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本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对１４４线细节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按１４４线０．６３５节距封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由...
该专利属于曹金学所有，仅供学习研究参考，未经过曹金学授权不得商用。

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