滤波器及其滤波方法技术

本发明专利技术提供了一种滤波器，包括一直流跟踪单元、一减法器以及一控制单元，直流跟踪单元用以提取一射频信号的直流成分，并据以产生一电平信号；减法器用以将所述射频信号减去所述电平信号，以产生一射频耦合信号；控制单元耦接于减法器与直流跟踪单元之间，用以根据所述射频耦合信号的电平变化来判断是否输出一设定信号至直流跟踪单元，以调整所述直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数。本发明专利技术还提供了一种适用于上述滤波器的滤波方法。采用本发明专利技术的滤波器及其滤波方法，根据射频耦合信号的电平变化来判断是否输出设定信号至直流跟踪单元，以调整直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数，可避免射频耦合信号因直流跟踪单元的频宽不足而产生的变形。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号处理技术，尤其涉及一种光学储存系统的。
技术介绍
对于光学储存系统来说，伺服控制器是利用光学读取头上的光传感器所产生的聚 焦误差(Focus Error, FE)信号、跟踪误差(Tracking Error, TE)信号以及射频(Radio Frequency, RF)信号，来进行各项特性参数的调整与数据的判读。其中，光传感器所产生 的射频信号会先经由滤波器处理，由滤波器处理后的信号输出至后端的数据回路(data loop)以解调出调变信号。 图1为现有光学储存系统的之滤波器的结构方块示意图。现结合参照图l，对现有 光储存系统的滤波器的结构及其滤波方法进行说明，具体如下滤波器100包括一直流跟 踪单元(DC tracking unit) 110与一减法器120。在整体运作上，光传感器检测产生所侦测 到的射频信号RF_IN1输出至滤波器100的直流跟踪单元110及减法器120 ;直流跟踪单元 110取出射频信号RF_IN1中的直流成分(DC component)，以产生一电平信号RF—DC1，输出 电平信号RF_DC1至减法器102 ;减法器120将射频信号RF_IN1减去电平信号RF_DC1，以产 生一射频耦合信号RF_0UT1，也就是RF_0UT1 = RF_IN1_RF_DC1，减法器120输出射频耦合 信号至后端的数据回路101。借此，后端的数据回路101将对射频耦合信号RF_0UT1进行解 调，以产生调变信号。 值得注意的是，图2为用以说明图1的滤波器的信号时序图，请参照图l与图2。 当射频信号RF—IN1的直流电平产生变化时，如图2中时间点tll所示，直流跟踪单元110会 受限于本身的频宽而无法及时提取直流成分。此外，当射频信号RFJN1瞬间恢复正常时， 如图2中时间点tl2所示，由于直流跟踪单元110可能会有一定的反应时延，进而致使其输 出的电平信号RF_DC_1无法瞬间恢复至正常电平。此时，射频耦合信号RFJ)UT1将出现如 图2的标号210所示的变形现象。 换言之，一般现有的滤波器为了避免正常射频信号RF_IN1经过直流跟踪单元110 处理后产生过大的抖动(jitter)，通常直流跟踪单元110的频宽不会太高。然而，一旦射频 信号RF_IN1发生上述的状况，射频耦合信号RF_0UT1往往会受限于直流跟踪单元110的频 宽不足而产生变形，进而影响光学储存系统的读碟性能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能够避免射频耦合信号变形的。 本专利技术提供一种滤波器，用以在射频信号的直流电平产生变化时，通过控制单元 调整直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数，以正确地去除射频信号中变动的直流电 平，避免射频耦合信号的变形。 本专利技术提供一种滤波方法，用以在射频信号的直流电平产生变化时，通过设定信 号来调整直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数，以正确地去除射频信号中变动的直流4电平，避免射频耦合信号的变形。 本专利技术提出一种滤波器，包括一直流跟踪单元、一减法器以及一控制单元。直流跟 踪单元用以提取一射频信号的直流成分，并据以产生一电平信号。减法器用以将射频信号 减去电平信号，以产生一射频耦合信号。此外，控制单元用以参照射频耦合信号的电平变化 判断是否输出一设定信号至直流跟踪单元，以调整直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参 数。 在本专利技术的一实施例中，上述的控制单元包括一比较器以及一直流保护单元。其 中，比较器以一参考信号为基准，将射频耦合信号的电平与参考信号比较产生一 比较信号。 再者，直流保护单元以一时钟信号为基准来计数比较信号，以获取一计数值。进一步，直流 保护单元判断计数值的数值是否落在一预设的计数范围之外，且在计数值的数值落在预设 的计数范围之外时，输出设定信号至直流跟踪单元。 从另一观点来看，本专利技术提出一种滤波方法，适用于一光学储存系统中的一滤波 器，滤波器包括一直流跟踪单元与一减法器，且滤波方法包括下列步骤首先，通过直流跟 踪单元来提取一射频信号的直流成分，并据以产生一电平信号；其次，利用减法器将射频信 号减去电平信号，以产生一射频耦合信号；最后，根据射频耦合信号的电平变化来判断是否 输出一设定信号至直流跟踪单元，以调整直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数。 基于上述内容，本专利技术是根据射频耦合信号的电平变化来决定是否输出一设定信 号至直流跟踪单元。借此，当射频信号的直流电平产生变化时，直流跟踪单元将可根据所接 收到的设定信号来调整其特性参数，可以达到正确地去除射频信号中变动的直流电平的效 果。相应地，当射频信号的直流电平恢复正常时，直流跟踪单元的特性参数将被切换至正常 值。如此一来，与现有技术相比，本专利技术可避免射频耦合信号因直流跟踪单元的频宽不足而 产生的变形。附图说明100滤波器101数据回路110直流跟踪单元120减法器210标号300滤波器310直流跟踪单元320减法器330控制单元331比较器332直流保护单元RF—IN1射频信号RF—IN3射频信号RF_DC1电平信号RF—DC3电平信号RF_0UT1射频耦合信号RF—0UT3射频耦合信号til时间点tl2时间点t41 t44时间点COM3比较信号CLK3时钟信号SCT3设定信号TH1临界值TH2临界值VSH预设偏移值S510 S560用以说明图5实施例的各步骤流程具体实施例方式为使本专利技术的目的、技术方案、及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例， 对本专利技术进一步详细说明。 图3绘示为依据本专利技术一实施例的滤波器的结构示意图。参照图3，滤波器300包 括一直流跟踪单元310、一减法器320以及一控制单元330，且控制单元330包括一比较器 331与一直流保护单元332。其中，滤波器300适用于一光学储存系统，故滤波器300会接 收到光学储存系统中的一射频信号RF_IN3。此外，减法器320耦接至直流跟踪单元310，且 直流保护单元332耦接在减法器320与直流跟踪单元310之间。 在整体操作上，直流跟踪单元310具备可调整的一特性参数；特性参数为影响 系统频宽的参数，也就是影响直流跟踪单元310频宽的参数，例如跟踪速度(tracking speed)、高通滤波器(High Pass Filter, HPF)的转折频率、HPF的截止频率等。当射频信 号RF_IN3输出至滤波器300时，直流跟踪单元310会根据其特性参数提取出射频信号RF_ IN3的直流成分，并据以产生一电平信号RF_DC3 ;比如当特性参数为跟踪速度时，直流跟 踪单元310会根据其跟踪速度提取出射频信号RF_IN3的直流成分，并据以产生一电平信号 RF_DC3 ;当特性参数为高通滤波器的转折频率时，直流跟踪单元310会根据HPF的转折频率 提取出射频信号RF_IN3的直流成分，并据以产生一电平信号RF_DC3 ;当特性参数为高通滤 波器的截止频率时，直流跟踪单元310会根据HPF的截止频率提取出射频信号RF_IN3的直 流成分，并据以产生一电平信号RF_DC3。另一方面，减法器320会接收射频信号RF_IN3与 电平信号RF_DC3，并将射频信号RF_IN3减去电平信号RF_DC3，以产生一射频耦合信号RF_ 0UT3。此外，减法器320本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滤波器，适用于一光学储存系统，其特征在于，该滤波器包括：一直流跟踪单元，用以提取一射频信号的直流成分，并据以产生一电平信号；一减法器，用以将所述射频信号减去所述电平信号，以产生一射频耦合信号；以及一控制单元，耦接于所述减法器与所述直流跟踪单元之间，用以根据所述射频耦合信号的电平变化来判断是否输出一设定信号至所述直流跟踪单元，以调整所述直流跟踪单元的一影响其频宽的特性参数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘世贤，陈政雄，
申请(专利权)人：凌阳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]