本实用新型专利技术涉及一种带压力调节的移动探针测试装置，目的在于提供一种能监测
和调节移动探针压力的移动探针测试装置。实现上述发明专利技术目的的技术方案是：一
种带压力调节的移动探针测试装置包括探头支架，在其基面上固定有探针，所述
移动探针测试装置还包括一个探针压力测控装置，用于测试探针在受力面上所受
的压力并控制压力。本实用新型专利技术的采用可解决移动探针测试中测试探头在接触到
电路板时，适当的控制高速测试过程中探头对电路板表面镀层的压力，减轻压痕，
提高测试速度并减少测试过程中的假测现象。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测装置，特别涉及一种移动探针测试装置。
技术介绍
现有的移动探针测试装置，移动探针通过接触测试焊盘和导通孔从而测试被 测PCB板的电性能，在测试过程中，探针在接触到电路板时，由于压力控制不当， 容易在电路板表面镀层产生压痕，当压力较大时会影响测试速度并产生假测现 象。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的缺陷，提供一种能监测和调节移动探针 压力的移动探针测试装置。实现上述专利技术目的的技术方案是 一种带压力调节的移动探针测试装置，包 括探头支架，在其基面上固定有探针，所述移动探针测试装置还包括一个探针压 力测控装置，用于测试探针在受力面上所受的压力并控制压力。所述探针压力测控装置的结构可以是所述探针采用可变形的弹性测试探 针，在探针的可变形基面表面设有反光带，在基面的上方设有基板，基板上带有 透光孔，在透光孔的正上方设有光电传感器，光电传感器的输出与控制设备连接。所述探针压力检测装置工作原理是探针接触被测印制电路板时，其基面受力产生形变，基面上的反光带落在透光孔正投影面内的面积产生变化，由反光带投射在光电传感器上的光的强度变化，光电传感器因此检测到探针压力的变 化信号，传送给控制设备可控制其压力的大小。所述光电传感器可以采用反射式光电耦合器，由探针上的反光带对光电耦合 器的发射管所发射的光电信号，通过透光孔直接反射到接受管上产生电压信号， 反光膜进入透光孔面积越大，信号越强，压力检测装置通过光电耦合器的电压变 化检测探头的压力大小。作为本技术的进一步改进，在所述基板上设有位置调节装置，用于调节 探针和被测电路板的相对位置，设置压力检测基点，达到调节压力目的。本技术通过在该探针上方设置压力测控装置，通过调节光电传感器和探 针上反光带之间的透光位置,使光电传感器感应的信号变化，控制设备根据信号 进行控制，达到调节测试探头压力的目的。本技术的采用可解决移动探针测 试中测试探头在接触到电路板时,适当的控制高速测试过程中探头对电路板表面 镀层的压力，减轻压痕，提高测试速度并减少测试过程中的假测现象。附图说明图1是本技术实施例1移动探针测试装置中探针压力检测装置的侧视图 图2是本技术实施例1A-A俯视图 图3是本技术实施例1B-B俯视图具体实施方式下面结合实施例做进一步说明。 实施例l如图1所示，移动探针测试装置中设有用轻铝材料制作的探头支架l，在该 支架上固定有弹性测试探针5。探针压力检测装置包括设在基面上方的基板2， 基板2上设有透光孔14,透光孔14正上方设有光电反射式耦合器4，光电反射式 耦合器4固定在光电反射式耦合器电路板3上，电路板3引出线与计算机相接。参考图2，图2是基面及探针结构示意图，探针5由固定螺钉9固定在支架 l上，探针5的引出线焊接在一椭圆形金属连接器11上，探头连接器ll通过探 头连接器固定螺钉10，固定在支架1上，该连接器与支架1绝缘。探针5及探 针座为一体，在其受力产生形变的弹性基面13上贴有反光较好的反光带12,以 便于反射式光电耦合器4接受其位置信号。通过随探针接触被测印制电路板时的 压力变形时，其反光带12通过透光孔的面积变化，使光电耦合器4的电压产生 变化，检测出探头5的压力大小。基面13上设有电路板固定螺钉7和基板固定 螺钉8。参考图3，图3是基板2结构示意图，基板2由基板固定螺钉8固定在支架1上，基板2左端有一透光孔14，由探针上的反光带12对光电耦合器的发射管 所发射的光电信号，通过透光孔14，直接反射到接受管上产生电压信号，反光 膜12进入透光孔面积越大，信号越强，也就是压力越大，通过调节螺钉6位置 达到调节压力目的。权利要求1、一种带压力调节的移动探针测试装置，包括探头支架，在其基面上固定有测试探针，其特征是，所述移动探针测试装置还包括一个探针压力测控装置，用于测试探针在受力面上所受的压力并调节压力。2、 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述探针压力测控装置的 结构是在探针的可变形基面表面设有反光带，在该基面的上方设有基板，基板 上带有透光 L，在透光孔的正上方设有光电传感器，光电传感器的输出与控制设 备连接。3、 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述探针为可变形的弹性 测试探针。4、 根据权利要求2所述的测试装置，其特征是，所述光电传感器采用反射 式光电耦合器。5、 根据权利要求2所述的测试装置，其特征是，所述测试探针为弹性测试 探针。6、 根据权利要求2所述的测试装置，其特征是，在所述基板上设有位置调 节装置。7、 根据权利要求2所述的测试装置，其特征是，所述测试探针与及探针座 为一体。8、 根据权利要求6所述的测试装置，其特征是，所述位置调节装置为调节 螺钉。专利摘要本技术涉及一种带压力调节的移动探针测试装置，目的在于提供一种能监测和调节移动探针压力的移动探针测试装置。实现上述专利技术目的的技术方案是一种带压力调节的移动探针测试装置包括探头支架，在其基面上固定有探针，所述移动探针测试装置还包括一个探针压力测控装置，用于测试探针在受力面上所受的压力并控制压力。本技术的采用可解决移动探针测试中测试探头在接触到电路板时，适当的控制高速测试过程中探头对电路板表面镀层的压力，减轻压痕，提高测试速度并减少测试过程中的假测现象。文档编号G01R31/28GK201298064SQ20082004023公开日2009年8月26日 申请日期2008年7月22日 优先权日2008年7月22日专利技术者王天安 申请人:南京金五环系统科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种带压力调节的移动探针测试装置，包括探头支架，在其基面上固定有测试探针，其特征是，所述移动探针测试装置还包括一个探针压力测控装置，用于测试探针在受力面上所受的压力并调节压力。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王天安，
申请(专利权)人：南京金五环系统科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：84
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