用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关技术方案

本实用新型专利技术涉及一种微波同轴开关，特别涉及一种适用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关。用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与两个常开触头对应的设有主ＳＭＡ阴接头和辅ＳＭＡ阴接头，主ＳＭＡ阴接头和辅ＳＭＡ阴接头分别连接外部受控电路。可完成一点向多点的信号输入和切换，最高频率可到２６．５ＧＨｚ。开关时间小于２０ｍｓ，具有低损耗，高隔离度，寿命长，可靠性高等特点。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种微波同轴开关，特别涉及一种适用于微波测试系统 的单刀多掷微波同轴开关。
技术介绍
微波同轴开关主要适用在微波高频领域中，可通过电压或计算机编程自 动进行控制在微波电路中起到信号切换的作用，将信号从测量仪器传输至待测设备(DUT)中。现有的微波同轴开关大部分只能实现单刀双掷功能， 一点到多点的信号 切换能力有一定局限。另一方面，现有所用的微波同轴开关，其控制部分都是采用弹片接触式 结构进行控制的，将弹性件和接触点直接焊接在PCB电路板上；这样， 一方面加大了微波同轴开关生产过程的难度，不利于进行批量生产和流水作业， 并且生产的报废率很高，同时，采用弹片接触式结构弹片在长时间的工作中 会产生弹性疲劳，容易出现弹片接触不良等不稳定现象。因此，特别需要一种用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，以弥 补现有的微波同轴开关的不足之处。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于提供一种用于微波测试系统的单刀 多掷微波同轴开关，弥补现有的微波同轴开关的不足之处，具有低损耗、高 隔离度、寿命长、可靠性高等特点。本技术所要解决的技术问题可以通过以下技术方案来实现 用于微波测试系统的单刀多掷微本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；　复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；　一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与 两个常开触头对应的设有主ＳＭＡ阴接头和辅ＳＭＡ阴接头，主ＳＭＡ阴接头和辅ＳＭＡ阴接头分别连接外部受控电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周蕾，戴林华，冯林康，潘统连，
申请(专利权)人：上海华湘计算机通讯工程有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]