时间短、引线根数少、接触件节距宽、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性
内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的多引线、细节距微电子元器件，尚无高低温老 化可靠性试验和测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂 贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重 要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
技术实现思路
为克服现有老化试验插座在接触电阻、老化工作温度和一致性以及引线根数、接 触件节距和使用寿命方面的不足，本技术提供一种高温老化测试试验插座。该插座不 仅能将老化工作温度范围从_25°C +85°C扩展到-55°C +150°C，一次老化连续工作时间 长达1500h(150°C )以上，插拔寿命10000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验 和性能测试过程中，具有接触件节距细小、引线根数多、接触电阻小、一致性好、可靠性高、 零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。本技术解决技术问题所采用的技术方案是按照144线陶瓷四边引线扁平封 装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体 由座、盖和钩组成，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用 于接触件固定和被试器件的定位安装，同时插座体可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转 与座啮合时，使盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件；接触件由轴向对称、平均分布的 144线、0.635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座的4面凹槽中。该实用新 型在陶瓷四边引线扁平封装元器件系列插座中属于接触件数目多(144线)、接触件节距 小(接触件的节距仅为0. 635mm)，同时在接触件排列上，采用每面三排的排列结构，并与被 试器件引出线相对应，安装于插座体座中。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻 盖式机构把接触件设计成零插拔力的结构，以避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触 性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，且可以满足被试器件不同引线(144线内)的要求。本技术的有益效果是该技术可以满足军民通用CQFP144线型和其它同 类陶瓷四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为 国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。以下结合附图和实施方式对本技术作进一步说明。附图说明图1是本技术的外形结构纵剖面构造图。图2是本技术外型结构俯视图。图1 :1前脚接触件、2中脚接触件、3后脚接触件、4座、5轴、6扭簧、7盖、8压簧、9 钩具体实施方案在图1中，先将接触件即前脚接触件(1)、中脚接触件( 和后脚接触件( 按与 被试器件引出线相对应结构插入座⑷中；再将轴(5)、钩(9)和压簧⑶装入插座体的盖 (7)之中；最后将装好的盖(7)、轴( 和扭簧(6) —起装入插座体的座中。该方案中，插座体用于接触件固定，插座座体斜面具有定位功能，方便被试器件的 定位安装，同时插座体还起自动压紧装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖向下运 动，使被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧 和零插拔力结构安装于插座体的座中。权利要求1.一种144线0. 635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是它是 由插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座、盖(7)和钩(9)组成，用于被试器 件的自动压紧，插座体选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件 (1) > (2), (3)与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。2.根据权利要求1所述的144线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插 座，其特征是插座体和接触件是一个统一整体，接触件(1)、(2), (3)由轴向对称、平均分 布的144线、0.635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座(4)的4面凹槽中。3.根据权利要求1所述的144线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插 座，其特征是插座由座体上的斜面进行定位。专利摘要本技术涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对144线细节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本技术按144线0.635节距封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型。插座座体用于接触件固定，座体上的斜面具有定位功能，方便被试器件定位安装。插座体还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件压紧接触件。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。文档编号H01R13/42GK201910525SQ20102028193公开日2011年7月27日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日专利技术者曹金学 申请人:曹金学本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种１４４线０．６３５节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座（４）、盖（７）和钩（９）组成，用于被试器件的自动压紧，插座体选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件（１）、（２）、（３）与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹金学，
申请(专利权)人：曹金学，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]