一种多芯片集成封装的LED制造技术

技术编号:4972435 阅读:261 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种多芯片集成封装的LED,涉及一种LED,在采用焊接进行固晶时,芯片因焊料融化时的张力而移位,减小接触面而影响热传递,使芯片产生过热点,限制LED性能的提升。本实用新型专利技术包括一LED基座、设于基座上的复数个LED芯片及连接芯片的导电件,其特征在于:所述的基座上方覆有银反射层,所述银反射层的上表面为芯片承载面,所述的芯片承载面上设有复数个向上开口用以插接芯片的容置腔;所述容置腔的侧壁为限制芯片移动的限位面,其底面为芯片承载面,所述容置腔的底部纳有将芯片固接于芯片承载面的焊锡层。设插接芯片的容置腔使芯片精确定位,焊接后的芯片整个底部与锡焊层充分接触,防止产生过热点,延长光源的使用寿命。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种多芯片集成封装的LED
本技术涉及一种LED,尤指一种多芯片集成封装的LED。
技术介绍
目前在半导体照明产业中,制作大功率半导体光源历来有两种方法。第一种方法 是把功率相对较小的多个发光二极管(以下简称LED)例如功率为1W的LED安放在一个灯 具内,成为一个功率较大的半导体照明灯具,第二种方法是把多个LED芯片安装在同一个 芯片承载面上,进行适当的电组合后,一起封装成一个功率较大的LED。随着导热、散热技术 的进步,采用第二种方法制作大功率LED光源越来越多。 当今集成封装的LED,其芯片常采用银浆层粘结,但银浆层导热率不高,目前世界 上最好的银胶它的导热率也只有2. 0w/mk,封装成LED热阻在8_10°C /V左右,再要降低难 度很大。而金属焊接可克服导热率低的问题,但随之带来其它方面的缺陷焊接时无法精确 固定芯片位置,因为焊料在熔化时由于自身的表面张力,会形成一个球形,使放在焊料上的 芯片受到拱力而产生移动,且这种移动是随机的,这就会造成焊接的缺陷,如图1所示,芯 片3与焊料2的接触面减小而影响热传递,芯片3易产生过热点,使其无法发挥正常功效, 上述缺陷限制了本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多芯片集成封装的LED,包括一LED基座(1)、设于基座(1)上的复数个LED芯片(3)及连接芯片(3)的导电件,其特征在于:所述的基座(1)上方覆有银反射层(7),所述银反射层(7)的上表面为芯片承载面,所述的芯片承载面上设有复数个向上开口用以插接芯片(3)的容置腔(4);所述容置腔(4)的侧壁为限制芯片(3)移动的限位面,其底面为芯片承载面,所述容置腔(4)的底部纳有将芯片(3)固接于芯片承载面的焊锡层(2)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:楼满娥郭邦俊
申请(专利权)人:浙江迈勒斯照明有限公司
类型:实用新型
国别省市:33[中国|浙江]

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